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반도체 테스트를 지원하는 보스트 모듈 장치 및 그 동작 방법

  • 기술번호 : KST2019033983
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체 테스트를 지원하기 위한 보스트 모듈 장치 및 그 동작 방법을 개시한다. 본 발명의 일실시예에 따르면 보스트 모듈 장치는 자동 테스트 장치로부터 적어도 3 이상의 상태를 갖는 테스트 데이터를 수신하고, 상기 적어도 3 이상의 상태에 기초하여 상기 수신된 적어도 3 이상의 상태를 갖는 테스트 데이터를 테스트 대상 장치용 테스트 데이터로 변환하고, 적어도 하나 이상의 테스트 대상 장치로 상기 변환된 테스트 데이터를 제공하는 디코더 및 상기 적어도 하나 이상의 테스트 대상 장치로부터 상기 제공된 테스트 데이터에 대한 테스트 응답 데이터를 수신하고, 상기 수신된 테스트 응답 데이터에 기초하여 적어도 3 이상의 전압 상태를 결정하고, 상기 자동 테스트 장비로 상기 결정된 적어도 3 이상의 전압 상태를 제공하는 인코더를 포함할 수 있다.
Int. CL G01R 31/319 (2006.01.01) G01R 31/28 (2006.01.01)
CPC G01R 31/31905(2013.01) G01R 31/31905(2013.01) G01R 31/31905(2013.01)
출원번호/일자 1020170016838 (2017.02.07)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1808480-0000 (2017.12.06)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20171214) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.02.07)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 대한민국 서울특별시 마포구
2 서성열 대한민국 서울특별시 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김연권 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, ****/****호(문정동, 문정대명벨리온)(시안특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.02.07 수리 (Accepted) 1-1-2017-0126712-01
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.05.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.07.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0530891-11
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.07.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0112032-15
5 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.08.08 수리 (Accepted) 1-1-2017-0764582-48
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.09.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0951096-02
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.09.28 수리 (Accepted) 1-1-2017-0951085-00
8 등록결정서
Decision to grant
2017.11.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0827465-62
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
자동 테스트 장치로부터 적어도 3 이상의 상태를 갖는 테스트 데이터를 수신하고, 상기 적어도 3 이상의 상태에 기초하여 상기 수신된 적어도 3 이상의 상태를 갖는 테스트 데이터를 테스트 대상 장치용 테스트 데이터로 변환하고, 적어도 하나 이상의 테스트 대상 장치로 상기 변환된 테스트 데이터를 제공하는 디코더; 및상기 적어도 하나 이상의 테스트 대상 장치로부터 상기 제공된 테스트 데이터에 대한 테스트 응답 데이터를 수신하고, 상기 수신된 테스트 응답 데이터에 기초하여 적어도 3 이상의 전압 상태를 결정하고, 상기 자동 테스트 장비로 상기 결정된 적어도 3 이상의 전압 상태를 제공하는 인코더를 포함하는보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 적어도 3 이상의 상태는, 부정 상태, 긍정 상태 및 하이 임피던스(high impedance) 상태 중에서 어느 하나를 포함하는 보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 디코더는, 상기 자동 테스트 장치와 연결되는 두 개의 입력 채널들을 통하여 제1 및 제2 상태 테스트 데이터를 수신하고, 여기서, 상기 제1 및 제2 상태 테스트 데이터는 상기 적어도 3 이상의 상태를 갖고, 상기 적어도 3 이상의 상태에 기초하여 상기 제1 및 제2 상태 테스트 데이터를 조합하여 상기 제1 및 제2 상태 테스트 데이터를 세 개의 테스트 대상 장치용 테스트 데이터로 변환하는 테스트 데이터 생성부를 포함하는보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치
