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접합 다이오드를 이용한 이퓨즈 오티피 메모리 회로

  • 기술번호 : KST2019035699
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 이퓨즈 오티피(eFuse OTP) 메모리의 면적을 줄이고 데이터 센싱 불량율을 줄이는 기술에 관한 것이다. 이를 위해 본 발명에 따른 이퓨즈 오티피 셀은 채널 폭이 작은 엔모스 트랜지스터와 기억소자인 이퓨즈 링크를 구비한다.프로그램 선택 소자는 채널 폭이 큰 NMOS 트랜지스터 대신 DNW 안에 형성된 채널 폭이 작은 분리된 NMOS 트랜지스터의 바디인 PW과 소스 노드인 n+ 확산층 사이에 기생하는 접합 다이오드를 사용하는 NMOS-Diode eFuse OTP 셀이다. 본 발명에 따른 이퓨즈 오티피 셀은 프로그램 모드에서 NMOS 트랜지스터에 기생하는 접합 다이오드를 이용하여 이퓨즈를 블로잉 시킨다. 그리고 읽기 모드에서는 상기 접합 다이오드를 이용하는 것이 아니고 NMOS 트랜지스터를 이용하기 때문에 다이오드의 접촉전압(contact voltage) 강하 현상이 발생되지 않아 '0' 데이터에 대한 센싱 불량이 제거된다. 또한 읽기 모드에서 채널 폭이 작은 NMOS 트랜지스터를 이용하여 비트라인에 전압을 전달하므로 오티피 셀의 블로잉되지 않은 이퓨즈를 통해 흐르는 읽기 전류가 100㎂ 이내로 억제되어 목적하지 않은 이퓨즈가 블로잉되는 문제를 해결할 수 있다.
Int. CL G11C 17/16 (2006.01.01) G11C 17/18 (2006.01.01) G11C 8/08 (2006.01.01) G11C 8/10 (2006.01.01) G11C 7/06 (2006.01.01) H01L 29/66 (2006.01.01)
CPC G11C 17/16(2013.01) G11C 17/16(2013.01) G11C 17/16(2013.01) G11C 17/16(2013.01) G11C 17/16(2013.01) G11C 17/16(2013.01)
출원번호/일자 1020160071562 (2016.06.09)
출원인 창원대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1762918-0000 (2017.07.24)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170728) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.06.09)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 창원대학교 산학협력단 대한민국 경상남도 창원시 의창구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김영희 대한민국 경남 창원시 성산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 고윤호 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로***길 *, ***호 가디언국제특허법률사무소 (삼성동, 우경빌딩)
2 이철희 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로***길 *, ***호 가디언국제특허법률사무소 (삼성동, 우경빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 창원대학교 산학협력단 경상남도 창원시 의창구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.06.09 수리 (Accepted) 1-1-2016-0553490-18
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.08.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.09.09 수리 (Accepted) 9-1-2016-0038901-55
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.11.11 수리 (Accepted) 4-1-2016-5164273-80
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.03.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0208207-03
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.05.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0478415-56
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.05.19 수리 (Accepted) 1-1-2017-0478414-11
8 등록결정서
Decision to grant
2017.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0383345-00
9 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.08.03 수리 (Accepted) 1-1-2017-0749703-80
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.04 수리 (Accepted) 4-1-2019-5229792-25
