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다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치

  • 기술번호 : KST2019035752
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 대상 기술이 포함된 분야의 특허를 수집하는 데이터 수집 모듈, 수집한 특허를 구조화하는 데이터 전처리 모듈, 특허에서 기술 수명 주기 분석을 위한 시계열 특허지수를 정의하고 추출하는 특허지수 추출 모듈, 대상 기술이 현재 속해 있는 기술 수명 주기의 진행 단계를 측정하는 분석 모듈을 포함하는 다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치에 관한 것이다.
Int. CL G06Q 50/18 (2012.01.01) G06Q 10/06 (2012.01.01) G16B 40/00 (2019.01.01)
CPC G06Q 50/184(2013.01) G06Q 50/184(2013.01) G06Q 50/184(2013.01)
출원번호/일자 1020150183080 (2015.12.21)
출원인 한국과학기술정보연구원
등록번호/일자 10-1629178-0000 (2016.06.03)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20160621) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.12.21)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술정보연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권오진 대한민국 서울특별시 성북구
2 이창용 대한민국 울산광역시 울주군
3 김주람 대한민국 울산광역시 울주군
4 노경란 대한민국 서울특별시 강북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유)화우 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로***길 **, *층 (대치동, 삼호빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술정보연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2015.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2015-1253412-19
2 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2015.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2015-1253342-11
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search		 2015.12.23 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search		 2016.01.05 수리 (Accepted) 9-1-2016-0000359-84
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2016.01.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0051764-39
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2016.03.18 수리 (Accepted) 1-1-2016-0260858-22
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2016.04.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0366478-38
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2016.04.18 수리 (Accepted) 1-1-2016-0366472-65
9 등록결정서
Decision to grant		 2016.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0396360-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
대상 기술이 포함된 분야의 특허를 수집하는 데이터 수집 모듈;상기 수집한 특허를 구조화하는 데이터 전처리 모듈;상기 특허에서 기술 수명 주기 분석을 위해, 특허 활성도(patent activity), 기술 개발자(technology developers), 기술 범위(technology scope), 사전 지식(prior knowledge), 기술 수치(technology value), 심사 과정 기간(duration of examination processes), 보호 범위(protection coverage)를 포함하는 시계열 특허지수를 정의하고 추출하는 특허지수 추출 모듈;상기 대상 기술이 현재 속해 있는 기술 수명 주기의 진행 단계를 측정하기 위해, 상기 기술 수명 주기의 진행 단계를 은닉상태 집합, 관측값 집합, 상태전이확률행렬, 관측확률밀도행렬, 초기상태확률벡터를 포함하는 요소들을 이용하여 HMM(Hidden Markov Model) 방법으로 기술 수명 주기를 분석하여 기술이 다음 단계로 진행할 확률과 이전 단계로 회기할 확률의 차이를 계산하는 분석 모듈;을 포함하는 다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 데이터 수집 모듈은,웹 마이닝 방법으로 특허를 수집하는 것을 특징으로 하는 다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치
3 3
제 1항에 있어서,상기 데이터 전처리 모듈은,문서 형태, 문서 특성, 특허번호, 특허권자, 인용문헌, 청구항 중 적어도 어느 하나에 따라 특허를 구조화하는 것을 특징으로 하는 다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치
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제 1항에 있어서,상기 데이터 전처리 모듈은,상기 수집한 특허를 기술별로 군집하여 구조화하는 것을 특징으로 하는 다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치
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국가 R&D 정보가 없습니다.