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조사광을 발생시키는 조사광 발생부;상기 조사광으로 형광 분자를 포함하는 적어도 하나 이상의 시료를 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광 광자 검출부;상기 형광 광자를 증폭시켜 형광 신호로 변환하는 변환부; 및상기 형광 신호의 함수를 적분한 값에 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 이용해 형광 신호의 함수의 데이터를 분석하는 계측부를 포함하고,상기 형광 신호의 함수를 라 할 때,상기 형광 신호의 함수 는 하기 수학식 1을 이용하여 계산되며,상기 를 적분한 값을 라 할 때,상기 는 1이 되도록 규격화시켜 하기 수학식 2,3을 이용하여 계산되며,상기 시뮬레이션 함수를 라 할 때,상기 시뮬레이션 함수는 , , , , , , 중 선택된 어느 하나로 이루어지며,상기 와 시뮬레이션 함수 를 곱한 함수를 적분한 값에 임의의 상수 를 이용하여 및 와 관련된 개의 연립방정식을 만들고, 하기 수학식 4와 더불어 개의 연립방정식을 얻어 개의 연립방정식의 해를 구함에 따라 ()와 ( )를 구하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정장치
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제1항에 있어서,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 5와 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 6과 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 7과 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 8과 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 9와 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 10과 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 11과 같은 것을 특징으로 하는 형광수명 측정장치
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조사광을 발생시키는 광발생 단계;상기 조사광을 적어도 하나 이상의 시료에 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 조사 단계;상기 형광 광자로부터 형광 신호로 변환하는 변환 단계;상기 형광 신호의 함수 를 적분한 값에 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 이용해 형광 신호의 함수 의 데이터를 분석하는 계측 단계를 포함하고,상기 형광 신호의 함수 는 하기 수학식 1을 이용하여 계산되며, 상기 를 적분한 값을 라 할 때,상기 는 1이 되도록 규격화시켜 하기 수학식 2,3을 이용하여 계산되며,상기 시뮬레이션 함수를 라 할 때,상기 시뮬레이션 함수는 , , , , , , 중 선택된 어느 하나로 이루어지며,상기 와 시뮬레이션 함수 를 곱한 함수를 적분한 값에 임의의 상수 를 이용하여 및 와 관련된 개의 연립방정식을 만들고, 하기 수학식 4와 더불어 개의 연립방정식을 얻어 개의 연립방정식의 해를 구함에 따라 ()와 ( )를 구하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정방법
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제4항에 있어서,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 5와 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 6과 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 7과 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 8과 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 9와 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 10과 같으며,상기 시뮬레이션 함수가 인 경우, 상기 와 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 적분한 값은 하기 수학식 11과 같은 것을 특징으로 하는 형광수명 측정방법
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