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스케일 스페이스 표현에 기반한 유사 영역 검출 방법 및 그 장치

  • 기술번호 : KST2019033425
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 스케일 스페이스 표현에 기반한 유사 영역 검출 방법 및 그 장치가 개시된다. 스케일 스페이스 표현에 기반한 유사 영역 검출 방법은, SIFT를 적용하여 영상에서 각 키포인트에 대한 특징점을 각각 추출하는 단계; 상기 각 추출된 특징점을 이용하여 각 키포인트에 대한 매치 페어 셋(matched pair set)을 생성하는 단계; 상기 매치 페어 셋에서 랜덤하게 매치 페어에 대한 서브 셋을 선택하고, 상기 선택된 서브 셋을 이용하여 아핀 트랜스폼에 기초한 기하학적 변형 척도를 계산하는 단계; 및 상기 기하학적 변형 척도에 기반하여 왜곡 영상을 생성한 후 원 영상과 상기 왜곡 영상간의 제로 평균 표준화 상호 상관성(ZNCC: zero mean normalized cross-correlation)을 적용하여 유사 영역을 검출하는 단계를 포함한다.
Int. CL G06K 9/00 (2006.01.01) G06K 9/46 (2006.01.01) G06K 9/62 (2006.01.01) G06K 9/64 (2006.01.01) G06T 7/20 (2017.01.01)
CPC G06K 9/00577(2013.01) G06K 9/00577(2013.01) G06K 9/00577(2013.01) G06K 9/00577(2013.01) G06K 9/00577(2013.01)
출원번호/일자 1020160011496 (2016.01.29)
출원인 세종대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1755980-0000 (2017.07.03)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170710) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.01.29)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 세종대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 광진구 능동로 *** (군

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박천수 대한민국 서울특별시 동대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 최관락 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
2 윤형근 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
3 송인호 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
4 최영중 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, 한양빌딩*층(역삼동)(특허법인(유한) 대아)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 세종대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 광진구 능동로 *** (군
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.01.29 수리 (Accepted) 1-1-2016-0100066-71
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.02.09 수리 (Accepted) 9-1-2017-0003330-10
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.02.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0107479-13
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.04.13 수리 (Accepted) 1-1-2017-0362393-08
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.04.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0362394-43
7 등록결정서
Decision to grant
2017.06.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0435439-46
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번호 청구항
1 1
