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프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 방법에 있어서,프로토콜의 포멧에 대한 스펙을 분석하는 단계;상기 스펙의 분석 결과에 기초하여 상기 프로토콜의 복수의 필드 중 취약성 분석을 수행할 후보 테스트 필드를 선별하는 단계;취약성 분석의 대상으로 선별된 상기 후보 테스트 필드 각각의 취약점 점수를 계산하는 단계;상기 후보 테스트 필드와 연계하여 부여된 취약점 점수에 기초하여 상기 후보 테스트 필드 중 상기 취약성 분석을 수행할 테스트 필드를 선택하는 단계; 및상기 테스트 필드에 입력되는 테스트 입력값을 생성하여 취약성 분석을 수행하는 단계,를 포함하되,상기 취약점 점수를 계산하는 단계는상기 취약점 점수를 계산하기 위해 상기 후보 테스트 필드에 입력된 상기 테스트 입력값을 포함하는 테스트 입력 셋트의 분포값을 연산하는 단계; 및 상기 테스트 입력 셋트의 무작위성값을 연산하는 단계를 포함하고,상기 테스트 입력 셋트의 분포값을 연산하는 단계는,상기 테스트 입력값을 생성하기 이전에 상기 테스트 입력 셋트에 포함된 테스트 입력값의 분산, 상기 테스트 입력값을 생성하기 이전에 상기 테스트 입력 셋트에 포함된 테스트 입력값의 평균 및 상기 생성된 테스트 입력값을 고려하여 상기 테스트 입력 셋트의 분포값을 연산하는 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 방법
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제 1항에 있어서,상기 테스트 입력 셋트의 분포값을 연산하는 단계는 수학식 1에 기초하여 수행되고,[수학식 1]V’ = - 여기서 V는 상기 테스트 입력값을 생성하기 이전에 상기 테스트 입력 셋트에 포함된 테스트 입력값의 분산이고, m은 상기 테스트 입력값을 생성하기 이전에 상기 테스트 입력 셋트에 포함된 테스트 입력값의 평균이며, X는 상기 생성된 테스트 입력값인 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 방법
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제 1항에 있어서,상기 무작위성값을 연산하는 단계는 수학식 2에 기초하여 수행되고,[수학식2]여기서 n은 2m이고, m은 미리 결정된 유의 수준이고, 은 m-bit의 비트열이 가질 수 있는 모든 비트열의 집합이고, 는 가 상기 생성된 테스트 입력값의 비트열에 존재할 확률인 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 방법
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제 5항에 있어서,상기 무작위성값을 연산하는 단계는,상기 수학식 2에 기초하여 연산된 무작위성값을 수학식 3에 기초하여 0~1사이의 값으로 변환되는 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 방법
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제 1항에 있어서,상기 취약점 점수를 계산하는 단계는,수학식 4에 기초하여 상기 후보 테스트 필드별 취약점 점수가 계산되고,[수학식 4]여기서 α는 상기 무작위성값의 가중치이고 β는 상기 분산값 가중치이고, 취약성 분석의 횟수가 증가할 수록 상기 β는 증가하고 상기 α는 감소하는 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 방법
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제 7항에 있어서,상기 테스트 필드를 선택하는 단계는,상기 후보 테스트 필드별 취약점 점수 중 가장 낮은 취약점 점수의 테스트 필드를 선택하는 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 방법
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제 8항에 있어서,상기 생성된 테스트 입력값이 상기 후보 테스트 필드 각각의 취약점 점수의 계산에 사용되도록, 상기 취약점 점수를 계산하는 단계, 상기 테스트 필드를 선택하는 단계 및 상기 테스트 입력값을 생성하여 취약성 분석을 수행하는 단계가 재귀적으로 수행되는 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 방법
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프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 장치에 있어서,프로토콜의 포멧에 대한 스펙을 분석하는 스펙 분석부;상기 스펙의 분석 결과에 기초하여 상기 프로토콜의 복수의 필드 중 취약성 분석을 수행할 후보 테스트 필드를 선별하는 테스트 필드 선별부;취약성 분석의 대상으로 선별된 상기 후보 테스트 필드 각각의 취약점 점수를 계산하는 계산부;상기 취약점 점수에 기초하여 상기 후보 테스트 필드 중 상기 취약성 분석을 수행할 상기 테스트 필드를 선택하는 테스트 필드 선택부; 및상기 테스트 필드에 입력되는 테스트 입력값을 생성하여 취약성 분석을 수행하는 취약성 분석부를 포함하되,상기 계산부는,상기 취약점 점수를 계산하기 위해 상기 후보 테스트 필드에 입력된 상기 테스트 입력값을 포함하는 테스트 입력 셋트의 분포값을 연산하고, 상기 테스트 입력 셋트의 무작위성값을 연산하되, 상기 테스트 입력값을 생성하기 이전에 상기 테스트 입력 셋트에 포함된 테스트 입력값의 분산, 상기 테스트 입력값을 생성하기 이전에 상기 테스트 입력 셋트에 포함된 테스트 입력값의 평균 및 상기 생성된 테스트 입력값을 고려하여 상기 테스트 입력 셋트의 분포값을 연산하는 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 장치
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제 10항에 있어서,상기 계산부는,수학식 5에 기초하여 상기 테스트 입력 셋트의 분포값을 연산하고,[수학식 5]V’ = - 여기서 V는 상기 테스트 입력값을 생성하기 이전에 상기 테스트 입력 셋트에 포함된 테스트 입력값의 분산이고, m은 상기 테스트 입력값을 생성하기 이전에 상기 테스트 입력 셋트에 포함된 테스트 입력값의 평균이며, X는 상기 생성된 테스트 입력값인 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 장치
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제 10항에 있어서,상기 계산부는,수학식 6에 기초하여 상기 무작위성값을 연산하되,[수학식6]여기서 n은 2m이고, m은 미리 결정된 유의 수준이고, 은 m-bit의 비트열이 가질 수 있는 모든 비트열의 집합이고, 는 가 상기 생성된 테스트 입력값의 비트열에 존재할 확률인 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 장치
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제 12항에 있어서,상기 계산부는,수학식 7에 기초하여 상기 후보 테스트 필드 별 취약점 점수를 계산하고,상기 테스트 필드 선택부는, 상기 후보 테스트 필드 별 취약점 점수 중 가장 낮은 취약점 점수의 테스트 필드를 선택하되,[수학식 7]여기서 α는 상기 무작위성값의 가중치이고 β는 상기 분산값 가중치이고, 취약성 분석의 횟수가 증가할 수록 상기 β는 증가하고 상기 α는 감소하는 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 장치
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제14항에 있어서,상기 생성된 테스트 입력값이 상기 후보 테스트 필드 각각의 취약점 점수의 계산에 사용되도록, 상기 계산부, 상기 필드 선택부 및 상기 취약성 분석부가 재귀적으로 동작되는 것인, 프로토콜의 취약성 분석을 위한 테스트 장치
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