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초광대역광원 기반의 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 분석시스템 및 방법

  • 기술번호 : KST2019033785
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 스펙트로스코피 시스템 및 방법에 관한 것으로, 프로브 광으로서 원적외선, 중적외선, 근적외선, 가시광 대역을 포함하는 초광대역광원을 사용하는 광펌프-광프로브 측정방법을 통해, 이종접합에 의해 형성되는 새로운 전도대-가전자대 에너지 대역을 선택적으로 프로브하는 것이 가능하여, 전자 정공 분리현상을 직접적으로 측정할 수 있고, 이러한 초광대역 광원의 사용으로 다양한 물질의 광여기 특성에 적합한 광원을 선택적으로 입사시킴으로써 측정범위를 넓힐 수 있는 장점을 갖는다.
Int. CL G01N 21/31 (2006.01.01) H01S 5/10 (2006.01.01) H01S 5/30 (2006.01.01)
CPC G01N 21/3103(2013.01) G01N 21/3103(2013.01) G01N 21/3103(2013.01) G01N 21/3103(2013.01) G01N 21/3103(2013.01)
출원번호/일자 1020160032171 (2016.03.17)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1760444-0000 (2017.07.17)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170721) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.03.17)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최현용 대한민국 서울특별시 송파구
2 김재석 대한민국 서울특별시 구
3 차순영 대한민국 서울특별시 은평구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한상수 대한민국 서울시 서초구 효령로**길 ** *층 (브릿지웰빌딩)(에이치앤피국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.03.17 수리 (Accepted) 1-1-2016-0258121-00
2 보정요구서
Request for Amendment
2016.03.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2016-0041879-48
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2016.04.15 수리 (Accepted) 1-1-2016-0362848-35
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.02.10 수리 (Accepted) 9-1-2017-0003719-77
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.03.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0179561-70
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.05.10 수리 (Accepted) 1-1-2017-0445800-69
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.05.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0445785-61
9 등록결정서
Decision to grant
2017.06.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0446451-42
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템에 있어서,소스레이저를 발생시키는 소스레이저발생부;상기 소스레이저를 입력받아 튜닝하여 초광대역광원을 형성하는 기능을 구비하는 광튜닝부;상기 광튜닝부의 출력의 일부를 입력받고, 상기 이종접합체에 대한 여기에너지를 조사하는 펌프광을 형성하는 펌프광조절부; 및상기 광튜닝부의 출력 중 상기 펌프광조절부에 입력된 부분에 대한 나머지를 입력받고, 측정을 위한 프로브광을 생성하는 프로브광조절부; 를 포함하고,상기 초광대역광원은 테라헤르츠대역, 원적외선, 중적외선, 근적외선 및 가시광선 대역을 포함하는 것을 특징으로 하고,상기 광튜닝부는,상기 소스레이저를 입력받아 테라헤르츠광을 생성하는 테라헤르츠광생성부,상기 소스레이저를 입력받아 가시광선 대역의 광을 생성하는 가시광생성부,상기 소스레이저를 입력받아 근적외선 대역의 광을 생성하는 근적외선생성부, 및상기 근적외선생성부의 출력을 입력받아 중적외선 대역의 광을 생성하는 중적외선생성부,를 포함하는 것을 특징으로 하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템
2 2
삭제
3 3
청구항 1에 있어서,상기 광튜닝부가 형성하는 상기 초광대역광원은, 상기 테라헤르츠광생성부, 상기 가시광생성부, 상기 근적외선생성부 및 상기 중적외선생성부 중 선택되는 둘 이상의 출력의 합성으로 되는 것을 특징으로 하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템
4 4
청구항 1에 있어서,상기 광튜닝부가 형성하는 상기 초광대역광원은, 상기 테라헤르츠광생성부, 상기 가시광생성부, 상기 근적외선생성부 및 상기 중적외선생성부 중 선택되는 하나 이상의 출력의 조합으로 출력되는 것을 특징으로 하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템
5 5
