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삼각파 패턴 구조광을 이용하는 3차원 스캐닝 방법 및 시스템

  • 기술번호 : KST2019031021
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 삼각파 패턴 구조광을 이용하여, 스캐닝 타겟 물체에 대한 좌표를 보다 세밀하게 검출할 수 있는 3차원 스캐닝 방법 및 시스템이 개시된다. 개시된 삼각파 패턴 구조광을 이용하는 3차원 스캐닝 방법은 흑백 영역이 반복되는 패턴 구조광이 투사된 타겟 물체에 대한 제1이미지를 획득하는 단계; 상기 제1이미지를 이용하여, 상기 패턴 구조광에 기반한 상기 타겟 물체에 대한 제1이차원 좌표를 결정하는 단계; 삼각파 패턴 구조광이 투사된 상기 타겟 물체에 대한 제2이미지를 획득하는 단계; 및 상기 제2이미지를 이용하여, 상기 제1이차원 좌표 사이에서의 제2이차원 좌표를 결정하는 단계를 포함한다.
Int. CL G01B 11/25 (2006.01.01) G01B 11/00 (2006.01.01) G06T 1/00 (2006.01.01) G06T 7/60 (2017.01.01)
CPC G01B 11/2518(2013.01) G01B 11/2518(2013.01) G01B 11/2518(2013.01) G01B 11/2518(2013.01)
출원번호/일자 1020170080975 (2017.06.27)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1906730-0000 (2018.10.02)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20181010) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.06.27)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임종우 대한민국 서울특별시 송파구
2 원창희 대한민국 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 민영준 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로 ****, *층(도곡동, 차우빌딩)(맥스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.06.27 수리 (Accepted) 1-1-2017-0614107-56
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.01.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.03.08 수리 (Accepted) 9-1-2018-0008657-30
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.03.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0189510-76
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.04.13 수리 (Accepted) 1-1-2018-0367772-05
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.04.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0367768-11
7 등록결정서
Decision to grant
2018.09.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0632577-94
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
흑백 영역이 반복되는 패턴 구조광이 투사된 타겟 물체에 대한 제1이미지를 획득하는 단계;상기 제1이미지를 이용하여, 상기 패턴 구조광에 기반한 상기 타겟 물체에 대한 제1이차원 좌표를 결정하는 단계;상기 흑백 영역의 최대 밝기값 및 최소 밝기값 사이에서 밝기값이 선형적으로 변하는 구조광인 삼각파 패턴 구조광이 투사된 상기 타겟 물체에 대한 제2이미지를 획득하는 단계; 및상기 제2이미지를 이용하여, 상기 제1이차원 좌표 사이에서의 제2이차원 좌표를 결정하는 단계를 포함하며,상기 제2이차원 좌표를 결정하는 단계는 상기 제1이차원 좌표 및 상기 삼각파 패턴 구조광의 밝기값을 이용하여, 상기 삼각파 패턴 구조광에 대한 근사화된 1차 함수를 계산하는 단계; 및상기 1차 함수를 이용하여, 상기 제2이차원 좌표를 결정하는 단계를 포함하는 삼각파 패턴 구조광을 이용하는 3차원 스캐닝 방법
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제 1항에 있어서,상기 제2이차원 좌표는상기 패턴 구조광을 투사하는 프로젝터의 해상도에 따라 결정되는 좌표인삼각파 패턴 구조광을 이용하는 3차원 스캐닝 방법
5 5
제 1항에 있어서,상기 제1이차원 좌표는상기 흑백 영역의 경계선, 상기 흑색 영역의 중심 및 상기 백색 영역의 중심 좌표인삼각파 패턴 구조광을 이용하는 3차원 스캐닝 방법
6 6
제 1항에 있어서,상기 제2이미지에 포함된 삼각파 패턴 구조광의 최소 및 최대 밝기 사이에서, 상기 삼각파 패턴 구조광의 밝기값이 선형적으로 변하도록 상기 제2이미지의 밝기값을 조절하는 단계를 더 포함하는 삼각파 패턴 구조광을 이용하는 3차원 스캐닝 방법
7 7
제 1항에 있어서,상기 삼각파 패턴 구조광은시간 흐름에 따라 기 설정된 간격만큼 이동되어 상기 타겟 물체로 투사되는삼각파 패턴 구조광을 이용하는 3차원 스캐닝 방법
8 8
흑백 영역이 반복되는 패턴 구조광 및 삼각파 패턴 구조광을 타겟 물체로 투사하는 프로젝터;상기 흑백 영역이 반복되는 패턴 구조광이 투사된 타겟 물체에 대한 제1이미지 및 상기 흑백 영역의 최대 밝기값 및 최소 밝기값 사이에서 밝기값이 선형적으로 변하는 구조광인 삼각파 패턴 구조광이 투사된 상기 타겟 물체에 대한 제2이미지를 를 획득하는 카메라; 및상기 제1이미지를 이용하여, 상기 흑백 영역이 반복되는 패턴 구조광에 기반한 상기 타겟 물체에 대한 제1이차원 좌표를 결정하고, 상기 제2이미지를 이용하여, 상기 제1이차원 좌표 사이에서의 제2이차원 좌표를 결정하는 영상 처리부를 포함하며,상기 영상 처리부는, 상기 제1이차원 좌표 및 상기 삼각파 패턴 구조광의 밝기값을 이용하여, 상기 삼각파 패턴 구조광에 대한 근사화된 1차 함수를 계산하고, 상기 1차 함수를 이용하여, 상기 제2이차원 좌표를 결정하는 삼각파 패턴 구조광을 이용하는 3차원 스캐닝 시스템
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삭제
10 10
제 8항에 있어서,상기 영상 처리부는 상기 최대 밝기값 및 상기 최소 밝기값의 범위보다 작은 범위 내에서 상기 1차 함수에 따른 상기 2차원 좌표를 결정하는삼각파 패턴 구조광을 이용하는 3차원 스캐닝 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 기타정부부처 한양대학교 산학협력단 문화체육관광부 / 한국콘텐츠진흥원 / 문화기술 연구개발지원사업 미술품 원색 기록 보존 및 복원을 위한 Multi-spectral 이미징 기술 개발