영상 처리 장치에서 유사 영역을 검출하는 방법에 있어서,SIFT를 적용하여 영상에서 각 키포인트에 대한 특징점을 각각 추출하는 단계;상기 각 추출된 특징점을 이용하여 각 키포인트에 대한 매치 페어 셋(matched pair set)을 생성하는 단계;상기 매치 페어 셋에서 랜덤하게 매치 페어에 대한 서브 셋을 선택하고, 상기 선택된 서브 셋을 이용하여 아핀 트랜스폼에 기초한 기하학적 변형 척도를 계산하는 단계; 및상기 기하학적 변형 척도에 기반하여 왜곡 영상을 생성한 후 원 영상과 상기 왜곡 영상간의 제로 평균 표준화 상호 상관성(ZNCC: zero mean normalized cross-correlation)을 적용하여 유사 영역을 검출하는 단계를 포함하되,상기 서브 셋을 선택하는 단계는,상기 매치 페어 셋에서 랜덤하게 제1 매치 페어를 선택하는 단계; 및상기 제1 매치 페어와 스케일 레벨의 변형 비율이 동일하며, 라인 세그먼트의 길이 비율이 일치하는 제2 매치 페어와 제3 매치 페어를 상기 매치 페어 셋에서 선택하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유사 영역 검출 방법
2 2
제1 항에 있어서,상기 매치 페어 셋을 생성하는 단계는, 상기 각 키포인트에 대해 추출된 특징점간의 거리 비율을 계산하여 매치 후보 리스트를 생성하는 단계; 및상기 각 키포인트의 매치 후보 리스트간의 교차 검사를 통해 상호 매치 후보 리스트에 포함되는 키포인트들을 매치 페어를 도출한 후, 상기 매치 페어간의 거리 비율을 계산한 후 상기 매치 페어간의 거리 비율을 이용하여 매치 페어 셋을 구성하는 단계를 포함하는 유사 영역 검출 방법
3 3
제2 항에 있어서,상기 매치 페어 셋을 구성하는 단계는,상기 매치 페어간의 거리 비율을 계산한 후 내림 차순으로 상기 매치 페어 셋에 추가하여 M(자연수)로 제한하여 구성하는 것을 특징으로 하는 유사 영역 검출 방법
4 4
삭제
5 5
제1 항에 있어서,상기 제1 매치 페어, 상기 제2 매치 페어 및 상기 제3 매치 페어를 이용하여 아핀 트랜스폼을 계산하여 상기 기하학적 변형 척도를 계산하는 것을 특징으로 하는 유사 영역 검출 방법
6 6
제1 항에 있어서,상기 유사 영역을 검출하는 단계는,상기 원 영상과 상기 왜곡 영상간의 제로 평균 표준화 상호 상관성을 계산하는 단계; 및상기 계산된 제로 평균 표준화 상호 상관성을 이용하여 이진 영상을 생성하여 상기 유사 영역을 검출하는 단계를 포함하는 유사 영역 검출 방법
7 7
제6 항에 있어서,상기 유사 영역을 검출하는 단계는,상기 이진 영상에서 기준치 이하의 고립된 영역은 제거하고, 기준치 이하의 홀은 수학적 형태학 연산을 사용하여 채우는 것을 특징으로 하는 유사 영역 검출 방법
8 8
제1 항 내지 제3항, 제5항 내지 제7 항 중 어느 하나의 항에 따른 방법을 수행하기 위한 프로그램 코드를 기록한 컴퓨터로 판독 가능한 기록매체 제품
9 9
SIFT를 적용하여 영상에서 각 키포인트에 대한 특징점을 각각 추출하는 특징 추출부;상기 각 추출된 특징점을 이용하여 각 키포인트에 대한 매치 페어 셋(matched pair set)을 생성하는 샘플링부;상기 매치 페어 셋에서 랜덤하게 매치 페어에 대한 서브 셋을 선택하고, 상기 선택된 서브 셋을 이용하여 아핀 트랜스폼에 기초한 기하학적 변형 척도를 계산하는 변형 계산부; 및상기 기하학적 변형 척도에 기반하여 왜곡 영상을 생성한 후 원 영상과 상기 왜곡 영상간의 제로 평균 표준화 상호 상관성(ZNCC: zero mean normalized cross-correlation)을 적용하여 유사 영역을 검출하는 검출부를 포함하되,상기 변형 계산부는,상기 매치 페어 셋에서 랜덤하게 제1 매치 페어를 선택하고, 상기 제1 매치 페어와 스케일 레벨의 변형 비율이 동일하며, 라인 세그먼트의 길이 비율이 일치하는 제2 매치 페어와 제3 매치 페어를 상기 매치 페어 셋에서 선택하여 상기 서브 셋을 구성하여 기하학적 변형 척도를 계산하는 것을 특징으로 하는 영상 처리 장치
10 10
제9 항에 있어서,상기 샘플링부는,상기 각 키포인트에 대해 추출된 특징점간의 거리 비율을 계산하여 매치 후보 리스트를 생성하고, 상기 각 키포인트의 매치 후보 리스트간의 교차 검사를 통해 상호 매치 후보 리스트에 포함되는 키포인트들을 매치 페어를 도출한 후, 상기 매치 페어간의 거리 비율을 계산한 후 상기 매치 페어간의 거리 비율을 이용하여 매치 페어 셋을 구성하는 것을 특징으로 하는 영상 처리 장치
11 11
삭제
12 12
제9 항에 있어서,상기 검출부는,상기 원 영상과 상기 왜곡 영상간의 제로 평균 표준화 상호 상관성을 계산하고, 상기 계산된 제로 평균 표준화 상호 상관성을 이용하여 이진 영상을 생성한 후 상기 이진 영상에서 기준치 이하의 고립된 영역은 제거하고, 기준치 이하의 홀은 수학적 형태학 연산을 사용하여 채우는 것을 특징으로 하는 영상 처리 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 세종대학교 산학협력단 SW중심대학 지원사업 SW중심대학