청구항 1에 있어서,상기 근적외선생성부는 광 파라메트릭 증폭기(optical parametric amplifier)인 것을 특징으로 하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템
6 6
청구항 1에 있어서,상기 중적외선생성부는 차주파수생성기(Difference Frequency Generator)인 것을 특징으로 하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템
7 7
청구항 1에 있어서,상기 가시광생성부는, 가시광 대역의 초연속광원(white light supercontinuum)을 생성하는 초연속광원생성부인 것을 특징으로 하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템
8 8
청구항 1에 있어서,상기 테라헤르츠광은 원적외선 대역의 광인 것을 특징으로 하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템
9 9
청구항 1에 있어서,상기 소스레이저발생부는, 공진기, 상기 공진기의 출력을 확장하는 기능을 구비하는 파형확장기, 상기 파형확장기의 출력을 증폭하는 기능을 구비하는 증폭기, 및 상기 증폭기의 출력을 압축하는 기능을 구비하는 파형압축기,를 포함하는 것을 특징으로 하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템
10 10
청구항 1에 있어서, 상기 프로브광조절부는, 상기 입력된 광튜닝부의 출력 중 펌프광조절부에 입력된 부분에 대한 나머지에 대해 시간위상지연시키는 기능을 수행하는 시간위상천이부를 포함하는 것을 특징으로 하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템
11 11
이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템에 있어서,소스레이저를 발생시키는 소스레이저발생부;상기 소스레이저를 입력받고, 상기 이종접합체에 대하여 여기에너지를 조사하는 펌프광을 형성하는 펌프광조절부;상기 소스레이저를 입력받아 튜닝하여 초광대역광원을 형성하는 기능을 구비하는 광튜닝부; 및상기 광튜닝부의 출력을 입력받고, 측정을 위한 프로브광을 생성하는 프로브광조절부; 를 포함하고,상기 초광대역광원은 테라헤르츠대역, 원적외선, 중적외선, 근적외선 및 가시광선 대역을 포함하는 것을 특징으로 하고,상기 광튜닝부는,상기 소스레이저를 입력받아 테라헤르츠광을 생성하는 테라헤르츠광생성부,상기 소스레이저를 입력받아 가시광선 대역의 광을 생성하는 가시광생성부,상기 소스레이저를 입력받아 근적외선 대역의 광을 생성하는 근적외선생성부, 및상기 근적외선생성부의 출력을 입력받아 중적외선 대역의 광을 생성하는 중적외선생성부,를 포함하는 것을 특징으로 하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템
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삭제
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청구항 11에 있어서, 상기 프로브광조절부는, 상기 입력된 광튜닝부의 출력에 대하여 시간위상지연시키는 기능을 수행하는 시간위상천이부를 포함하는 것을 특징으로 하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상의 측정시스템
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청구항 1의 측정시스템을 이용하여 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상을 측정하는 방법에 있어서, i) 상기 이종접합체에 대하여, 펌프-프로브 분광방법에 적합한 펌프광 및 프로브광의 파장대역 또는 주파수대역를 결정하는 단계;ii) 상기 i)단계에서 결정된 파장대역 또는 주파수대역에 속하는 펌프광 및 프로브광을 생성하기 위해 상기 소스레이저발생부의 작동변수 또는 상기 테라헤르츠광생성부, 상기 가시광생성부, 상기 근적외선생성부, 및 상기 중적외선생성부 중 하나 이상의 작동변수를 결정하는 단계;iii) 상기 ii) 단계에서 결정된 상기 소스레이저발생부 또는 상기 광튜닝부의 작동변수에 따라 상기 펌프광 및 상기 프로브광이 생성되는 단계;를 포함하는 이종접합체의 전자-정공쌍 분리 현상 측정방법
15 15
이종접합체의 초고속 전자-정공쌍 분리 현상을 이용하는 광검출디바이스에 있어서,소정의 크기 이상의 여기에너지를 갖는 검출대상 광이 입력되면 전자-정공쌍 분리 현상이 야기되는 이종접합소자;소스레이저를 발생시키는 소스레이저발생부;상기 소스레이저를 입력받아 튜닝하여 초광대역광원을 형성하는 기능을 구비하는 광튜닝부;상기 광튜닝부의 출력을 입력받고, 측정을 위한 프로브광을 생성하는 프로브광조절부; 를 포함하고,상기 초광대역광원은 테라헤르츠대역, 원적외선, 중적외선, 근적외선 및 가시광선 대역을 포함하고,상기 광튜닝부는,상기 소스레이저를 입력받아 테라헤르츠광을 생성하는 테라헤르츠광생성부,상기 소스레이저를 입력받아 가시광선 대역의 광을 생성하는 가시광생성부,상기 소스레이저를 입력받아 근적외선 대역의 광을 생성하는 근적외선생성부, 및상기 근적외선생성부의 출력을 입력받아 중적외선 대역의 광을 생성하는 중적외선생성부,를 포함하는 것을 특징으로 하는 광검출디바이스
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청구항 15에 있어서,상기 이종접합소자는, 황화몰리브덴(MoS2) 및 황화텅스텐(WS2)을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 광검출디바이스
17 17
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패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 연세대학교 창의소재디스커버리사업 극 초고속 전하분리 현상 기반 비(非) P/N형 다이오드 소재개발