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원자간력 현미경 시료와 탐침 사이의 위치조절을 위한 시료 스테이지 시스템 및 그를 이용한 관찰방법

  • 기술번호 : KST2020000178
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 원자간력 현미경(Atomic Force Microscope) 시료의 위치조절이 가능한 외부 스테이지 시스템 및 그를 이용한 관찰방법에 관한 것으로, 특히 상세하게는 원자간력 현미경의 외부에서 시료의 관찰 위치와 탐침(probe)의 간격을 조절하여 원자간력 현미경의 측정위치로 이동하는 시료의 위치조절이 가능한 외부 스테이지 시스템 및 그를 이용한 관찰방법에 관한 것으로, 원자간력 현미경의 내부구동 기계부품을 제외하여 분석결과의 신호 대 잡음비를 향상시키고, 외부 스테이지에서 위치를 조절하고 현미경에서는 빠른 측정이 가능해서 원자간력 현미경의 측정 속도를 향상시키며, 측정위치를 검색하는 과정에서 생길 수 있는 탐침의 마모를 줄일 수 있다는 장점이 있다. 또한, 전자현미경 영상 등 동일한 위치에서 측정한 영상을 보정하고 합성하여 고분해능 입체 영상을 획득하는 것이 가능하다.
Int. CL G01Q 10/04 (2010.01.01) G01Q 20/00 (2010.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020190089383 (2019.07.24)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0142756 (2019.12.27) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자 10-2018-0069529 (2018.06.18)
관련 출원번호 1020180069529
심사청구여부/일자 Y (2019.07.24)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 신채호 대전광역시 유성구
2 조복래 대전광역시 유성구
3 박인용 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 문환구 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***, *층(두리암특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2019.07.24 수리 (Accepted) 1-1-2019-0759223-24
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0618375-84
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.10.21 수리 (Accepted) 1-1-2019-1072432-14
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.10.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-1072536-64
5 등록결정서
Decision to grant
2019.12.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0907121-06
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번호 청구항
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원자간력 현미경 시료와 탐침 사이의 위치조절을 위한 시료 스테이지 시스템으로:상기 시스템은, 시료를 고정하는 상판과 자석에 끌리는 하판을 포함하는 원판형 시료홀더;상기 시료홀더를 상면 공간에 고정하고 회전시키는 전자석과 회전축을 내부에 구비하고 받침판에 고정된 시료 고정 베이스부;상기 베이스부 상면 공간과 상기 원자간력 현미경에 탈착가능하며, 상기 시료홀더를 붙잡아 이동시키는 그리퍼(gripper)의 움직임을 조절하는 다축 스테이지;상기 다축 스테이지의 그리퍼가 붙잡은 시료 홀더에 고정된 시료의 형상을 관찰하도록 상기 고정 베이스부와 함께 받침판에 고정된 광학 현미경; 및상기 베이스부 상면 공간과 상기 원자간력 현미경에 상기 다축 스테이지와 호환되도록 탈착가능한 탐침 스테이지를 포함하고,상기 다축 스테이지는, 상기 고정 베이스부 상면에서 상기 탐침 스테이지와 상기 다축 스테이지를 교차 부착하여 조절된 측정 위치 및 간격 정보를 저장하여, 원자간력 현미경 내부에서 상기 시료와 상기 탐침이 동일한 위치와 간격이 되도록 제어하는 제어부에 상기 정보를 제공하고, 상기 다축 스테이지의 축은 서로 직교하는 3(x, y, z)축이고, 상기 그리퍼는 상기 시료홀더의 측면을 붙잡거나 놓는 동작을 하고,상기 그리퍼는, 양팔을 개방하는 직선 운동 가이드를 사용하거나, 다른 종횡비의 캠에 모터가 부착되어 작동될 수 있는,원자간력 현미경 시료와 탐침 사이의 위치조절을 위한 시료 스테이지 시스템
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제 1항에 있어서,상기 고정 베이스부의 회전축은 상기 받침판에 고정된 회전모터와 타이밍 벨트(Timing belt)로 연결된,원자간력 현미경 시료와 탐침 사이의 위치조절을 위한 시료 스테이지 시스템
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제 1항에 있어서,상기 전자석은 상기 고정 베이스부의 회전축을 둘러싸는 코일로 형성되는, 원자간력 현미경 시료와 탐침 사이의 위치조절을 위한 시료 스테이지 시스템
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원자간력 현미경 시료와 탐침 사이의 위치조절을 위한 시료 스테이지 시스템을 이용한 관찰방법으로, 상기 관찰방법은, 시료를 고정하는 상판과 자석에 끌리는 하판을 포함하는 원판형 시료홀더를 준비하는 단계;상기 시료홀더를 상면 공간에 고정하고 회전시키는 전자석과 회전축을 내부에 구비하고 받침판에 광학 현미경과 함께 고정된 시료 고정 베이스부를 준비하는 단계;상기 베이스부 상면 공간과 상기 원자간력 현미경에 탈착가능하며, 상기 시료홀더를 붙잡아 이동시키는 그리퍼(gripper)의 움직임을 조절하는 다축 스테이지를 상기 베이스부 상면 공간에 부착하는 단계;상기 부착하는 단계에서 부착된 다축 스테이지의 위치를 초기화하고 이탈시키는 단계;상기 다축 스테이지를 이탈시킨 공간에 상기 다축 스테이지와 크기 및 형상이 동일한 탐침 스테이지를 부착하고 탐침의 위치와 영상을 저장하는 단계;상기 탐침 스테이지를 이탈시키는 단계;상기 탐침 스테이지를 이탈시킨 공간에 시료를 부착한 시료홀더를 상기 전자석이 고정하도록 위치시키는 단계;상기 시료가 위치한 공간을 감싸는 다축 스테이지를 부착하고 회전축 위치를 조절한 뒤 시료홀더를 상기 그리퍼로 고정하는 단계;상기 그리퍼로 고정한 시료홀더를 상기 저장하는 단계에서 저장된 탐침의 위치와 영상에 맞추어 상기 광학 현미경과 제어부를 통해 조절하는 단계; 상기 조절하는 단계에서 조절된 위치정보를 저장하는 단계;상기 다축 스테이지를 상기 원자간력 현미경에 장착하고, 상기 시료 홀더를 저장된 위치정보에 따라 위치시키는 단계; 및상기 다축 스테이지를 상기 원자간력 현미경에서 제거하고, 상기 다축 스테이지 위치에 탐침 스테이지를 장착하여 관찰하는 단계를 포함하고, 상기 다축 스테이지의 축은 서로 직교하는 3(x, y, z)축이고, 상기 그리퍼는 상기 시료홀더의 측면을 붙잡거나 놓는 동작을 하고, 상기 그리퍼는, 양팔을 개방하는 직선 운동 가이드를 사용하거나, 다른 종횡비의 캠에 모터가 부착되어 작동될 수 있는,원자간력 현미경 시료와 탐침 사이의 위치조절을 위한 시료 스테이지 시스템을 이용한 관찰방법
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