맞춤기술찾기

이전대상기술

디임베디드 캘리브레이션 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2019031974
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 디임베디드 캘리브레이션 방법 및 장치가 개시된다. 피측정 장치에 대한 측정을 위한 디임베디드 캘리브레이션(embedded calibration) 방법은 피측정 장치를 맞춤형 캘리브레이션 키트에 위치시키는 단계와 맞춤형 캘리브레이션 키트를 기반으로 상기 피측정 장치의 특성을 결정하는 단계를 포함할 수 있되, 맞춤형 캘리브레이션 키트는 피측정 장치까지의 케이블 또는 선로에 의한 성분을 제거하기 위한 디임베디드 캘리브레이션을 위해 피측정 장치의 앞 단에 위치시킨 캘리브레이션 면을 포함할 수 있다.
Int. CL G01R 35/00 (2006.01.01) G01R 1/04 (2006.01.01) G01R 31/28 (2006.01.01)
CPC G01R 35/005(2013.01) G01R 35/005(2013.01) G01R 35/005(2013.01)
출원번호/일자 1020160134799 (2016.10.18)
출원인 순천향대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1835779-0000 (2018.02.28)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20180307) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.10.18)
심사청구항수 4

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 순천향대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 아산시

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한상민 대한민국 경기도 수원시 영통구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인메이저 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, *층(역삼동, 쓰리엠타워)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 순천향대학교 산학협력단 충청남도 아산시
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.10.18 수리 (Accepted) 1-1-2016-1006894-09
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2016.10.27 수리 (Accepted) 1-1-2016-1046024-31
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.03.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.05.12 수리 (Accepted) 9-1-2017-0015648-59
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.05.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0352321-99
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.07.18 수리 (Accepted) 1-1-2017-0686320-96
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.08.02 수리 (Accepted) 1-1-2017-0745517-01
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.08.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0745518-46
9 등록결정서
Decision to grant
2018.02.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0081224-13
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.11 수리 (Accepted) 4-1-2020-5248644-91
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
피측정 장치에 대한 측정을 위한 디임베디드 캘리브레이션(de-embedded calibration) 방법은,상기 피측정 장치를 맞춤형 캘리브레이션 키트에 위치시키는 단계; 및상기 맞춤형 캘리브레이션 키트를 기반으로 상기 피측정 장치의 특성을 결정하는 단계를 포함하되,상기 맞춤형 캘리브레이션 키트는 상기 피측정 장치까지의 케이블 또는 선로에 의한 성분을 제거하기 위한 디임베디드 캘리브레이션을 위해 상기 피측정 장치의 앞 단에 위치시킨 캘리브레이션 면을 포함하고,상기 맞춤형 캘리브레이션 키트는 오픈 캘리브레이션 키트, 쇼트 캘리브레이션 키트 및 로드 캘리브레이션 키트이고,상기 오픈 캘리브레이션 키트, 상기 쇼트 캘리브레이션 키트 및 상기 로드 캘리브레이션 키트의 기판은 동일한 크기와 특성을 가지고,상기 오픈 캘리브레이션 키트, 상기 쇼트 캘리브레이션 키트 및 상기 로드 캘리브레이션 키트의 마이크로스트립 선로의 길이는 모두 동일하고,상기 오픈 캘리브레이션 키트는 상기 마이크로스트립의 선로 종단을 개방하여 구현되고,상기 쇼트 캘리브레이션 키트는 상기 마이크로스트립의 상기 선로 종단과 그라운드와 연결된 비아(via)가 만나도록 구현되고, 상기 쇼트 캘리브레이션 키트에서 전류가 상기 마이크로스트립의 선로 종단면에서 접지면인 그라운드로 수직으로 흐르고,상기 로드 캘리브레이션 키트는 상기 마이크로스트립의 상기 선로 종단과 칩 저항, 그라운드와 연결된 비아가 만나도록 구현되고, 상기 쇼트 캘리브레이션 키트는 기판 두께에 의한 상기 비아의 인덕턴스와 위상 천이를 고려한 보정을 수행하는 것을 특징으로 하는 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 맞춤형 캘리브레이션 키트는 상기 피측정 장치가 실장된 기판의 정보를 포함하여 측정하여 상기 피측정 장치를 사용할 상기 기판에서의 회로 특성을 측정하고, 상기 맞춤형 캘리브레이션 키트를 기반으로 결정된 능동 소자의 측정 데이터는 동일한 기판에 실장되어 EM 공진 회로들과 함께 EM 시뮬레이션을 수행시 실제 기판 정보를 포함한 소자의 동작 특성을 반영하는 것을 특징으로 하는 방법
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
피측정 장치에 대한 측정을 위한 디임베디드 캘리브레이션(de-embedded calibration) 장치에 있어서,상기 디임베디드 캘리브레이션 장치는 맞춤형 캘리브레이션 키트를 포함하고, 상기 맞춤형 캘리브레이션 키트는 피측정 장치를 상기 맞춤형 캘리브레이션 키트에 위치시키고, 상기 맞춤형 캘리브레이션 키트를 기반으로 상기 피측정 장치의 특성을 결정하도록 구현되되,상기 맞춤형 캘리브레이션 키트는 상기 피측정 장치까지의 케이블 또는 선로에 의한 성분을 제거하기 위한 디임베디드 캘리브레이션을 위해 상기 피측정 장치의 앞 단에 위치시킨 캘리브레이션 면을 포함하고,상기 맞춤형 캘리브레이션 키트는 오픈 캘리브레이션 키트, 쇼트 캘리브레이션 키트 및 로드 캘리브레이션 키트이고,상기 오픈 캘리브레이션 키트, 상기 쇼트 캘리브레이션 키트 및 상기 로드 캘리브레이션 키트의 기판은 동일한 크기와 특성을 가지고,상기 오픈 캘리브레이션 키트, 상기 쇼트 캘리브레이션 키트 및 상기 로드 캘리브레이션 키트의 마이크로스트립 선로의 길이는 모두 동일하고,상기 오픈 캘리브레이션 키트는 상기 마이크로스트립의 선로 종단을 개방하여 구현되고,상기 쇼트 캘리브레이션 키트는 상기 마이크로스트립의 상기 선로 종단과 그라운드와 연결된 비아(via)가 만나도록 구현되고, 상기 쇼트 캘리브레이션 키트에서 전류가 상기 마이크로스트립의 선로 종단면에서 접지면인 그라운드로 수직으로 흐르고,상기 로드 캘리브레이션 키트는 상기 마이크로스트립의 상기 선로 종단과 칩 저항, 그라운드와 연결된 비아가 만나도록 구현되는 것을 특징으로 하는 디임베디드 캘리브레이션 장치
6 6
제5항에 있어서, 상기 맞춤형 캘리브레이션 키트는 상기 피측정 장치가 실장된 기판의 정보를 포함하여 측정하여 상기 피측정 장치를 사용할 상기 기판에서의 회로 특성을 측정하고,상기 맞춤형 캘리브레이션 키트를 기반으로 결정된 능동 소자의 측정 데이터는 동일한 기판에 실장되어 EM 공진 회로들과 함께 EM 시뮬레이션을 수행시 실제 기판 정보를 포함한 소자의 동작 특성을 반영하는 것을 특징으로 하는 디임베디드 캘리브레이션 장치
7 7
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 순천향대학교 대학ICT연구센터육성지원사업 IoT 보안기술연구