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가스가 제공되는 노즐 전극들;상기 노즐 전극들 사이에 배치되고, 상기 노즐 전극들 내의 상기 가스를 이온화하는 전자들을 방출하는 필라멘트 전극;상기 노즐 전극들 외부에 배치된 접지 전극; 및상기 접지 전극과 상기 노즐 전극들 사이에 배치되고, 상기 이온화된 가스를 상기 접지 전극의 방향으로 추출하는 추출 전극을 포함하되,상기 추출 전극은 상기 노즐 전극들의 외부로부터 내부로 연장하는 추출 테일을 갖되,상기 노즐 전극들은:상기 필라멘트 전극의 일측에 배치된 제 1 노즐 전극; 및상기 필라멘트 전극의 타측에 배치된 제 2 노즐 전극을 포함하되,상기 제 1 및 제 2 노즐 전극들은 상기 필라멘트 전극 내의 제 1 및 제 2 커버 테일들을 각각 포함하는 이온화 소스
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제 1 항에 있어서,상기 추출 전극은 상기 추출 테일을 둘러싸는 추출 링을 더 포함하되,상기 추출 테일은 상기 추출 링으로부터 157의 각도로 연결되는 이온화 소스
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제 2 항에 있어서,상기 추출 테일과 상기 노즐 전극들 사이의 거리는 상기 추출 링과 상기 노즐 전극들 사이의 거리와 동일한 이온화 소스
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삭제
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제 1 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 커버 테일들은 그들의 내경 대비 0
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제 1 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 커버 테일들은 서로 대향하는 방향으로 볼록하게 라운드진 이온화 소스
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제 1 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 커버 테일들의 각각은 그들의 내경 대비 0
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제 1 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 노즐 링들과 상기 제 1 및 제 2 커버 테일들은 동일한 직경을 갖는 이온화 소스
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제 1 항에 있어서,상기 노즐 전극들 사이에 배치되고, 상기 필라멘트 전극을 둘러싸는 커버 링을 더 포함하는 이온화 소스
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제 1 항에 있어서,상기 노즐 전극들이 10000V로 대전될 때, 상기 필라멘트 전극은 9900V로 대전되고, 상기 추출 전극은 9000V로 대전되는 이온화 소스
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가스 공급 부;상기 가스 공급 부로부터 제공되는 가스를 이온화하여 일차 이온을 생성하고, 상기 일차 이온을 시료에 제공하는 이온화 소스; 및상기 일차 이온에 의해 상기 시료로부터 생성된 이차 이온을 검출하여 상기 시료의 질량을 분석하는 질량 분석 부를 포함하되,상기 이온화 소스는: 상기 가스가 제공되는 노즐 전극들;상기 노즐 전극들 사이에 배치되고, 상기 노즐 전극들 내의 상기 가스를 이온화하는 전자들을 방출하는 필라멘트 전극;상기 노즐 전극들 외부에 배치된 접지 전극; 및상기 접지 전극과 상기 노즐 전극들 사이에 배치되고, 상기 이온화된 가스를 상기 접지 전극 방향으로 추출하는 추출 전극을 포함하되,상기 추출 전극은 상기 노즐 전극들의 외부로부터 내부로 연장하는 추출 테일을 갖되,상기 노즐 전극들은:상기 필라멘트 전극의 일측에 배치된 제 1 노즐 전극; 및상기 필라멘트 전극의 타측에 배치된 제 2 노즐 전극을 포함하되,상기 제 1 및 제 2 노즐 전극들은 상기 필라멘트 전극 내의 제 1 및 제 2 커버 테일들을 각각 포함하는 이차이온 질량분석기
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