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희생층을 이용한 GaN 결정층 분리 방법

  • 기술번호 : KST2019030773
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 그래핀층의 손상을 최소화하면서 그래핀층 상에 GaN 결정층을 성장시킬 수 있음과 더불어, 희생층을 이용하여 캐리어 기판으로부터 그래핀층, GaN 버퍼층 및 GaN 결정층을 손쉽게 분리시킬 수 있는 희생층을 이용한 GaN 결정층 분리 방법 및 이를 포함하는 발광소자에 대하여 개시한다. 본 발명에 따른 희생층을 이용한 GaN 결정층 분리 방법은 캐리어 기판 상에 희생층을 형성하는 단계; 상기 희생층의 일부가 노출되도록 상기 희생층 상에 그래핀층을 트랜스퍼하여 적층하는 단계; 상기 그래핀층 상에 GaN 버퍼층을 형성하는 단계; 상기 GaN 버퍼층 상에 GaN 결정층을 성장시키는 단계; 및 상기 캐리어 기판 상의 희생층을 제거하여, 상기 캐리어 기판으로부터 상기 그래핀층, GaN 버퍼층 및 GaN 결정층을 리프트 오프하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01L 33/00 (2010.01.01) H01L 33/12 (2010.01.01) H01L 33/16 (2010.01.01) H01L 33/32 (2010.01.01) H01L 33/06 (2010.01.01)
CPC H01L 33/0093(2013.01) H01L 33/0093(2013.01) H01L 33/0093(2013.01) H01L 33/0093(2013.01) H01L 33/0093(2013.01) H01L 33/0093(2013.01) H01L 33/0093(2013.01)
출원번호/일자 1020180060115 (2018.05.28)
출원인 한국세라믹기술원
등록번호/일자 10-2049248-0000 (2019.11.21)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20191128) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.05.28)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국세라믹기술원 대한민국 경상남도 진주시 소호로 ***

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 전대우 경상남도 진주시
2 라용호 경상남도 진주시 사들로 **, ***동
3 김진호 경상남도 진주시 사들로 **
4 김선욱 경기도 남양주시
5 이영진 경상남도 진주시
6 이미재 경상남도 진주시 사들로 ***
7 임태영 경기도 수원시 영통구
8 황종희 경상남도 진주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유한) 대아 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, 한양빌딩*층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국세라믹기술원 경상남도 진주시 소호로 ***
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.05.28 수리 (Accepted) 1-1-2018-0517969-11
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.03.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0217104-89
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.05.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0455150-48
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.05.03 수리 (Accepted) 1-1-2019-0455149-02
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0615344-54
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.09.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0916282-02
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.09.05 수리 (Accepted) 1-1-2019-0916281-56
8 등록결정서
Decision to grant
2019.10.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0745929-13
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
캐리어 기판 상에 희생층을 형성하는 단계; 상기 희생층의 일부가 노출되도록 상기 희생층 상에 그래핀층을 트랜스퍼하여 적층하는 단계; 상기 그래핀층 상에 GaN 버퍼층을 형성하는 단계; 상기 GaN 버퍼층 상에 GaN 결정층을 성장시키는 단계; 및 상기 캐리어 기판 상의 희생층을 제거하여, 상기 캐리어 기판으로부터 상기 그래핀층, GaN 버퍼층 및 GaN 결정층을 리프트 오프하는 단계;를 포함하며, 상기 캐리어 기판은 쿼츠 재질이 이용되며, 상기 리프트 오프 단계 이후에, 상기 캐리어 기판은 세척 처리하여 재활용되며, 상기 희생층 형성 단계에서, 상기 희생층은 상기 캐리어 기판과 동일한 면적을 갖고, 상기 그래핀층은 상기 희생층 및 캐리어 기판 보다 작은 면적을 가져, 상기 그래핀층의 외측으로 상기 희생층의 일부가 노출되는 것을 특징으로 하는 희생층을 이용한 GaN 결정층 분리 방법
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 희생층은 SiO2인 것을 특징으로 하는 희생층을 이용한 GaN 결정층 분리 방법
4 4
삭제
5 5
제1항에 있어서,상기 GaN 버퍼층 형성 단계는, 상기 그래핀층 상에 Ga 시드를 형성하는 단계; 및 상기 Ga 시드 상에 GaN 결정을 성장시켜 GaN 버퍼층을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 희생층을 이용한 GaN 결정층 분리 방법
6 6
제5항에 있어서,상기 그래핀층 상에 Ga 시드를 형성하는 단계는, HVPE(Hydride Vapor Phase Epitaxy) 방식으로 300 ~ 700℃의 제1 온도 범위 조건으로 실시하는 것을 특징으로 하는 희생층을 이용한 GaN 결정층 분리 방법
7 7
제1항에 있어서,상기 그래핀층은 0
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제1항에 있어서,상기 그래핀층은 그래핀이 다층 구조로 적층되어 있는 그래핀 다중층인 것을 특징으로 하는 희생층을 이용한 GaN 결정층 분리 방법
9 9
제5항에 있어서,상기 GaN 결정층 성장 단계는, 상기 Ga 시드 상에 질화수소 화합물을 공급하면서 700 ~ 1,100℃의 제2 온도 범위 조건으로 실시하는 것을 특징으로 하는 희생층을 이용한 GaN 결정층 분리 방법
10 10
제1항에 있어서,상기 리프트 오프 단계에서, 상기 희생층은 플루오르화수소(HF) 용액 및 버퍼된 산화 식각(BOE) 용액 중 어느 하나를 이용하여 제거하는 것을 특징으로 하는 희생층을 이용한 GaN 결정층 분리 방법
11 11
삭제
12 12
삭제
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패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.