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형광물질이 염색된 샘플의 제1지점에 여기광을 조사하여 다수의 광자를 방출시키고, 상기 다수의 광자를 변환하여 전기적 펄스 신호를 생성하는 센싱단계;상기 전기적 펄스 신호를 계수(count)하여, 상기 전기적 펄스 신호의 수가 미리 설정된 기준 소요시간 내에 미리 설정된 기준 검출개수에 이를 경우 상기 기준 소요시간까지 계수될 전기적 펄스 신호의 수로 환산된 환산 검출개수를 산출하고, 상기 전기적 펄스 신호의 수가 상기 기준 소요시간까지 상기 기준 검출개수에 이르지 못할 경우 상기 기준 소요시간까지 계수된 전기적 펄스 신호의 수인 실제 검출개수를 산출하는 산출단계;상기 전기적 펄스 신호의 수가 상기 기준 소요시간 내에 상기 기준 검출개수에 이를 경우 상기 환산 검출개수를 상기 기준 소요시간으로 나누거나 또는 상기 전기적 펄스 신호의 수가 상기 기준 소요시간까지 상기 기준 검출개수에 이르지 못할 경우 상기 실제 검출개수를 상기 기준 소요시간으로 나누어 상기 제1지점의 형광농도를 환산하는 환산단계; 및상기 여기광의 초점 위치를 상기 제1지점과 다른 제2지점으로 이동시키는 초점 이동단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학현미경의 광 검출방법
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형광물질이 염색된 샘플의 제1지점에 여기광을 조사하여 다수의 광자를 방출시키고, 상기 다수의 광자를 변환하여 전기적 펄스 신호를 생성하는 센싱단계;상기 전기적 펄스 신호를 계수(count)하여, 상기 전기적 펄스 신호의 수가 미리 설정된 기준 소요시간 내에 미리 설정된 기준 검출개수에 이를 경우 상기 기준 검출개수를 산출하고, 상기 전기적 펄스 신호의 수가 상기 기준 소요시간까지 상기 기준 검출개수에 이르지 못할 경우 상기 기준 소요시간까지 계수된 전기적 펄스 신호의 수인 실제 검출개수를 산출하는 산출단계;상기 전기적 펄스 신호의 수가 상기 기준 소요시간 내에 상기 기준 검출개수에 이를 경우 상기 기준 검출개수를 상기 기준 검출개수에 이를 때까지의 시간인 검출 소요시간으로 나누거나 또는 상기 전기적 펄스 신호의 수가 상기 기준 소요시간까지 상기 기준 검출개수에 이르지 못할 경우 상기 실제 검출개수를 상기 기준 소요시간으로 나누어 상기 제1지점의 형광농도를 환산하는 환산단계; 및상기 여기광의 초점 위치를 상기 제1지점과 다른 제2지점으로 이동시키는 초점 이동단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학현미경의 광 검출방법
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제1항 또는 제2항에 있어서,상기 여기광은, 계수 포화(photon counting saturation)가 발생하는 포화 휘도보다 작은 휘도로 상기 샘플에 조사되는 것을 특징으로 하는 광학현미경의 광 검출방법
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제1항 또는 제2항에 있어서,상기 기준 검출개수는, 명목(nominal) 신호대잡음비에 대응되는 표준 검출개수 이상으로 설정되는 것을 특징으로 하는 광학현미경의 광 검출방법
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제1항 또는 제2항에 있어서,상기 기준 소요시간은, 최소 신호대잡음비에 대응되는 픽셀 체류시간으로 설정되는 것을 특징으로 하는 광학현미경의 광 검출방법
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