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방사선 제1 검출기와 제2 검출기가 함께 구비된 방사능 측정장치에 시료를 제1 속도로 공급하는 제1 단계;상기 제1 검출기로 시료의 방사선을 측정하는 제2 단계;상기 제1 검출기의 측정값이 규제해제 준위인 0
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제1항에 있어서,상기 제1 단계 이전에, 상기 제1 검출기와 제2 검출기의 온도변화에 의한 총 계수율 관계를 구하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상호보완 검출기 조합을 이용한 방사능 오염 측정방법
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제1항에 있어서,상기 총 계수율 관계가 소정 범위를 벗어나는 경우에는 경고신호를 발생하거나 장치의 가동을 정지시키는 것을 특징으로 하는 상호보완 검출기 조합을 이용한 방사능 오염 측정방법
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제1항, 제4항 및 제5항 중 어느 한 항에 있어서,제1 속도로 시료가 공급되는 경우에는 제1 검출기로 방사선의 총 계수율을 측정하고, 제2 속도 또는 제3 속도로 시료가 공급되는 경우에는 제2 검출기로 방사선의 총 계수율과 핵종을 측정하는 것을 특징으로 하는 상호보완 검출기 조합을 이용한 방사능 오염 측정방법
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제1항, 제4항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제1 검출기는 PVT(polyvinyltoluene) 검출기이고, 상기 제2 검출기는 NaI(TI) 섬광검출기인 것을 특징으로 하는 상호보완 검출기 조합을 이용한 방사능 오염 측정방법
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제1항, 제4항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제1 속도는 1
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제1항, 제4항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,상기 방사능 측정장치는, 소정의 크기를 가지며 내부가 관통되어 공간부를 형성하는 본체부(110), 상기 공간부 내부 바닥과 천정에 구비된 PVT(polyvinyltoluene) 검출기(120) 및 NaI(TI) 섬광검출기(130)를 포함하는 것을 특징으로 하는 상호보완 검출기 조합을 이용한 방사능 오염 측정방법
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제9항에 있어서,상기 NaI(TI) 섬광검출기는 상기 본체부 상부의 홈부(111)에 구비된 것을 특징으로 하는 상호보완 검출기 조합을 이용한 방사능 오염 측정방법
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