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파장별로 광량이 상이하며, 소정의 파장대역을 가지는 광을 출력하는 광원부;상기 광원부에서 출력되는 광을 제1 서큘레이터를 통하여 수신하고, 수신된 광에 대하여 테스트 장치의 물리적 변화량에 따라 상이한 파장의 광을 상기 제1 서큘레이터로 반사시키는 반사 필터부;상기 제1 서큘레이터를 통하여 상기 반사 필터부에서 반사된 광을 수신하고, 수신된 광 중 통과대역에 해당하는 광은 투과시키며, 수신된 광 중 천이대역에 해당하는 광은 파장 크기에 대응하여 선형적으로 일부 투과 및 일부 반사시키고, 수신된 광 중 차단대역에 해당하는 광은 반사시키는 대역 필터부;상기 대역 필터부를 투과한 광의 광량을 측정하는 제1 감지부;상기 대역 필터부에서 반사된 광의 광량을 측정하는 제2 감지부; 및상기 광원부의 파장별 광량을 저장하고, 상기 제1 감지부에서 측정된 광량 및 상기 제2 감지부에서 측정된 광량을 합한 값과, 상기 저장된 파장별 광량을 참조하여 상기 반사 필터부에서 반사된 광의 파장을 산출하며, 산출된 파장에 기반하여 상기 테스트 장치의 물리량을 제어하는 제1 데이터 처리부를 포함하고,상기 반사 필터부는,상기 테스트 장치의 물리적 변화량에 따라 광섬유의 길이가 변화되고, 광섬유 길이의 변화에 따라 굴절률 변화 주기에 해당하는 길이가 변화 함으로써 반사되는 광의 파장을 변화시키는광량-파장 변환을 이용한 물리량 제어 장치
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청구항 1에 있어서,상기 대역 필터부는, 고주파인 통과대역 및 저주파인 차단대역을 가지는 고역 필터이며,상기 제1 데이터 처리부는, 상기 제1 감지부 및 상기 제2 감지부에서 모두 미리 설정된 값 이상의 광량이 측정됨에 따라, 상기 반사 필터부에서 반사된 광의 파장을 하기 수학식 1에 의하여 산출하는[수학식 1]-여기서, 는 상기 반사 필터부에서 반사된 광의 파장, λ₁은 상기 대역 필터부의 차단대역과 천이대역의 경계파장, λ₂는 상기 대역 필터부의 통과대역과 천이대역의 경계파장, P₁은 상기 제1 감지부에서 측정된 광량, P₂는 상기 제2 감지부에서 측정된 광량임 -광량-파장 변환을 이용한 물리량 제어 장치
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파장별로 광량이 상이하며, 소정의 파장대역을 가지는 광을 출력하는 광원부;상기 광원부에서 출력되는 광을 제2 서큘레이터를 통하여 수신하고, 수신된 광에 대하여 테스트 장치의 물리적 변화량에 따라 상이한 파장의 광을 상기 제2 서큘레이터로 반사시키는 반사 필터부;상기 제2 서큘레이터를 통하여 상기 반사 필터부에서 반사된 광을 수신하고, 수신된 광 중 고주파인 통과대역에 해당하는 광은 제3 서큘레이터로 투과시키며, 수신된 광 중 천이대역에 해당하는 광은 파장 크기에 대응하여 선형적으로 상기 제3 서큘레이터로 일부 투과 및 상기 제2 서큘레이터로 일부 반사시키고, 수신된 광 중 저주파인 차단대역에 해당하는 광은 상기 제2 서큘레이터로 반사시키는 제1 고역 필터부;상기 제3 서큘레이터를 통하여 상기 제1 고역 필터부에서 투과된 광을 수신하고, 수신된 광 중 고주파인 통과대역에 해당하는 광은 투과시키며, 수신된 광 중 천이대역에 해당하는 광은 파장 크기에 대응하여 선형적으로 일부 투과 및 상기 제3 서큘레이터로 일부 반사시키고, 수신된 광 중 저주파인 차단대역에 해당하는 광은 상기 제3 서큘레이터로 반사시키는 제2 고역 필터부;상기 제2 고역 필터부를 투과한 광의 광량을 측정하는 제3 감지부;상기 제2 서큘레이터를 통하여 수신된 상기 제1 고역 필터부로부터 반사된 광의 광량을 측정하는 제4 감지부;상기 제3 서큘레이터를 통하여 수신된 상기 제2 고역 필터부로부터 반사된 광의 광량을 측정하는 제5 감지부; 및상기 광원부의 파장별 광량을 저장하고, 상기 제3 감지부, 상기 제4 감지부 및 상기 제5 감지부에서 측정된 광량과, 상기 저장된 파장별 광량에 기반하여, 상기 반사 필터부에서 반사된 광의 파장을 산출하며, 상기 제3 감지부 및 상기 제4 감지부에서 측정된 광량이 감소하고 상기 제5 감지부에서 측정된 광량이 증가하는 방향으로 상기 테스트 장치의 물리량을 제어하는 제2 데이터 처리부를 포함하고,상기 반사 필터부는,상기 테스트 장치의 물리적 변화량에 따라 광섬유의 길이가 변화되고, 광섬유 길이의 변화에 따라 굴절률 변화 주기에 해당하는 길이가 변화 함으로써 반사되는 광의 파장을 변화시키는광량-파장 변환을 이용한 물리량 제어 장치
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청구항 4에 있어서,상기 제2 데이터 처리부는,상기 제3 감지부 및 상기 제4 감지부에서 측정된 광량을 상호 비교하여 상기 테스트 장치의 물리량 제어의 방향을 결정하는 광량-파장 변환을 이용한 물리량 제어 장치
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