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다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2019028076
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서는, 웨이퍼 상에 형성된 기준저항; 상기 웨이퍼 상에서 상기 기준저항의 적어도 일단으로부터 연장되어 형성되고, 제1물질로 이루어지며, 1개 이상의 측정접점을 포함하는 제1열전부; 상기 웨이퍼 상에서 상기 제1열전부와는 다른 층에 위치하고, 상기 제1물질과는 다른 제2물질로 이루어지며, 2개 이상의 열전배선을 포함하는 제2열전부; 상기 제1열전부와 제2열전부 사이에 배치되는 층간절연층; 및 상기 층간절연층을 관통하여, 상기 기준저항의 적어도 일단 및 상기 1개 이상의 측정접점 각각을 상기 2개 이상의 열전배선 일단에 각각 연결시키는 도전플러그;를 포함하는 것을 특징으로 하여, 상기 제1열전부와 제2열전부가 서로 다른 층에 형성되기 때문에, 서로 방해를 받지 않고 열전부를 웨이퍼 전면적에 고르게 설치할 수 있으며, 이를 통해 웨이퍼 전면적에 대해서 온도 균일도를 세밀하게 파악할 수 있다.
Int. CL H01L 21/66 (2006.01.01) H01L 21/67 (2006.01.01) H01L 35/04 (2006.01.01) H01L 35/14 (2006.01.01)
CPC H01L 22/12(2013.01) H01L 22/12(2013.01) H01L 22/12(2013.01) H01L 22/12(2013.01) H01L 22/12(2013.01) H01L 22/12(2013.01)
출원번호/일자 1020170024523 (2017.02.24)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1746560-0000 (2017.06.07)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170614) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.02.24)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김태완 대한민국 대전광역시 유성구
2 강상우 대한민국 대전광역시 유성구
3 김용규 대한민국 대전광역시 서구
4 권수용 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영호 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길* (역삼동, 조이타워), ***호(대신특허사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.02.24 수리 (Accepted) 1-1-2017-0191417-49
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2017-0196405-63
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2017.03.02 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2017.03.06 수리 (Accepted) 9-1-2017-0006293-33
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.03.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0211207-74
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.04.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0351996-61
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.04.11 수리 (Accepted) 1-1-2017-0351995-15
8 등록결정서
Decision to grant
2017.05.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0380331-46
9 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.11.02 수리 (Accepted) 1-1-2018-1088036-21
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
13 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2019.02.18 수리 (Accepted) 1-1-2019-0164978-87
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
웨이퍼 상에 형성된 기준저항;상기 웨이퍼 상에서 상기 기준저항의 적어도 일단으로부터 연장되어 형성되고, 제1물질로 이루어지며, 1개 이상의 측정접점을 포함하는 제1열전부;상기 웨이퍼 상에서 상기 제1열전부와는 다른 층에 위치하고, 상기 제1물질과는 다른 제2물질로 이루어지며, 2개 이상의 열전배선을 포함하는 제2열전부;상기 제1열전부와 제2열전부 사이에 배치되는 층간절연층; 및 상기 층간절연층을 관통하여, 상기 기준저항의 적어도 일단 및 상기 1개 이상의 측정접점 각각을 상기 2개 이상의 열전배선 일단에 각각 연결시키는 도전플러그;를 포함하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
2 2
제1항에 있어서, 상기 제1열전부와 제2열전부는 열전쌍(thermocouple)을 형성하는 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
3 3
제1항에 있어서, 상기 제1열전부와 제2열전부는 각각 서로 다른 순금속으로 이루어진 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
4 4
제1항에 있어서, 상기 기준저항의 일단의 온도를 기준온도로 하고, 상기 기준저항의 일단과 상기 측정접점 간의 전위차를 기반으로 상기 측정접점의 온도를 측정하는 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
5 5
제1항에 있어서, 상기 웨이퍼 상에서 상기 기준저항의 양단에 연결된 기준저항측정배선을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
6 6
제1항에 있어서, 상기 2개 이상의 열전배선 타단이 취합되는 전압측정단자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
7 7
제1항에 있어서, 상기 기준저항은 상기 웨이퍼의 가운데 영역에 형성된 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
8 8
제7항에 있어서, 상기 기준저항은 하나의 저항이 구불구불하게 연결된 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
9 9
제1항에 있어서, 상기 제1열전부는 상기 기준저항의 양단으로부터 연장되어 형성된 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
10 10
제1항에 있어서, 상기 제1열전부는 제1물질로 이루어진 열전배선으로 구성되고, 상기 열전배선 상에는 2개 이상의 측정접점이 포함된 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
11 11
제10항에 있어서, 상기 2개 이상의 측정접점은 상기 열전배선 상에서 일정한 간격으로 떨어져서 위치하는 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
12 12
제1항에 있어서, 상기 제1열전부는 상기 기준저항의 적어도 일단으로부터 연장되어 형성된 메인열전부와, 상기 메인열전부로부터 분지된 분지열전부로 이루어진 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
13 13
제1항에 있어서, 상기 층간절연층은 상기 도전플러그가 관통하는 비아홀을 갖는 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
14 14
제1항에 있어서, 상기 기준저항 및 제1열전부가 웨이퍼 상에서 상기 제2열전부보다 위에 위치하는 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
15 15
제1항에 있어서, 상기 기준저항 및 제1열전부는 웨이퍼 표면에 노출되어 설치된 것을 특징으로 하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서
16 16
제1항 내지 제15항 중 어느 한 항에 따른 웨이퍼 센서와,상기 웨이퍼 센서가 올려지는 플레이트를 포함하는 웨이퍼 온도측정 시스템
17 17
웨이퍼 상에 제2물질로 이루어지고 2개 이상의 열전배선을 포함하는 제2열전부를 형성하는 단계;상기 제2열전부 상에 층간절연층을 형성하는 단계;상기 2개 이상의 열전배선 각각의 일단이 노출되도록 상기 층간절연층에 2개 이상의 비아홀을 형성하는 단계;상기 2개 이상의 열전배선 각각과의 전기적 접속을 위하여 상기 비아홀에 도전플러그를 형성하는 단계; 및기준저항과 상기 기준저항의 적어도 일단으로부터 연장되어 형성되고 상기 제2물질과는 다른 제1물질로 이루어지며 1개 이상의 측정접점을 포함하는 열전배선을 상기 층간절연층 상에 형성하되, 상기 기준저항의 적어도 일단과 1개 이상의 측정접점 각각을 상기 도전플러그에 전기적으로 접속시켜서, 제1열전부를 형성하는 단계;를 포함하는 다층 저항-열전식 온도측정 웨이퍼 센서의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국표준과학연구원 국가연개발사업 3-3-1차세대초박막공정용측정기술개발