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지능형 전자 장치(Intelligent electronic device, IED)의 테스트 장치에 있어서, 다수의 IED에 대응되도록 다수의 채널별로 구분되는 전류 값들 또는 전압 값들과 관련된 테스트 정보를 처리하여 네트워크를 통해 상기 다수의 IED와 데이터들을 교신하는 데이터 처리 유닛; 및상기 네트워크를 통해 상기 다수의 IED 와 연결되기 위한 통신 포트;를 포함하고, 상기 데이터 처리 유닛은, 상기 테스트 정보를 포함하는 사용자의 명령에 근거하여 디지털 데이터를 생성하는 디지털 데이터 생성부; 상기 디지털 데이터를 소정의 포맷 메시지로 변환하는 포맷 변환부; 상기 포맷 메시지를 상기 네트워크를 통해 상기 다수의 IED에 송신하는 메시지 송신부; 상기 다수의 IED에서 수신된 상기 포맷 메시지에 대응하여 상기 IED로부터 제공되는 구스(GOOSE) 메시지에서 트립 정보 유무를 확인하는 수신 정보 확인부; 및 상기 다수의 채널별로 데이터 처리 작업의 활성화 또는 비활성화를 설정하는 설정부를 포함하고, 상기 디지털 데이터, 상기 포맷 메시지 및 상기 구스 메시지의 각각은 상기 다수의 채널별로 생성되는 지능형 전자 장치의 테스트 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 포맷 메시지는 상기 포맷 변환부에 의해 상기 디지털 데이터가 SV(Sampled Value) 포맷 방식으로 변환되어 생성되는 것을 특징으로 하는 지능형 전자장치의 테스트 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 데이터 처리 유닛에서 데이터 처리 상태를 표시하는 정보 표시부를 더 포함하고, 상기 데이터 처리 유닛은, 상기 사용자의 명령을 수신 및 확인하는 명령 처리부; 및 상기 네트워크를 통해 상기 다수의 IED의 각각으로부터 상기 구스 메시지를 수신하는 구스 메시지 수신부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 지능형 전자장치의 테스트 장치
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제 3 항에 있어서, 상기 정보 표시부는 상기 구스 메시지로부터 상기 트립 정보가 확인되는 지의 여부를 표시하는 것을 특징으로 하는 지능형 전자장치의 테스트 장치
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삭제
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제 3 항에 있어서, 상기 정보 표시부는 상기 다수의 채널에 대응되도록 다수로 구성되어 상기 다수의 채널의 각각에 대한 데이터 처리 상태를 표시하는 것을 특징으로 하는 지능형 전자장치의 테스트 장치
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제 3 항에 있어서, 상기 정보 표시부는 상기 다수의 채널에 일대일 대응하는 다수의 램프들을 포함하는 것을 특징으로 하는 지능형 전자장치의 테스트 장치
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삭제
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제 3 항에 있어서, 상기 테스트 정보는 18개의 전류 값들과 관련된 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 지능형 전자장치의 테스트 장치
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10
제 3 항에 있어서, 상기 테스트 정보는 2개의 전압 값들과 관련된 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 지능형 전자장치의 테스트 장치
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테스트 장치를 이용하여 지능형 전자 장치(Intelligent Electronic Device, IED)를 테스트하는 방법에 있어서, 다수의 IED에 대응되도록 다수의 채널로 구분되는 전류 값들 또는 전압 값들과 관련된 테스트 정보를 포함하는 사용자 명령이 테스트 장치에 입력 되는 단계; 상기 사용자 명령에 근거하는 디지털 데이터가 생성되는 단계;상기 디지털 데이터가 소정의 포맷 메시지로 변환되는 단계; 네트워크를 통해 상기 포맷 메시지가 다수의 IED측으로 제공 되는 단계; 및상기 다수의 IED측으로 제공된 상기 포맷 메시지에 대응하여 상기 다수의 IED로부터 구스(GOOSE) 메시지를 수신하는 단계; 및상기 수신된 구스 메시지로부터 트립 정보를 확인하는 단계를 포함하고, 상기 디지털 데이터, 상기 포맷 메시지 및 상기 구스 메시지의 각각은 상기 다수의 채널별로 생성되는 지능형 전자 장치의 테스트 방법
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제 11 항에 있어서, 상기 디지털 데이터는 SV(Sampled Value) 포맷 방식으로 변환되는 것을 특징으로 하는 지능형 전자 장치의 테스트 방법
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삭제
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제 11 항에 있어서, 정보 표시부는 상기 다수의 채널에 일대일 대응되도록 구성되고, 상기 정보 표시부는 상기 다수의 채널의 각각에 대한 데이터 처리 상태를 표시하는 것을 특징으로 하는 지능형 전자 장치의 테스트 방법
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