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스택 모니터링 시스템

  • 기술번호 : KST2019028979
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 스택 모니터링 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 가변 고전압(Variable High Voltage)을 제공하여 방사선을 검출하는 다양한 섬광 검출기(Scintillation detector)의 적용이 가능하고, 상기 섬광 검출기의 특성에 따라 방사선량의 계측이 용이하도록 가변 고전압 설정, 이득(Gain) 설정, 상쇄(Offset) 설정 및 한계(Threshold) 설정을 통해 방사선 검출신호가 조절이 되는 스택 모니터링 시스템에 관한 것이다.이러한 기술적 과제를 이루기 위한 본 발명의 특징에 따른 스택 모니터링 시스템은 가변전압 공급부, 검출부, 설정부 및 통신부를 포함한다.상기 가변전압 공급부는 300 ~ 1500V의 가변 고전압을 발생하여 상기 검출부에 대응되는 고전압을 공급한다. 상기 검출부는 상기 가변전압 공급부로부터 고전압을 공급받아 노출된 방사선을 검출하고 전기적 신호로 출력한다. 상기 설정부는 상기 검출부에서 검출된 전기적 신호를 증폭 및 변형하고, 방사선량을 산출할 수 있도록 상기 검출부의 특성에 따라 기 설정된 이득(Gain), 상쇄(Offset) 및 한계(Threhold) 값으로 전기적 신호를 조절한다.상기 통신부는 원격으로 제어 신호를 수신하여 원격에서 전압 및 캘리브레이션 설정이 가능하게 하고, 상기 설정부에서 조절된 검출정보를 원격으로 송신한다.이상과 같은 본 발명에 따른 스택 모니터링 시스템은 방사선을 검출하는 다양한 섬광 검출기의 적용이 가능하고, 전원 노이즈 및 증폭회로의 발진이 개선됨으로써 측정이 가능한 방사선의 적용범위가 증대되어 방사선 측정장치의 안정성 및 신뢰성이 향상되는 효과가 있다.
Int. CL G01T 1/20 (2006.01.01) G01T 1/208 (2006.01.01) G08C 17/02 (2006.01.01) G01T 7/00 (2006.01.01)
CPC G01T 1/2006(2013.01) G01T 1/2006(2013.01) G01T 1/2006(2013.01) G01T 1/2006(2013.01)
출원번호/일자 1020160134947 (2016.10.18)
출원인 한밭대학교 산학협력단, 주식회사 엔바이로코리아
등록번호/일자 10-1821714-0000 (2018.01.18)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20180124) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.10.18)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한밭대학교 산학협력단 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 엔바이로코리아 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이승호 대한민국 대전광역시 유성구
2 장경욱 대한민국 전라남도 고흥군
3 이주현 대한민국 대전광역시 서구
4 이승원 대한민국 서울특별시 구로구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이은철 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**길 **, A동 *층 ***호 (문정동, H비지니스파크)(*T국제특허법률사무소)
2 김중호 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**길 **, A동 *층 ***호 (문정동, H비지니스파크)(*T국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한밭대학교 산학협력단 대전광역시 유성구
2 주식회사 엔바이로코리아 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.10.18 수리 (Accepted) 1-1-2016-1008256-36
2 보정요구서
Request for Amendment		 2016.10.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2016-0152579-26
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2016.10.31 수리 (Accepted) 1-1-2016-1056575-55
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2016.10.31 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2016-1056560-71
5 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document		 2016.11.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2016-0161301-63
6 [지정기간단축]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Reduction of Designated Period] Request for Extension of Period (Reduction, Expiry Reconsideration)		 2016.11.09 수리 (Accepted) 1-1-2016-1097054-85
7 서류반려통지서
Notice for Return of Document		 2016.12.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2016-0177445-47
8 [공지예외적용 보완 증명서류]서류제출서
