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선형 배열된 다중 측정 지점에서의 다중 신호원 위치 측정을 위한 위치 파라미터 클러스터링 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2019034609
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 선형 배열된 다중 측정 지점에서의 다중 신호원 위치 측정을 위한 위치 파라미터 클러스터링 장치 및 방법이 개시된다. 위치 파라미터 클러스터링 방법은 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에서 수신된 복수의 신호원들의 방사 신호들을 식별하는 단계; 상기 식별된 방사 신호들로부터 상기 복수의 신호원들 각각의 위치를 추정하기 위한 위치 파라미터들을 측정하는 단계; 및 상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들의 크기를 이용하여 상기 측정된 위치 파라미터들을 각각의 신호원 별로 클러스터링 하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL G01S 7/35 (2006.01.01) G01S 19/37 (2010.01.01) G01S 13/02 (2006.01.01)
CPC G01S 7/352(2013.01) G01S 7/352(2013.01) G01S 7/352(2013.01)
출원번호/일자 1020180067986 (2018.06.14)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0141347 (2019.12.24) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임형수 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.06.14 수리 (Accepted) 1-1-2018-0580154-95
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번호 청구항
1 1
선형 배열된 복수의 수신기들 각각에서 수신된 복수의 신호원들의 방사 신호들을 식별하는 단계;상기 식별된 방사 신호들로부터 상기 복수의 신호원들 각각의 위치를 추정하기 위한 위치 파라미터들을 측정하는 단계; 및상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들의 크기를 이용하여 상기 측정된 위치 파라미터들을 각각의 신호원 별로 클러스터링 하는 단계를 포함하는 위치 파라미터 클러스터링 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 측정하는 단계는,상기 복수의 수신기들 각각에 대해 식별된 방사 신호들의 도래각, 수신 타이밍, 수신 전력, 도플러 주파수 편이 중 적어도 하나의 위치 파라미터를 측정하는 위치 파라미터 클러스터링 방법
3 3
제1항에 있어서,상기 클러스터링 하는 단계는,상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들이 가지는 크기의 순서를 통해 동일한 순서를 가지는 위치 파라미터들을 조합함으로써 상기 측정된 위치 파라미터들을 각각의 신호원 별로 클러스터링 하는 위치 파라미터 클러스터링 방법
4 4
제1항에 있어서,상기 각각의 신호원 별로 클러스터링 된 위치 파라미터들을 이용하여 상기 복수의 신호원들 각각에 대한 위치를 추정하는 단계를 더 포함하는 위치 파라미터 클러스터링 방법
5 5
선형 배열된 복수의 수신기들 각각에서 측정된 복수의 신호원들의 방사 신호들을 각각의 신호원 별로 클러스터링 하는 프로세서를 포함하고,상기 프로세서는,선형 배열된 복수의 수신기들 각각에서 수신된 복수의 신호원들의 방사 신호들을 식별하고, 상기 식별된 방사 신호들로부터 상기 복수의 신호원들 각각의 위치를 추정하기 위한 위치 파라미터들을 측정하며, 상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들의 크기를 이용하여 상기 측정된 위치 파라미터들을 각각의 신호원 별로 클러스터링 하는 위치 파라미터 클러스터링 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 프로세서는,상기 복수의 수신기들 각각에 대해 식별된 방사 신호들의 도래각, 수신 타이밍, 수신 전력, 도플러 주파수 편이 중 적어도 하나의 위치 파라미터를 측정하는 위치 파라미터 클러스터링 장치
7 7
제5항에 있어서,상기 프로세서는,상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들이 가지는 크기의 순서를 통해 동일한 순서를 가지는 위치 파라미터들을 조합함으로써 상기 측정된 위치 파라미터들을 각각의 신호원 별로 클러스터링 하는 위치 파라미터 클러스터링 장치
