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240nm 내지 290nm의 파장을 가지는 광을 조사하는 광원 모듈;조사된 상기 광을 반사하는 제1 홀딩 모듈;다이아몬드를 홀딩하며, 홀딩된 상기 다이아몬드를 투과한 광을 반사하는 제2 홀딩 모듈;상기 제1 홀딩 모듈에 의해 반사된 제1 반사광 및 상기 제2 홀딩 모듈에 의해 반사된 제2 반사광의 세기를 검출하는 검출 모듈; 및검출된 상기 제1 반사광의 세기 및 검출된 상기 제2 반사광의 세기로부터 구한 투과도에 기초하여 다이아몬드를 감별하는 감별 모듈을 포함하며,상기 제2 홀딩 모듈에 의해 홀딩된 상기 다이아몬드에 조사된 광은, 상기 다이아몬드의 퍼빌리언을 투과한 후 상기 제2 홀딩 모듈에 의해 반사되어 다시 상기 다이아몬드의 퍼빌리언을 투과하며,상기 투과도가 천연 다이아몬드의 투과도 대비 120% 내지 1000% 사이의 값을 가질 경우 상기 다이아몬드를 합성 다이아몬드로 감별하며,상기 제1 홀딩 모듈 및 상기 제2 홀딩 모듈은, 지지 부재; 및 상기 지지 부재의 일면에 부착되어 광을 반사하는 반사 부재를 포함하고,상기 제2 홀딩 모듈의 반사 부재의 일면에 상기 다이아몬드가 부착되며, 상기 다이아몬드가 부착되는 일면을 제외한 반사 부재의 모든 면에는 마스크가 부착되는 다이아몬드 감별 장치
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제1항에 있어서,상기 다이아몬드 감별 장치는,상기 광원 모듈에서 조사된 광을 상기 제1 홀딩 모듈로 반사하는 제1 반사 부재;상기 광원 모듈에서 조사된 광을 상기 제2 홀딩 모듈로 반사하는 제2 반사 부재;상기 제1 홀딩 모듈에 의해 반사된 광을 상기 검출 모듈로 반사하는 제3 반사 부재; 및상기 제2 홀딩 모듈에 의해 반사된 광을 상기 검출 모듈로 반사하는 제4 반사 부재를 더 포함하는 다이아몬드 감별 장치
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제1항에 있어서,상기 투과도는,하기의 수학식:T = I2/I1에 따라 구해지며, T는 투과도, I1은 제1 반사광의 세기, I2는 제2 반사광의 세기인 다이아몬드 감별 장치
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광원 모듈에서 240nm 내지 290nm의 파장을 가지는 광을 조사하는 제1 단계;제1 홀딩 모듈에서 조사된 상기 광을 반사하는 제2 단계;제2 홀딩 모듈에서, 다이아몬드를 투과한 광을 반사하는 제3 단계;검출 모듈에서, 상기 제1 홀딩 모듈에 의해 반사된 제1 반사광 및 상기 제2 홀딩 모듈에 의해 반사된 제2 반사광의 세기를 검출하는 제4 단계; 및감별 모듈에서, 검출된 상기 제1 반사광의 세기 및 검출된 상기 제2 반사광의 세기로부터 구한 투과도에 기초하여 다이아몬드를 감별하는 제5 단계를 포함하며,상기 제5 단계는, 상기 투과도가 천연 다이아몬드의 투과도 대비 120% 내지 1000% 사이의 값을 가질 경우 상기 다이아몬드를 합성 다이아몬드로 감별하며,상기 다이아몬드에 조사된 광은 상기 다이아몬드의 퍼빌리언을 투과한 후 상기 제2 홀딩 모듈에 의해 반사되어 다시 상기 다이아몬드의 퍼빌리언을 투과하며,상기 제1 홀딩 모듈 및 상기 제2 홀딩 모듈은, 지지 부재; 및 상기 지지 부재의 일면에 부착되어 광을 반사하는 반사 부재를 포함하고,상기 제2 홀딩 모듈의 반사 부재의 일면에 상기 다이아몬드가 부착되며, 상기 다이아몬드가 부착되는 일면을 제외한 반사 부재의 모든 면에는 마스크가 부착되는 다이아몬드 감별 방법
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