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고분자 물질을 포함하는 기지체 및 상기 기지체 표면에 형성된 홀(hole)을 포함하고, 상기 홀의 표면에 금속 입자가 부착되어 있는 광학체의 홀 내부에, 시료용액을 투입하는 단계(단계 1); 및시료용액이 투입된 홀 내부로 레이저 광을 조사하는 단계(단계 2);를 포함하는 표면증강라만 분석방법에 있어서,상기 광학체는,고분자 물질을 포함하는 제1 용액을 준비하는 단계(단계 a); 및상기 제1 용액에, 금속염을 포함하는 제2 용액 방울을 투입하되 상기 제1 용액에 투입된 제2 용액 방울은 상기 제1 용액의 수면에 접하여 배치되는 단계(단계 b);를 포함하여 제조되는 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석방법
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제1항에 있어서,상기 고분자 물질은 폴리다이메틸실록산 (PDMS: Polydimethylsiloxane), 폴리우레탄 아크릴레이트 (PUA: Polyurethane acrylate), 퍼플루오르폴리에터 (PFPE: Perfluoropolyether), 폴리에스테르 아크릴레이트 (Polyester acrylate), (PCL: Polycaprolactone), 폴리락트산(PLA: Polylactic acid), 에틸셀룰로스 (EC: Ethylcellulose), 폴리스티렌 (PS: Polystyrene), 폴리테트라 플루오로에틸렌 (PTFE: Polytetrafluoroethylene), 폴리프로필렌-에폭시(PP-epoxy) 및 폴리 알콕시실란 오르가노겔(Poly(alkoxysilane) organogels)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상인 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석방법
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제1항에 있어서,상기 시료용액은 금속 나노입자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석방법
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제3항에 있어서,상기 금속 나노입자는 나노로드(Nanorod) 형태인 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석방법
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삭제
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제1항에 있어서,상기 제2 용액 방울의 부피는 0
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제1항에 있어서,상기 제2 용액 방울은 금속염이 0
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제1항에 있어서,상기 제1 용액에, 금속염을 포함하는 제2 용액 방울을 투입하는 단계는, 상기 금속염의 금속이 상기 제1 용액 및 제2 용액의 계면에서 환원되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석방법
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제1항에 있어서,상기 제1 용액의 밀도가 상기 제2 용액의 밀도보다 크거나 같은 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석방법
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제1항에 있어서,상기 제1 용액의 표면 장력이 상기 제2 용액의 표면 장력보다 작은 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석방법
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제1항에 있어서,상기 제1 용액에, 금속염을 포함하는 제2 용액 방울을 투입하는 단계 다음에, 상기 제1 용액이 경화되는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석방법
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고분자 물질을 포함하는 기지체 및 상기 기지체 표면에 형성된 홀(hole)을 포함하고, 상기 홀의 표면에 금속 입자가 부착되어 있는 광학체의 홀 내부에, 시료용액을 투입하는 단계(단계 1); 및시료용액이 투입된 홀 내부로 레이저 광을 조사하는 단계(단계 2);를 포함하는, 시료용액 내 분석대상물질의 존재 여부를 판단하기 위한 검출방법에 있어서,상기 광학체는,고분자 물질을 포함하는 제1 용액을 준비하는 단계(단계 a); 및상기 제1 용액에, 금속염을 포함하는 제2 용액 방울을 투입하되 상기 제1 용액에 투입된 제2 용액 방울은 상기 제1 용액의 수면에 접하여 배치되는 단계(단계 b);를 포함하여 제조되는 것을 특징으로 하는 시료용액 내 분석대상물질의 존재 여부를 판단하기 위한 검출방법
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고분자 물질을 포함하는 기지체; 및상기 기지체 표면에 형성된 홀(hole)을 포함하고, 상기 홀의 표면에 금속 입자가 부착되어 있는 광학체를 포함하는, 표면증강라만 분석용 키트에 있어서,상기 광학체는,고분자 물질을 포함하는 제1 용액을 준비하는 단계(단계 a); 및상기 제1 용액에, 금속염을 포함하는 제2 용액 방울을 투입하되 상기 제1 용액에 투입된 제2 용액 방울은 상기 제1 용액의 수면에 접하여 배치되는 단계(단계 b);를 포함하여 제조되는 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석용 키트
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제13항에 있어서,상기 표면증강라만 분석용 키트는 금속 나노입자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석용 키트
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제13항에 있어서,상기 표면증강라만 분석용 키트는 시료용액을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석용 키트
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제13항에 있어서,상기 표면증강라만 분석용 키트는 라만 분광 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석용 키트
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제13항에 있어서,상기 표면증강라만 분석용 키트는 금속 나노입자, 시료용액 및 라만 분광 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표면증강라만 분석용 키트
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