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부재(部材)의 시편으로부터 상기 부재 물성의 랜덤장에 대한 물성 표본을 산출하는 표본 산출부; 및상기 물성 표본을 이용하여 상기 부재 물성의 균질성 판단의 지표인 균질성 판단 인덱스를 산출하는 인덱스 산출부;를 포함하고, 상기 표본 산출부는, 상기 시편의 내부 점에 대응하는 물성 값을 보간하여 상기 물성 표본을 산출하는 물성 균질성 판단 장치
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제 1 항에 있어서,상기 랜덤장은,하기 [수학식1]의 K-L(Karhunen-Loeve) 전개식을 이용하여 표현되는 물성 균질성 판단 장치
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제 2 항에 있어서,상기 표본 산출부는,하기의 [수학식2]를 이용하여 상기 물성 값을 산출하는 물성 균질성 판단 장치
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삭제
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제 2 항에 있어서,상기 물성 표본을 이용하여 상기 랜덤장의 물성 특성치를 산출하는 특성치 산출부;를 더 포함하는 물성 균질성 판단 장치
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제 5 항에 있어서,상기 물성 특성치는,상기 [수학식1]의 평균 함수 , 고유치 , 고유함수 , 및 랜덤 변수 를 포함하는 물성 균질성 판단 장치
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제 6 항에 있어서, 인덱스 산출부는,하기의 [수학식 6]을 이용하여 상기 균질성 판단 인덱스를 산출하는 물성 균질성 판단 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 균질성 판단 인덱스와 기설정된 기준값과 비교하여 상기 부재 물성의 균질성을 판단하는 균질성 판단부;를 더 포함하는 물성 균질성 판단 장치
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부재(部材)의 시편으로부터 상기 부재 물성의 랜덤장에 대한 물성 표본을 산출하고; 및상기 물성 표본을 이용하여 상기 부재 물성의 균질성 판단의 지표인 균질성 판단 인덱스를 산출하는;것을 포함하고, 상기 물성 표본을 산출하는 것은,상기 시편의 내부 점에 대응하는 물성 값을 보간하여 상기 물성 표본을 산출하는 것을 포함하는 물성 균질성 판단 방법
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