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복수 개의 그룹으로 구분되는 3차원 집적회로에 있어서, 상기 3차원 집적회로를 수직으로 관통하고, 각 그룹에 포함된 복수 개의 실리콘 관통전극들; 및상기 3차원 집적회로를 수직으로 관통하고, 상기 각 그룹에 포함된 적어도 두 개 이상의 예비 실리콘 관통전극들을 포함하고, 상기 예비 실리콘 관통전극들 각각은,자신이 포함된 그룹 내에서 리페어 가능한 수를 초과하는 실리콘 관통전극의 불량이 발생할 경우, 인접한 다른 그룹에 포함된 적어도 하나의 예비 실리콘 관통전극(RTSV)을 이용하여 상기 초과하는 실리콘 관통전극의 불량을 리페어하고, 상기 자신이 포함된 그룹에서 불량이 발생된 적어도 하나의 실리콘 관통전극으로부터 제1 신호를 수신하여 출력하는 제1 디멀티플렉서 및 제2 디멀티플렉서를 포함하고,상기 제1 디멀티플렉서는,상기 제1 신호가 수신될 경우, 해당 제1 디멀티플렉서가 속한 예비 실리콘 관통전극이 리페어 가능한 상태인지 확인하고, 리페어 가능한 상태일 경우, 해당 제1 디멀티플렉서가 속한 예비 실리콘 관통전극에 연결된 신호 라인으로 상기 제1 신호를 출력하고, 리페어 불가능한 상태일 경우, 상기 인접한 다른 그룹들 중 제1 그룹 및 제2 그룹에 연결된 신호 라인 중 어느 한 신호 라인으로 상기 제1 신호를 출력하는, 3차원 집적회로
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제1항에 있어서, 상기 인접한 다른 그룹은, 어느 하나의 그룹을 기준으로 상측, 하측, 좌측, 우측 및 대각선 방향 중 적어도 하나에 인접하여 배치된 그룹인, 3차원 집적회로
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제1항에 있어서, 상기 예비 실리콘 관통전극들은,상기 각 그룹에 포함된 복수 개의 실리콘 관통전극들과 함께 m x n(여기서, m 및 n은 자연수임) 배열로 배치되고, 상기 각 그룹에서 적어도 두 개 이상의 코너 각각에 배치된, 3차원 집적회로
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제3항에 있어서, 상기 예비 실리콘 관통전극들이,상기 각 그룹의 두 개의 코너 각각에 배치된 경우, 자신이 포함된 그룹 내에서 서로 마주하는 두 개의 코너에 배치되고, 상기 인접한 다른 그룹에 포함된 예비 실리콘 관통전극들과 대칭되도록 배치되는, 3차원 집적회로
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제1항에 있어서, 상기 각 그룹은,상기 인접한 다른 그룹에 포함된 적어도 하나의 예비 실리콘 관통전극(RTSV)을 이용하여 상기 각 그룹에 포함된 예비 실리콘 관통전극들 개수의 최대 2배에 해당하는 불량을 리페어하는, 3차원 집적회로
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제1항에 있어서, 상기 예비 실리콘 관통전극들 각각은,상기 제1 그룹에 포함된 예비 실리콘 관통전극으로부터 제2 신호를 수신하여 출력하는 제3 디멀티플렉서; 및 상기 제2 그룹에 포함된 예비 실리콘 관통전극으로부터 제3 신호를 수신하여 출력하는 제4 디멀티플렉서를 포함하는, 3차원 집적회로
