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아날로그 평균지연 방법에서 수집한 신호로부터 가상의 형광분포 모델을 통해 최소자승오차를 계산하여 2개 이상의 형광수명 성분을 구하는 형광수명 측정장치 및 그 측정방법

  • 기술번호 : KST2019033954
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예에 따른 형광수명 측정장치는 조사광을 발생시키는 조사광 발생부, 조사광으로 형광 분자를 포함하는 적어도 하나 이상의 시료를 조사하여 생성되는 형광 광자의 형광 신호를 수집하는 형광 광자 검출부, 수집된 형광 신호의 함수와 시뮬레이션 함수에 대하여 최소 자승법을 이용하여 형광수명을 계산하는 계측부를 포함한다.
Int. CL G01N 21/64 (2006.01.01) G01J 1/44 (2006.01.01)
CPC G01N 21/6486(2013.01) G01N 21/6486(2013.01) G01N 21/6486(2013.01) G01N 21/6486(2013.01)
출원번호/일자 1020160176735 (2016.12.22)
출원인 연세대학교 산학협력단, (주) 인텍플러스
등록번호/일자 10-1859172-0000 (2018.05.11)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20180516) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.12.22)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
2 (주) 인텍플러스 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김덕영 대한민국 서울특별시 성동구
2 황원상 대한민국 서울특별시 서대문구
3 김동은 대한민국 경기도 광명시 금당로 **, **
4 강민구 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 신지 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 ***호실(역삼동, 청원빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 (주) 인텍플러스 대전광역시 유성구
2 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2016-1262679-26
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2017-0015082-12
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2017.06.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2017.07.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0111966-54
5 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2017.09.25 수리 (Accepted) 1-1-2017-0935287-40
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2017.11.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0809010-91
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2018.01.08 수리 (Accepted) 1-1-2018-0022677-18
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2018.01.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0022678-64
9 등록결정서
Decision to grant		 2018.04.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0225383-08
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번호 청구항
1 1
조사광을 발생시키는 조사광 발생부;상기 조사광으로 형광 분자를 포함하는 적어도 하나 이상의 시료를 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광 광자 검출부;상기 형광 광자를 증폭시켜 형광 신호로 변환하는 변환부; 및상기 형광 신호의 함수와 시뮬레이션 함수에 대하여 최소 자승법을 이용하여 형광수명을 계산하는 계측부를 포함하고,상기 시료의 형광수명을 , 시료의 형광분포 함수를 , 형광수명 측정장치의 응답 함수를 라 할 때, 상기 시뮬레이션 함수 는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 형광수명 측정장치
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 형광 신호의 측정 함수를 라 할 때,상기 최소 자승법에서, 자승 는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 형광수명 측정장치
4 4
조사광을 발생시키는 조사광 발생부;상기 조사광으로 형광 분자를 포함하는 적어도 하나 이상의 시료를 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광 광자 검출부;상기 형광 광자를 증폭시켜 형광 신호로 변환하는 변환부; 및상기 형광 신호의 함수와 시뮬레이션 함수에 대하여 최소 자승법을 이용하여 형광수명을 계산하는 계측부를 포함하고,상기 시료의 형광수명을 각각 및 , 상기 시료의 전체 대비 형광수명 값을 갖는 시료의 비율을 , 시료의 형광분포 함수를 , 측정장치의 응답 함수를 라 할 때, 상기 시뮬레이션 함수 는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 형광수명 측정장치
5 5
제4항에 있어서,상기 형광 신호의 측정 함수를 라 할 때,상기 최소 자승법에서, 자승 는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 형광수명 측정장치
6 6
조사광을 발생시키는 광발생 단계;상기 조사광을 적어도 하나 이상의 시료에 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 조사 단계;상기 형광 광자로부터 형광 신호로 변환하는 변환 단계;상기 형광 신호의 함수와 시뮬레이션 함수에 대하여 최소 자승법을 이용하여 형광수명을 계산하는 계측 단계를 포함하고, 상기 계측 단계는,상기 시료의 형광수명을 , 시료의 형광분포 함수를 , 측정장치의 응답 함수를 라 할 때, 상기 시뮬레이션 함수는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 형광수명 측정방법
7 7
삭제
8 8
제6항에 있어서,상기 계측 단계는,상기 형광 신호의 측정 함수를 라 할 때, 상기 최소 자승법에서, 자승 는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 형광수명 측정방법
9 9
조사광을 발생시키는 광발생 단계;상기 조사광을 적어도 하나 이상의 시료에 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 조사 단계;상기 형광 광자로부터 형광 신호로 변환하는 변환 단계;상기 형광 신호의 함수와 시뮬레이션 함수에 대하여 최소 자승법을 이용하여 형광수명을 계산하는 계측 단계를 포함하고, 상기 계측 단계는,상기 시료의 형광수명을 각각 및 , 상기 시료의 전체 대비 형광수명 값을 갖는 시료의 비율을 , 시료의 형광분포 함수를 , 측정장치의 응답 함수를 라 할 때, 상기 시뮬레이션 함수를 는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 형광수명 측정방법
10 10
제9항에 있어서,상기 계측 단계는,상기 형광 신호의 측정 함수를 라 할 때,상기 최소 자승법에서, 자승 는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 형광수명 측정방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN110088599 CN 중국 FAMILY
2 EP03550288 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 US10845311 US 미국 FAMILY
4 US20190310198 US 미국 FAMILY
5 WO2018117434 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN110088599 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 EP3550288 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 EP3550288 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 US2019310198 US 미국 DOCDBFAMILY
5 WO2018117434 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 (주)인텍플러스 기계산업핵심기술개발사업 고해상도 형광발광/형광수명 현미경