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.30 수리 (Accepted) 4-1-2020-5073723-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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딥엔웰 안에 형성된 엔모스 트랜지스터의 바디인 피웰과 n+ 확산층 사이에 기생하는 접합 다이오드를 구비한 이퓨즈 오티피 셀이 매트릭스 형태로 배열된 이퓨즈 오티피 셀 어레이를 구비하되, 프로그램 모드에서 상기 접합 다이오드에 의하여 해당 이퓨즈 오티피 셀의 이퓨즈 링크가 블로잉되고, 읽기 모드에서는 상기 엔모스 트랜지스터에 의하여 해당 이퓨즈 오티피 셀의 이퓨즈 링크에 프로그램된 데이터가 읽혀지는 이퓨즈 오티피 셀 어레이부;제어신호에 따라 상기 이퓨즈 오티피 셀 어레이부에 대한 프로그램 모드, 노멀 리드 모드 및 프로그램 확인 리드 모드에 적합한 내부 제어 신호를 출력하는 컨트롤 로직부;상기 컨트롤 로직부의 제어하에 행 어드레스를 공급받아 상기 이퓨즈 오티피 셀 어레이부에 리드워드라인신호 및 라이트워드라인바신호를 출력하는 워드라인 드라이버;상기 컨트롤 로직부의 제어하에 상기 이퓨즈 오티피 셀 어레이부의 소스라인 구동을 위하여, 열 어드레스를 디코딩하여 디코딩된 열 어드레스를 출력하는 컬럼 디코더; 및 상기 열 어드레스 및 상기 컨트롤 로직부의 제어하에 프로그램 모드에서 입력데이터에 대응되는 프로그램데이터를 상기 이퓨즈 오티피 셀 어레이부에 공급하고, 읽기 모드에서는 상기 이퓨즈 오티피 셀 어레이부로부터 공급되는 비트라인신호를 감지 및 증폭하여 그에 따른 출력데이터를 발생하는 소스라인 드라이버 및 센스앰프;를 포함하는 것을 특징으로 하는 접합 다이오드를 이용한 이퓨즈 오티피 메모리 회로
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제1항에 있어서, 상기 엔모스 트랜지스터는이퓨즈 블로잉을 위해 사용되는 엔모스 트랜지스터의 채널폭에 비하여 작은 것을 특징으로 하는 접합 다이오드를 이용한 이퓨즈 오티피 메모리 회로
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제1항에 있어서, 상기 엔모스 트랜지스터는블로잉되지 않은 이퓨즈를 통해 흐르는 읽기 전류를 통과시키되, 상기 읽기 전류는 100㎂ 이내인 것을 특징으로 하는 접합 다이오드를 이용한 이퓨즈 오티피 메모리 회로
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제1항에 있어서, 상기 이퓨즈 오티피 셀은게이트에 리드워드라인신호가 공급되고 일측단자에 비트라인신호가 공급되며 플로팅게이트에 소스라인신호가 공급되는 엔모스 트랜지스터; 및 일측 단자가 상기 엔모스 트랜지스터의 타측 단자에 연결되고, 상기 타측 단자에 라이트워드라인바신호가 공급되는 이퓨즈를 구비한 것을 특징으로 하는 접합 다이오드를 이용한 이퓨즈 오티피 메모리 회로
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제1항에 있어서, 상기 이퓨즈 오티피 셀은기판 상에 형성된 딥엔웰(DNW: Deep N-Well);상기 딥엔웰에 형성된 엔모스 트랜지스터의 바디인 피웰; 및상기 피웰에서 형성된 n+ 확산층 및 p+ 확산층을 구비하되, 상기 피웰과 n+ 확산층 사이에 기생하는 접합 다이오드가 해당 셀의 이퓨즈 링크를 블로잉하는데 사용되는 것을 특징으로 하는 접합 다이오드를 이용한 이퓨즈 오티피 메모리 회로
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제1항에 있어서, 상기 이퓨즈 오티피 메모리 회로는매트릭스 구조로 배열된 4개의 이퓨즈 오티피 셀 어레이;상기 이퓨즈 오티피 셀 어레이 간의 수평방향으로 사이에 각각 배열된 상기 워드라인 드라이버;상기 이퓨즈 오티피 셀 어레이 간의 수직 방향으로 사이에 배열된 소스라인 드라이버; 및수직 방향으로 배열된 두 개의 상기 이퓨즈 오티피 셀 어레이의 하부에 각각 배열된 데이터 출력버퍼를 포함하는 센스앰프;를 포함하는 것을 특징으로 하는 접합 다이오드를 이용한 이퓨즈 오티피 메모리 회로
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제1항에 있어서, 상기 워드라인 드라이버는제어신호를 낸드연산하는 제1낸드게이트;상기 제1낸드게이트의 출력신호와 워드라인인에이블신호를 낸드연산하는 제2낸드게이트; 상기 제2낸드게이트의 출력신호를 반전시켜 출력하는 제1인버터; 및워드라인인에이블바신호와 상기 제1낸드게이트의 출력신호를 노아연산하여 그에 따른 리드워드라인신호를 출력하는 제1노아게이트를 구비한 것을 특징으로 하는 접합 다이오드를 이용한 이퓨즈 오티피 메모리 회로
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제1항에 있어서, 상기 소스라인 드라이버 및 셈스앰프는 소스라인 드라이버를 구비하되,상기 소스라인 드라이버는내부프로그램신호와 제어신호를 낸드연산하는 제3낸드게이트;상기 제3낸드게이트의 출력신호의 위상을 반전시키는 제2인버터;상기 제2인버터의 출력신호와 입력데이터를 낸드연산하는 제4낸드게이트; 및직렬 연결되어 상기 제4낸드게이트의 출력신호의 위상을 순차적으로 반전시켜 그에 따른 소스라인신호를 출력하는 제3 내지 제5인버터;를 구비한 것을 특징으로 하는 접합 다이오드를 이용한 이퓨즈 오티피 메모리 회로
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제1항에 있어서, 상기 소스라인 드라이버 및 센스앰프에 구비된 센스앰프는 비트라인로드바 신호 및 비트라인프리차지 신호에 따라 비트라인을 제어하는 비트라인 제어부;비트라인신호와 기준전압의 차동전압을 센싱하여 그에 따른 출력데이터를 발생하는 센스 앰프부; 상기 센스 앰프에서 출력되는 데이터를 래치하는 RS 래치; 및상기 RS 래치에서 래치된 출력데이터를 완충 증폭하여 출력하는 출력버퍼;를 구비한 것을 특징으로 하는 접합 다이오드를 이용한 이퓨즈 오티피 메모리 회로
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제9항에 있어서, 센스 앰프부는 센스앰프인에이블바신호가 활성화될 때 비트라인신호와 기준전압을 비교하는 방식으로 센싱하여 그에 따른 전압을 두 개의 노드에 출력하는 센스앰프회로를 구비한 것을 특징으로 하는 접합 다이오드를 이용한 이퓨즈 오티피 메모리 회로
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 숭실대학교산학협력단 전자정보디바이스산업원천기술개발사업 스마트 커넥티드 디바이스를 위한 융합형 전력 관리 플랫폼 및 솔루션개발