8 8
제5항에 있어서,상기 프로세서는,상기 각각의 신호원 별로 클러스터링 된 위치 파라미터들을 이용하여 상기 복수의 신호원들 각각에 대한 위치를 추정하는 위치 파라미터 클러스터링 장치
9 9
선형 배열된 복수의 수신기들 각각에서 수신된 복수의 신호원들의 방사 신호들을 식별하는 단계;상기 식별된 방사 신호들로부터 상기 복수의 신호원들 각각의 위치를 추정하기 위한 위치 파라미터들을 측정하는 단계;상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들의 크기에 기초하여 상기 측정된 위치 파라미터들을 각각의 신호원 별로 1차 클러스터링 하는 단계; 및상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들의 개수에 기초하여 각각의 신호원 별로 1차 클러스터링된 위치 파라미터들을 2차 클러스터링하는 단계를 포함하는 위치 파라미터 클러스터링 방법
10 10
제9항에 있어서,상기 측정하는 단계는,상기 복수의 수신기들 각각에 대해 식별된 방사 신호들의 도래각, 수신 타이밍, 수신 전력, 도플러 주파수 편이 중 적어도 하나의 위치 파라미터를 측정하는 위치 파라미터 클러스터링 방법
11 11
제9항에 있어서,상기 1차 클러스터링 하는 단계는,상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들이 가지는 크기의 순서를 통해 동일한 순서를 가지는 위치 파라미터들을 조합함으로써 상기 측정된 위치 파라미터들을 각각의 신호원 별로 클러스터링 하는 위치 파라미터 클러스터링 방법
12 12
제10항에 있어서,상기 2차 클러스터링 하는 단계는,상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들의 개수에 기초하여 상기 1차 클러스터링 된 위치 파라미터들의 교차점에 대응하는 수신기를 결정하는 단계; 및상기 1차 클러스터링 된 위치 파라미터들 중 상기 교차점 이후에 존재하는 위치 파라미터들을 반전시킴으로써 2차 클러스터링 하는 단계를 포함하는 위치 파라미터 클러스터링 방법
13 13
제9항에 있어서,상기 각각의 신호원 별로 2차 클러스터링 된 위치 파라미터들을 이용하여 상기 복수의 신호원들 각각에 대한 위치를 추정하는 단계를 더 포함하는 위치 파라미터 클러스터링 방법
14 14
선형 배열된 복수의 수신기들 각각에서 측정된 복수의 신호원들의 방사 신호들을 각각의 신호원 별로 클러스터링 하는 프로세서를 포함하고,상기 프로세서는,선형 배열된 복수의 수신기들 각각에서 수신된 복수의 신호원들의 방사 신호들을 식별하고, 상기 식별된 방사 신호들로부터 상기 복수의 신호원들 각각의 위치를 추정하기 위한 위치 파라미터들을 측정하며, 상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들의 크기에 기초하여 상기 측정된 위치 파라미터들을 각각의 신호원 별로 1차 클러스터링 하고, 상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들의 개수에 기초하여 각각의 신호원 별로 1차 클러스터링 된 위치 파라미터들을 2차 클러스터링 하는 위치 파라미터 클러스터링 장치
15 15
제14항에 있어서,상기 프로세서는,상기 복수의 수신기들 각각에 대해 식별된 방사 신호들의 도래각, 수신 타이밍, 수신 전력, 도플러 주파수 편이 중 적어도 하나의 위치 파라미터를 측정하는 위치 파라미터 클러스터링 장치
16 16
제14항에 있어서,상기 프로세서는,상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들이 가지는 크기의 순서를 통해 동일한 순서를 가지는 위치 파라미터들을 조합함으로써 상기 측정된 위치 파라미터들을 각각의 신호원 별로 1차 클러스터링 하는 위치 파라미터 클러스터링 장치
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제16항에 있어서,상기 프로세서는,상기 선형 배열된 복수의 수신기들 각각에 대응하여 측정된 위치 파라미터들의 개수에 기초하여 상기 1차 클러스터링 된 위치 파라미터들의 교차점에 대응하는 수신기를 결정하고, 상기 1차 클러스터링 된 위치 파라미터들 중 상기 교차점 이후에 존재하는 위치 파라미터들을 반전시킴으로써 2차 클러스터링 하는 위치 파라미터 클러스터링 장치
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제14항에 있어서,상기 프로세서는,상기 각각의 신호원 별로 2차 클러스터링 된 위치 파라미터들을 이용하여 상기 복수의 신호원들 각각에 대한 위치를 추정하는 위치 파라미터 클러스터링 장치
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 한국전자통신연구원 방송통신산업기술개발사업 무인비행체 기반 GPS 전파교란원 정밀탐지 기술 개발(보안과제)