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외부로부터 입력되는 입력 전압을 샘플링 커패시터로 샘플링 및 홀드하여 샘플링 전압을 출력하는 복수의 샘플/홀드 회로를 포함하는 샘플/홀드부; 및상기 샘플링 전압을 디지털 출력 신호로 변환하여 출력하는 축차 근사형 AD 변환기; 를 포함하고,상기 축차 근사형 AD 변환기는복수의 병렬 커패시터로 이루어진 쉐어링 커패시터 어레이와 상기 쉐어링 커패시터 어레이에 병렬로 연결된 제어 커패시터 어레이로 이루어진 커패시터 어레이를 구비하여 상기 샘플링 전압을 스케일 다운시킴과 아울러, 제어신호에 의한 스위치의 스위칭 동작에 의해 상기 제어 커패시터 어레이의 용량이 조절되어 상기 샘플링 전압의 입력 범위가 보정되도록 하고, 상기 샘플링 전압, 기준 전압 및 공통 전압 중 하나 이상을 상기 커패시터 어레이에 인가하여 제1 및 제2 출력 전압으로 출력함에 있어서 상기 샘플링 전압을 단일 입력방식으로 입력하는 커패시터형 DA 변환기; 및 상기 제1 및 제2 출력 전압을 비교하여 비교 신호를 출력하는 비교기;상기 비교 신호에 대응하여 상기 축차 근사형 AD 변환기에서 출력되는 디지털신호의 출력기준을 만족할 때 까지 상기 기준 전압의 레벨을 보정하는 기준 전압 제어부; 및상기 축차 근사형 AD 변환기가 출력하는 상기 디지털 출력 신호에 대응하여 상기 제어신호를 출력하는 입력 범위 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플링 회로
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제1 항에 있어서, 상기 커패시터형 DA 변환기는상기 제1 출력 전압을 생성하는 상부 커패시터 어레이와 상기 제2 출력 전압을 생성하는 하부 커패시터 어레이를 포함하고,상기 상부 커패시터 어레이에 상기 샘플링 전압을 인가하고 상기 하부 커패시터 어레이에 상기 기준 전압을 인가하며, 상기 제1 출력 전압과 상기 제2 출력 전압을 연결하여 전하 공유함으로써 상기 샘플링 전압을 스케일 다운하는 샘플링 회로
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제2 항에 있어서, 상기 입력 전압은 유기 발광 다이오드 화소의 문턱 전압이고,상기 샘플/홀드 회로는 상기 문턱 전압을 상기 샘플/홀드 회로에서 샘플링 및 홀드하여 상기 샘플링 전압을 생성하는 샘플링 회로
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제1 항에 있어서, 상기 각각의 샘플/홀드 회로는상기 샘플/홀드 회로의 출력단에 연결되고, 상기 커패시터형 DA 변환기가 상기 샘플링 전압을 상기 쉐어링 커패시터에 전하 공유할 수 있도록 상기 샘플/홀드 회로와 상기 축차 근사형 AD 변환기의 연결을 제어하는 전하 공유 스위치를 더 포함하는 샘플링 회로
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제1 항에 있어서, 상기 입력 전압은 상기 샘플/홀드 회로에 입력되는 문턱 전압의 기준을 설정하는 샘플/홀드 기준 전압이고,상기 샘플/홀드부 중 하나의 샘플/홀드 회로는 상기 샘플링 커패시터에 상기 샘플/홀드 기준 전압이 샘플링 되었을 때, 상기 샘플링 커패시터에 충전된 전압을 스케일 다운하기 위한 보정 커패시터;상기 보정 커패시터의 양단에 병렬 연결되어 상기 보정 커패시터에 충전된 전압의 방전을 제어하는 리셋 스위치;상기 샘플/홀드 기준 전압을 인가하는 샘플/홀드 기준 전압 단자와 상기 샘플링 커패시터의 일측 단자의 사이에 연결되는 제1 제어 스위치; 및상기 샘플링 커패시터의 일측 단자와 상기 보정 커패시터의 일측 단자의 사이에 연결되는 제2 제어 스위치; 를 더 포함하는 샘플링 회로
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제5 항에 있어서, 상기 보정 커패시터는 상기 샘플링 커패시터에 상기 샘플/홀드 기준 전압이 샘플되었을 때, 상기 제2 제어 스위치의 턴 온에 대응하여 상기 샘플링 커패시터에 샘플된 전압을 절반으로 스케일 다운하는 샘플링 회로