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복수 개의 그룹으로 구분되는 3차원 집적회로에 있어서, 상기 3차원 집적회로를 수직으로 관통하고, 각 그룹에 포함된 복수 개의 실리콘 관통전극들; 및상기 3차원 집적회로를 수직으로 관통하고, 상기 각 그룹에 포함된 적어도 두 개 이상의 예비 실리콘 관통전극들을 포함하고, 상기 예비 실리콘 관통전극들 각각은,자신이 포함된 그룹 내에서 리페어 가능한 수를 초과하는 실리콘 관통전극의 불량이 발생할 경우, 인접한 다른 그룹에 포함된 적어도 하나의 예비 실리콘 관통전극(RTSV)을 이용하여 상기 초과하는 실리콘 관통전극의 불량을 리페어하고,상기 자신이 포함된 그룹에서 불량이 발생된 적어도 하나의 실리콘 관통전극으로부터 제1 신호를 수신하여 출력하는 제2 디멀티플렉서를 포함하고,상기 제2 디멀티플렉서는, 상기 제1 신호가 수신될 경우, 해당 제2 디멀티플렉서가 속한 예비 실리콘 관통전극이 리페어 가능한 상태인지 확인하고, 리페어 가능한 상태일 경우, 해당 제2 디멀티플렉서가 속한 예비 실리콘 관통전극에 연결된 신호 라인으로 상기 제1 신호를 출력하고, 리페어 불가능한 상태일 경우, 상기 제1 그룹 및 상기 제2 그룹에 연결된 신호 라인 중 어느 한 신호 라인으로 상기 제1 신호를 출력하는, 3차원 집적회로
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복수 개의 그룹으로 구분되는 3차원 집적회로에 있어서, 상기 3차원 집적회로를 수직으로 관통하고, 각 그룹에 포함된 복수 개의 실리콘 관통전극들; 및상기 3차원 집적회로를 수직으로 관통하고, 상기 각 그룹에 포함된 적어도 두 개 이상의 예비 실리콘 관통전극들을 포함하고, 상기 예비 실리콘 관통전극들 각각은,자신이 포함된 그룹 내에서 리페어 가능한 수를 초과하는 실리콘 관통전극의 불량이 발생할 경우, 인접한 다른 그룹에 포함된 적어도 하나의 예비 실리콘 관통전극(RTSV)을 이용하여 상기 초과하는 실리콘 관통전극의 불량을 리페어하고,상기 인접한 다른 그룹들 중 제1 그룹에 포함된 예비 실리콘 관통전극으로부터 제2 신호를 수신하여 출력하는 제3 디멀티플렉서를 포함하고,상기 제3 디멀티플렉서는, 해당 제3 디멀티플렉서가 속한 예비 실리콘 관통전극이 리페어 가능한 상태일 경우, 해당 예비 실리콘 관통전극에 연결된 신호 라인으로 상기 수신된 제2 신호를 출력하고, 해당 제3 디멀티플렉서가 속한 예비 실리콘 관통전극이 리페어 불가능한 상태일 경우, 상기 제2 그룹에 연결된 신호 라인으로 상기 수신된 제2 신호를 출력하는, 3차원 집적회로
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복수 개의 그룹으로 구분되는 3차원 집적회로에 있어서, 상기 3차원 집적회로를 수직으로 관통하고, 각 그룹에 포함된 복수 개의 실리콘 관통전극들; 및상기 3차원 집적회로를 수직으로 관통하고, 상기 각 그룹에 포함된 적어도 두 개 이상의 예비 실리콘 관통전극들을 포함하고, 상기 예비 실리콘 관통전극들 각각은,자신이 포함된 그룹 내에서 리페어 가능한 수를 초과하는 실리콘 관통전극의 불량이 발생할 경우, 인접한 다른 그룹에 포함된 적어도 하나의 예비 실리콘 관통전극(RTSV)을 이용하여 상기 초과하는 실리콘 관통전극의 불량을 리페어하고,상기 인접한 다른 그룹들 중 제2 그룹에 포함된 예비 실리콘 관통전극으로부터 제3 신호를 수신하여 출력하는 제4 디멀티플렉서를 포함하고,상기 제4 디멀티플렉서는,해당 제4 디멀티플렉서가 속한 예비 실리콘 관통전극이 리페어 가능한 상태일 경우, 해당 예비 실리콘 관통전극에 연결된 신호 라인으로 상기 수신된 제3 신호를 출력하고, 해당 제4 디멀티플렉서가 속한 예비 실리콘 관통전극이 리페어 불가능한 상태일 경우, 상기 인접한 다른 그룹들 중 제1 그룹에 연결된 신호 라인으로 상기 수신된 제3 신호를 출력하는, 3차원 집적회로
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