 2017.01.19 수리 (Accepted) 1-1-2017-0067128-28
9 [출원서 등 보정(보완)]보정서
 2017.01.19 수리 (Accepted) 1-1-2017-0067127-83
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.04.14 수리 (Accepted) 4-1-2017-5058417-94
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2017-5065033-29
12 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2017.06.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
13 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2017.07.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0111125-84
14 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2017.07.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0524690-55
15 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2017.09.11 수리 (Accepted) 1-1-2017-0879493-46
16 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2017.09.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0879492-01
17 등록결정서
Decision to grant		 2017.12.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0905703-42
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.12 수리 (Accepted) 4-1-2019-5072792-98
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
방사선을 검출하는 다수의 섬광 검출기와 다수의 섬광 검출기 각각에 대해 이득(Gain), 상쇄(Offset) 및 한계(Threhold) 값을 설정하여 기록하는 메모리를 구비하고, 상기 다수의 섬광 검출기중 어느 하나의 특성에 대응되는 고전압을 제공하여 방사선을 검출하며, 검출된 신호를 상기 메모리에 기록된 설정 값을 토대로 조절하여 방사선량을 산출하는 스택 모니터링 시스템에 있어서,제어부의 제어에 따라 동작되어 기 정해진 소정 범위의 가변 고전압(Variable High Voltage)을 발생하고, 상기 다수의 섬광 검출기중 어느 하나에 대응되는 고전압을 출력하는 가변전압 공급부;상기 섬광 검출기 및 PMT를 포함하고, 상기 가변전압 공급부로부터 고전압을 공급받아 노출된 방사선을 검출하며, 검출된 방사선을 전기적 신호로 출력하는 검출부;상기 제어부의 제어에 따라 동작되어 상기 검출부에서 출력된 전기적 신호를 증폭 및 변형하고, 방사선량을 산출할 수 있도록 상기 섬광 검출기 특성에 대응되어 기 설정된 이득(Gain), 상쇄(Offset) 및 한계(Threhold) 값으로 상기 섬광 검출기의 특성에 따라 상기 전기적 신호를 조절하는 설정부; 및원격으로 제어 신호를 수신하고 방사선 검출정보를 송신하는 통신부;를 포함하되,상기 설정부는상기 검출부로부터 출력된 펄스신호를 증폭시키는 전하증폭기(Charge sensitive AMP),상기 전하증폭기에서 증폭된 펄스신호를 가우시안 펄스형태로 변환시키는 펄스파형증폭기(Pulse Shaping AMP),상기 변환된 펄스신호의 기준이 되는 기준선을 조정하는 베이스라인 리스토링 필터(Baseline Restoring Filter) 및상기 베이스라인 리스토링 필터(Baseline Restoring Filter)에서 조정된 신호를 디지털 신호로 변환하는 판별기(Discriminator)를 포함하는 스택 모니터링 시스템
2 2
제 1항에 있어서,상기 가변전압 공급부는기 정해진 소정 범위의 저전압을 입력받아 변압 방식으로 기 정해진 소정 범위의 고전압을 발생시키는 고압발생부;상기 고압발생부로부터 교류 전압을 공급받아 배압 정류하는 배압변환부;상기 배압변환부에서 출력된 직류 전압으로부터 교류 전압을 제거하는 노이즈제거부; 및상기 노이즈제거부로부터 출력된 전압을 검출하여 기준 전압과 비교하고, 상기 출력된 전압이 기준 전압 이하이면 상기 고압발생부를 동작시키는 전압검출 제어부;를 포함하는 스택 모니터링 시스템
3 3
제 1항에 있어서,상기 검출부는섬광체에 입사된 방사선이 섬광체와 반응하여 섬광을 발생시키는 섬광검출기(Scintillation Detector)와상기 섬광검출기(Scintillation Detector)로부터 생성된 섬광을 이용하여 전기신호를 출력하는 PMT(Photo Multiplier Tube)를 포함하는 스택 모니터링 시스템
4 4
삭제
5 5
제 1항에 있어서,상기 판별기(Discriminator)는입력신호의 레벨에 따라 신호로 인정하기 위한 상대적으로 낮은 레벨의 범위를 지정하는 LLD(Lower Level Discriminator)와입력신호의 레벨에 따라 신호로 인정하기 위한 상대적으로 높은 레벨의 범위를 지정하는 ULD(Upper Level Discriminator)를 포함하는 스택 모니터링 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 중소기업청 한밭대학교산학협력단 산학연협력기술개발 Stack Monitoring System의 노이즈 감소 회로, 보드 제작 및 적용 신틸레이션 디텍터에 따른 설정 기능을 가지는 Stack Monitoring System의 설계