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제6 항에 있어서, 상기 샘플/홀드 회로는상기 샘플/홀드 기준 전압을 상기 샘플링 커패시터와 상기 보정 커패시터를 통해 스케일 다운함으로써 상기 샘플링 전압을 생성하여 상기 커패시터형 DA 변환기에 제공하는 샘플링 회로
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제7 항에 있어서, 상기 커패시터형 DA 변환기는상기 샘플링 전압을 상기 커패시터 어레이에 인가하여 상기 제1 출력 전압으로 출력하고, 상기 기준 전압을 상기 커패시터 어레이에 인가하여 상기 제2 출력 전압으로 출력하는 샘플링 회로
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제1 항에 있어서, 상기 기준 전압 제어부는상기 비교 신호에 대응하여 상기 기준 전압의 레벨을 제어하는 유한 상태 머신; 및상기 유한 상태 머신의 제어에 대응하여 상기 기준 전압을 생성하는 리퍼런스 드라이버; 를 포함하는 샘플링 회로
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제10 항에 있어서, 상기 비교기는 상기 샘플링 전압과 상기 기준 전압을 비교한 상기 비교 신호를 출력하고,상기 기준전압 제어부는 상기 축차 근사형 AD 변환기가 출력하는 상기 디지털 출력 신호에 대응하여 상기 리퍼런스 드라이버가 생성하는 상기 기준 전압이 상기 샘플링 전압의 입력 범위의 최대치와 최소치의 중간 레벨을 가지도록 제어하는 유한 상태 머신을 포함하는 샘플링 회로
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제1 항에 있어서, 상기 입력 전압은 상기 샘플/홀드 회로에 입력되는 문턱 전압의 기준을 설정하는 샘플/홀드 기준 전압이고,상기 샘플/홀드부 중 하나의 샘플/홀드 회로는 상기 샘플/홀드 기준 전압을 인가하는 샘플/홀드 기준 전압 단자와 상기 샘플링 커패시터의 일측 단자의 사이에 연결되는 제1 제어 스위치; 를 더 포함하고,상기 제1 제어 스위치의 턴 온에 대응하여 상기 샘플/홀드 기준 전압을 상기 샘플링 커패시터에 샘플링함으로써 상기 샘플링 전압을 생성하여 상기 커패시터형 DA 변환기에 제공하는 샘플링 회로
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삭제
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제1 항에 있어서, 상기 축차 근사형 AD 변환기가 보정하는 상기 샘플링 전압의 입력 범위는유기 발광 다이오드 화소로부터 입력되는 문턱 전압이 상기 입력 전압으로 서 상기 샘플/홀드 회로에 입력 되었을 때, 상기 샘플/홀드 회로에 의해 생성되는 상기 샘플링 전압의 입력 범위인 샘플링 회로
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제1 항에 있어서, 상기 입력 범위 제어부는 상기 커패시터형 DA 변환기에 입력되는 상기 샘플링 전압의 입력 범위가 상기 축차 근사형 AD 변환기에서 출력될 수 있는 모든 디지털 출력 신호의 범위에 대응되도록 상기 샘플링 전압의 입력 범위를 보정하는 제어 신호를 제공하는 샘플링 회로
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제15 항에 있어서, 상기 커패시터형 DA 변환기는상기 입력 범위 제어부의 상기 제어 신호에 대응하여 상기 샘플링 전압의 입력 범위를 제어하는 제어 커패시터 어레이; 를 더 포함하며,상기 제어 커패시터 어레이는 상기 입력 범위 제어부의 상기 제어 신호에 대응하여 상기 제어 커패시터 어레이가 포함하는 커패시터 간의 스위치를 턴 온 또는 턴 오프 함으로써 상기 제어 커패시터 어레이의 전체 커패시턴스의 크기를 조절하여 상기 샘플링 전압의 입력 범위를 보정하는 샘플링 회로
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