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타원계측기 기반의 다채널 광 계측기

  • 기술번호 : KST2019029476
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 타원계측기 기반의 다채널 광 계측기에 대한 것이다.
Int. CL G01B 11/06 (2006.01.01) G01J 1/02 (2006.01.01) G02B 5/08 (2006.01.01)
CPC G01B 11/0608(2013.01) G01B 11/0608(2013.01) G01B 11/0608(2013.01) G01B 11/0608(2013.01)
출원번호/일자 1020180042074 (2018.04.11)
출원인 조선대학교산학협력단, 김진섭, 김대희, 윤영호
등록번호/일자 10-2029824-0000 (2019.10.01)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20191008) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.04.11)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 조선대학교산학협력단 대한민국 광주광역시 동구
2 김진섭 대한민국 경기도 수원시 권선구
3 김대희 대한민국 대전광역시 유성구
4 윤영호 대한민국 광주광역시 서구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 주기남 광주광역시 광산구
2 김진섭 대한민국 광주광역시 동구
3 김대희 대한민국 대전광역시 유성구
4 윤영호 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인지원 대한민국 서울특별시 금천구 가산디지털*로 ***, ***호(가산동, 에이스테크노타워**차)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 조선대학교산학협력단 광주광역시 동구
2 김진섭 경기도 수원시 권선구
3 김대희 대전광역시 유성구
4 윤영호 광주광역시 서구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.04.11 수리 (Accepted) 1-1-2018-0359607-47
2 직권정정안내서
Notification of Ex officio Correction
2018.04.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2018-0060970-65
3 수수료 반환 안내서
Notification of Return of Official Fee
2018.04.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2018-0060969-18
4 보정요구서
Request for Amendment
2018.04.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2018-0060967-27
5 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.04.30 수리 (Accepted) 1-1-2018-0424592-54
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.08.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.11.08 수리 (Accepted) 9-1-2018-0059427-20
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.12.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0878257-91
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.01.18 수리 (Accepted) 4-1-2019-5011988-76
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2019.02.18 수리 (Accepted) 1-1-2019-0167222-15
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.03.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5042719-27
12 [공지예외적용 보완 증명서류]서류제출서
2019.03.20 수리 (Accepted) 1-1-2019-0287627-73
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.03.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0287628-18
14 [출원서 등 보정(보완)]보정서
2019.03.20 수리 (Accepted) 1-1-2019-0287626-27
15 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.03.20 수리 (Accepted) 1-1-2019-0287629-64
16 보정요구서
Request for Amendment
2019.03.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2019-0049157-93
17 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2019.03.26 수리 (Accepted) 1-1-2019-0306577-79
18 등록결정서
Decision to grant
2019.07.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0530776-48
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.01.20 수리 (Accepted) 4-1-2020-5014168-93
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5071333-01
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.04.13 수리 (Accepted) 4-1-2020-5084752-11
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2020-5088703-88
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.12.04 수리 (Accepted) 4-1-2020-5274791-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수의 프로브들을 포함하는 광 계측기로써,상기 복수의 프로브들 각각은,반사 거울;표면에 상기 반사 거울에서 출력된 광이 입사되는 시료대;상기 반사 거울과 이격되어 마련된 광 입력부; 및상기 시료대에서 출력된 광이 진행하는 경로 상에 마련되어, 입사된 상기 시료대에서 출력된 광으로부터 복수의 위상 지연 정보들을 포함하는 광을 생성하여 출력하는 공간 위상 지연 소자(SPR)를 포함하되,상기 시료대의 표면으로 입사되는 상기 반사 거울에서 출력된 광은, 상기 광 입력부에서 출력된 광이, 상기 반사 거울의 반사면에서 반사된 광이며,상기 공간 위상 지연 소자는,일 방향을 따라 구획된 복수의 단위 구간들을 포함하며, 각 단위 구간은 일정한 위상 지연 값을 가지되, 각 단위 구간은 이웃하는 단위 구간의 위상 지연 값과는 상이한 위상 지연 값을 갖는,광 계측기
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
제1항에 있어서,상기 복수의 프로브들 각각은,상기 반사 거울 및 상기 광 입력부가 수용되는 프로브 본체부를 더 포함하며,상기 프로브 본체부의 내면의 일측에는 상기 광 입력부가 마련되고 상기 프로브 본체부의 내면의 타측에는 상기 반사 거울이 마련된,광 계측기
6 6
제1항에 있어서,상기 광 계측기는,광원; 및복수의 광 입력 광섬유들로써, 각 일단이 상기 복수의 광 입력부들 각각과 연결되어, 상기 광원에서 생성된 광을 상기 광 입력부로 전달하는 상기 복수의 광 입력 광섬유들을 더 포함하는,광 계측기
7 7
제1항에 있어서,상기 복수의 프로브들 각각은,상기 시료대에서 출력된 광이 입사되는 광 출력부를 더 포함하고,상기 광 계측기는,상기 복수의 광 출력부들에서 출력된 광들을 순차적으로 검출하는 검출부; 상기 검출부에서 검출된 광으로부터 피측정물의 이미지를 생성하는 제어부; 및복수의 광 출력 광섬유들로써, 각 일단이 상기 복수의 광 출력부들 각각과 연결되고, 각 타단이 이웃하는 타단과 일정 거리 이격되도록 나열되며, 상기 복수의 광 출력부들에서 출력된 광들을 순차적으로 상기 검출부로 전달하는 상기 복수의 광 출력 광섬유들을 더 포함하는,광 계측기
8 8
제7항에 있어서,상기 검출부는,상기 복수의 광 출력부들에서 출력된 광들이 순차적으로 입력되는 분광기로써, 상기 분광기로 입력된 광을 분광시키는 상기 분광기;상기 분광기에서 출력된 광을 검출하는 검출 센서; 및표면 상에 상기 분광기 및 상기 검출 센서가 마련되어, 상기 제어부의 제어에 따라 일정 방향으로 이동 가능한 이동부재를 포함하는,광 계측기
9 9
제8항에 있어서,상기 제어부는,상기 복수의 광 출력부들에서 출력된 광들이 순차적으로 상기 분광기로 입력되도록, 상기 이동부재를 제어하여 상기 이동부재를 일정 방향으로 이동시키는,광 계측기
10 10
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.