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회로 성능 모니터링 장치

  • 기술번호 : KST2019028947
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에서는 회로의 정상동작 중에 성능 저하를 감지하여 오류를 예측 할 수 있는 모니터링 기법을 제시한다. 모니터링을 위한 별도의 회로를 추가하지 않고 기존의 바운더리 스캔셀과 TAP 제어기를 일부 변경하여 IEEE 1149.1 바운더리 스캔 기반의 향상된 성능을 가지는 회로 성능 모니터링 장치를 개시한다.
Int. CL G01R 31/3185 (2006.01.01) G01R 31/317 (2006.01.01) G01R 31/28 (2006.01.01)
CPC G01R 31/318533(2013.01) G01R 31/318533(2013.01) G01R 31/318533(2013.01) G01R 31/318533(2013.01) G01R 31/318533(2013.01)
출원번호/일자 1020160024147 (2016.02.29)
출원인 한밭대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1681153-0000 (2016.11.24)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20161201) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.02.29)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한밭대학교 산학협력단 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이현빈 대한민국 대전광역시 서구
2 박정석 대한민국 충청남도 서산시 한마음*로 *
3 강태근 대한민국 대전광역시 동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충정 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로***,*층(역삼동,성보역삼빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한밭대학교 산학협력단 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.02.29 수리 (Accepted) 1-1-2016-0196239-45
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.09.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.11.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2016-0153335-04
4 등록결정서
Decision to grant
2016.11.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0832910-62
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.04.14 수리 (Accepted) 4-1-2017-5058417-94
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2017-5065033-29
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.12 수리 (Accepted) 4-1-2019-5072792-98
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
모니터링 대상 회로(CUM)의 입력부에 연결되고, 하나 이상의 바운더리 스캔셀을 포함하는 바운더리 스캔 레지스터;상기 모니터링 대상 회로의 출력부에 연결되고, 직렬 연결된 하나 이상의 PM 바운더리 스캔셀을 포함하는 PM 바운더리 스캔 레지스터(12); 및ShiftDR 신호, ClockDR 신호 및 UpdateDR 신호를 출력하여 상기 바운더리 스캔 레지스터로 전송하는 신호 제어부(11)를 포함하되,상기 PM 바운더리 스캔셀(121)은,외부로부터 수신한 PM_Sel 신호에 따라 SI(Scan In) 신호 또는 제1 입력 신호 중 어느 하나를 선택적으로 출력하는 제1 멀티플렉서(1211);상기 ShiftDR 신호에 따라 PI 신호 또는 상기 제1 멀티플렉서(1211)의 출력 신호 중 어느 하나를 선택적으로 출력하는 제2 멀티플렉서(1212) - 상기 PI 신호는 모니터링 대상 회로의 출력 신호임;상기 ClockDR 신호에 동기 되어 상기 제2 멀티플렉서(1212)의 출력 신호를 래치(latch)하는 제1 플립플롭(1213);상기 PM_Sel 신호에 따라 상기 제1 플립플롭(1213)의 출력 신호 또는 상기 PI 신호 중 어느 하나를 선택적으로 출력하는 제3 멀티플렉서(1214);상기 UpdateDR 신호에 동기 되어 상기 제3 멀티플렉서(1214)의 출력 신호를 래치하는 제2 플립플롭(1215); 및외부로부터 수신한 Mode 신호에 따라 상기 PI 신호 또는 상기 제2 플립플롭(1215)의 출력 신호 중 어느 하나를 선택적으로 출력하는 제4 멀티플렉서(1216)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 성능 모니터링 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 PM 바운더리 스캔셀(121)은,상기 제1 플립플롭(1213)의 출력 신호 및 상기 제2 플립플롭(1215)의 출력 신호를 배타적 논리합 연산하는 배타적 논리합(XOR) 게이트(1217)를 더 포함하되,상기 제1 입력 신호는, 상기 배타적 논리합(XOR) 게이트(1217)의 출력 신호인 것을 특징으로 하는 회로 성능 모니터링 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 신호 제어부(11)는,TMS 신호, TCK 신호 및 TRST 신호를 이용하여 TAP_ShiftDR 신호, TAP_ClockDR 신호, TAP_UpdateDR 신호 및 듀티 사이클 제어 신호를 출력하는 TAP 제어기(111);외부로부터 수신한 동작 클럭 신호 및 상기 듀티 사이클 제어 신호를 이용하여 PM_CLK 신호를 출력하는 ADCC 생성기(112);상기 PM_CLK 신호, TAP_UpdateDR 신호 및 외부로부터 수신한 PM_Enable 신호를 이용하여 PM_ClockDR 신호 및 PM_UpdateDR 신호를 출력하는 모니터링 신호 생성기(113);상기 PM_Enable 신호에 따라 상기 TAP_ClockDR 신호 또는 상기 PM_ClockDR 신호 중 어느 하나인 상기 ClockDR 신호를 출력하는 제5 멀티플렉서(114);상기 PM_Enable 신호에 따라 상기 TAP_UpdateDR 신호 또는 상기 PM_UpdateDR 신호 중 어느 하나인 상기 UpdateDR 신호를 출력하는 제6 멀티플렉서(115); 및외부로부터 수신한 PM_Capture 신호 및 상기 TAP_ShiftDR 신호를 논리합 연산하여 상기 ShiftDR 신호를 출력하는 논리합(OR) 게이트(116)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 성능 모니터링 장치
4 4
제3항에 있어서,상기 모니터링 신호 생성기(113)는,상기 PM_CLK 신호, PM_Enable 신호 및 TAP_UpdateDR 신호를 이용하여 UpdateDR_Ctrl 신호 및 ClockDR_Ctrl 신호를 출력하는 유한 상태 기계(Finite State Machine)(1131);상기 PM_CLK 신호 및 상기 UpdateDR_Ctrl 신호를 논리곱 연산하여 상기 PM_UpdateDR 신호를 출력하는 논리곱(AND) 게이트(1132); 및상기 ClockDR_Ctrl 신호 및 상기 PM_UpdateDR 신호를 부정 논리곱 연산하여 상기 PM_ClockDR 신호를 출력하는 부정 논리곱(NAND) 게이트(1133)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 성능 모니터링 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한밭대학교 신진교수연구지원사업 플래시 메모리의 미모로 인한 오류 증가를 극복하기 위한 오류율 예측 방법과 확장 가능한 LDPC 구조 연구