4 4
제3항에 있어서,상기 디코더는,상기 제1 상태 테스트 데이터가 부정 상태이고, 상기 제2 상태 테스트 데이터가 부정 상태일 경우, 제1 테스트 대상 장치용 테스트 데이터를 부정 상태를 갖는 테스트 대상 장치용 테스트 데이터로 변환하고, 제2 테스트 대상 장치용 테스트 데이터를 부정 상태를 갖는 테스트 대상 장치용 테스트 데이터로 변환하고, 제3 테스트 대상 장치용 테스트 데이터를 부정 상태를 갖는 테스트 대상 장치용 테스트 데이터로 변환하여 상기 적어도 하나 이상의 테스트 대상 장치로 제공하고,상기 세 개의 테스트 대상 장치용 테스트 데이터들은 상기 제1 테스트 대상 장치용 테스트 데이터, 상기 제2 테스트 대상 장치용 테스트 데이터, 및 상기 제3 테스트 대상 장치용 테스트 데이터를 포함하는보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 인코더는,상기 적어도 하나 이상의 테스트 대상 장치로부터 제1, 제2, 및 제3 테스트 응답 데이터 중에서 적어도 하나 이상을 포함하는 상기 제공된 테스트 데이터에 대한 테스트 응답 데이터를 수신하는보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 인코더는,하이 상태 및 로우 상태 중 어느 하나를 포함하는 상기 제1, 제2, 및 제3 테스트 응답 데이터를 수신하는보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 인코더는,상기 제1, 제2, 및 제3 테스트 응답 데이터의 상태에 기초하여 제1 적어도 3 이상의 전압 상태 및 제2 적어도 3 이상의 전압 상태를 결정하고, 상기 자동 테스트 장치와 연결되는 두 개의 출력 채널을 통하여 상기 결정된 제1 및 제2 적어도 3 이상의 전압 상태를 제공하는보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 인코더는,상기 제1, 제2 및 제3 테스트 응답 데이터가 로우 상태인 경우, 상기 제1 및 제2 적어도 3 이상의 전압 상태를 소스 전압을 결정하는보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치
9 9
제7항에 있어서,상기 인코더는,상기 제1 테스트 응답 데이터가 로우 상태이고, 상기 제2 테스트 응답 데이터가 로우 상태이고, 상기 제3 테스트 응답 데이터가 하이 상태인 경우, 상기 제1 적어도 3 이상의 전압 상태를 소스 전압으로 결정하고, 상기 제2 적어도 3 이상의 전압 상태를 제2 드레인 전압으로 결정하는 보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치
10 10
제1항에 있어서,상기 인코더는,상기 적어도 3 이상의 전압 상태를 소스 전압, 제1 드레인 전압, 및 제2 드레인 전압 중에서 어느 하나로 결정하는보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치
11 11
디코더에서, 자동 테스트 장치로부터 적어도 3 이상의 상태를 갖는 테스트 데이터를 수신하는 단계;상기 디코더에서, 상기 적어도 3 이상의 상태에 기초하여 상기 수신된 적어도 3 이상의 상태를 갖는 테스트 데이터를 테스트 대상 장치용 테스트 데이터로 변환하는 단계;상기 디코더에서, 적어도 하나 이상의 테스트 대상 장치로 상기 변환된 테스트 데이터를 제공하는 단계;인코더에서, 상기 적어도 하나 이상의 테스트 대상 장치로부터 상기 제공된 테스트 데이터에 대한 테스트 응답 데이터를 수신하는 단계;상기 인코더에서, 상기 수신된 테스트 응답 데이터에 기초하여 적어도 3 이상의 전압 상태를 결정하는 단계; 및상기 인코더에서, 상기 자동 테스트 장비로 상기 결정된 적어도 3 이상의 전압 상태를 제공하는 단계를 포함하는보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치의 동작 방법
12 12
제11항에 있어서,상기 적어도 3 이상의 상태는, 부정 상태, 긍정 상태 및 하이 임피던스(high impedance) 상태 중에서 어느 하나를 포함하고,상기 적어도 3 이상의 전압 상태는, 소스 전압, 제1 드레인 전압, 및 제2 드레인 전압 중에서 어느 하나를 포함하는 보스트(built off self test, BOST) 모듈 장치의 동작 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 연세대학교 산학협력단 전자정보디바이스산업원천기술개발사업(반도체공정장비) 차세대 반도체 테스트 핀 감소를 위한 built off self test (BOST) 기술 연구