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레이저 다이오드 구조 및 제조 방법

  • 기술번호 : KST2019028899
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 일부 실시예에 따르면, 제1 방열부 상면의 중심부를 덮는 제1 금속층, 제1 방열부 상면의 가장자리부를 덮고, 제1 금속층의 양 측벽과 접하는 제1 절연층, 제1 금속층 및 제1 절연층 상에 차례로 적층된 제1 반도체층, 활성층, 제2 반도체층 및 제2 방열부를 포함하는 고출력 레이저 다이오드가 개시된다.
Int. CL H01S 5/024 (2006.01.01) H01S 5/042 (2006.01.01)
CPC H01S 5/02461(2013.01) H01S 5/02461(2013.01)
출원번호/일자 1020180063785 (2018.06.01)
출원인 연세대학교 산학협력단, 국방과학연구소
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0137521 (2019.12.11) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.06.01)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
2 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김영현 서울특별시 서대문구
2 최우영 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
2 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.06.01 수리 (Accepted) 1-1-2018-0544247-09
2 보정요구서
Request for Amendment
2018.06.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2018-0090175-21
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.06.25 수리 (Accepted) 1-1-2018-0619327-90
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.12.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.03.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2019-0076969-04
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.07.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0525768-65
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.09.23 수리 (Accepted) 1-1-2019-0971079-63
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2020.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0075171-54
9 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2020.02.27 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2020-0210152-29
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2020.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2020-0210151-84
11 등록결정서
Decision to Grant Registration
2020.03.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0192949-24
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 방열부 상면의 중심부를 덮는 제1 금속층;상기 제1 방열부 상면의 가장자리부를 덮고, 상기 제1 금속층의 양 측벽과 접하는 제1 절연층;상기 제1 금속층 및 상기 제1 절연층 상에, 차례로 적층된 제1 반도체층, 활성층, 제2 반도체층 및 제2 방열부;상기 제2 반도체층의 중심부와 상기 제2 방열부 사이에 배치된 제2 금속층; 및상기 제2 반도체층의 가장자리부와 상기 제2 방열부 사이에 배치되고, 상기 제2 금속층의 양 측벽과 접하는 제2 절연층;을 포함하고,광도파로의 중심부에서 발생하는 열 렌즈 효과(thermal lensing effect)를 방지하기 위하여 상기 제1 금속층은 상기 광도파로의 중심부에서 발생하는 열을 상기 제1 방열부로 방출하고, 상기 제2 금속층은 상기 광도파로의 중심부에서 발생하는 열을 상기 제2 방열부로 방출하는, 고출력 레이저 다이오드
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
제 1항에 있어서, 상기 제1 금속층은 Cu, Ni, Ag, Mo, Al, Au, Nb, W, Ti, Cr, Ta,Al, Pd, Pt, Si 중 적어도 한 성분 이상을 포함하는 금속, 합금 또는 고용체이고 상기 제1 절연층은 SiOx, SixNy, AlxOy 또는 HfxOy 층(x, y 는 자연수)인 고출력 레이저 다이오드
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 제1 반도체층은 제1 클래드층 및 제1 SCH(Separate Confinement Heterostructure)층을 포함하고, 상기 제2 반도체층은 제2 클래드층 및 제2 SCH(Separate Confinement Heterostructure)층을 포함하는 고출력 레이저 다이오드
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 제1 SCH층 및 상기 제2 SCH층은 GaiInjPk층(i+j+k=1, 0003c#i003c#1, 0003c#j003c#1, 0003c#k003c#1)이고, 상기 제1 클래드층은 AlaGabIncP N-type 반도체층(a+b+c=1, 0003c#a003c#1, 0003c#b003c#1, 0003c#c003c#1)이고 상기 제2 클래드층은 AleGafIngP P-type 반도체층(e+f+g =1, 0003c#e003c#1, 0003c#f003c#1, 0003c#g003c#1)이거나, 상기 제1 클래드층은 AlaGabIncP P-type 반도체층(a+b+c=1, 0003c#a003c#1, 0003c#b003c#1, 0003c#c003c#1)이고 상기 제2 클래드층은 AleGafIngP N-type 반도체층(e+f+g=1, 0003c#e003c#1, 0003c#f003c#1, 0003c#g003c#1)인 고출력 레이저 다이오드
8 8
기판 상에 순차적으로 제1 반도체층, 활성층 및 제2 반도체층을 형성하는 단계;상기 제2 반도체층 상면의 중심부를 덮는 제2 금속층을 형성하는 단계; 상기 제2 반도체층 상면의 가장자리부를 덮고 상기 제2 금속층의 양 측벽과 접하는 제2 절연층을 형성하는 단계;상기 기판을 제거하는 단계; 상기 제1 반도체층 하부의 중심부에 제1 금속층 및 상기 제1 반도체층 하부의 가장자리부에 배치되고 상기 제1 금속층의 양 측벽과 접하는 제1 절연층을 형성하는 단계; 상기 제1 금속층 및 상기 제1 절연층의 하부에 제1 방열부를 형성하는 단계; 상기 제2 금속층 및 상기 제2 절연층의 상부에 제2 방열부를 형성하는 단계;를 포함하고,광도파로의 중심부에서 발생하는 열 렌즈 효과(thermal lensing effect)를 방지하기 위하여 상기 제1 금속층은 상기 광도파로의 중심부에서 발생하는 열을 상기 제1 방열부로 방출하고, 상기 제2 금속층은 상기 광도파로의 중심부에서 발생하는 열을 상기 제2 방열부로 방출하는, 고출력 레이저 다이오드의 제조 방법
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 제1 반도체층, 활성층 및 제2 반도체층을 형성하는 단계는상기 기판과 상기 제1 반도체층 사이에, 순차적으로 희생층(sacrificial layer) 및 식각 정지층(etch stop layer)을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 제1 금속층 및 상기 제1 절연층을 형성하는 단계는 상기 식각 정지층 하부의 중심부에 제1 금속층을 접합하고 상기 식각 정지층 하부의 가장자리부에 제1 절연층을 접합하는 고출력 레이저 다이오드의 제조 방법
10 10
제 9항에 있어서, 상기 기판을 제거하는 단계는, Epitaxial liftoff 또는 Laser liftoff 공정에 의해 상기 희생층을 식각하는 고출력 레이저 다이오드의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.