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복수의 부품검사 장치로부터 적어도 하나의 검사방법에 대한 검사 파라미터 정보 및 검사결과에 따른 사용자 피드백 정보를 수집하여 저장하는 수집부;상기 사용자 피드백 정보 및 기 수집된 부품 결함 데이터 중 일부 또는 전부를 기반으로 상기 검사 파라미터 정보 각각에 대한 검사 성능을 평가하는 검사성능 평가부;상기 검사 파라미터 정보의 검사 성능 평가결과를 기반으로 상기 검사방법별 검사 성능 최적화를 위한 적정 검사 파라미터 정보를 선별하는 선별부; 및상기 적정 검사 파라미터 정보를 토대로 상기 검사방법별 검사 성능 향상을 위한 개선 검사 파라미터 정보를 산출하는 검사 파라미터 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 파라미터 개선장치
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제 1항에 있어서,상기 수집부는,상기 검사방법별로 대응되는 상기 검사 파라미터 정보 및 상기 사용자 피드백 정보를 매칭시켜 검사방법별 검사 파라미터 데이터베이스를 구성하는 것을 특징으로 하는 검사 파라미터 개선장치
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제 1항에 있어서,상기 수집부는,검사 대상부품 정보, 상기 검사결과 및 상기 검사결과에 대한 사용자 판단결과를 검사방법별로 매핑해 기록한 사용자 결합 데이터를 상기 사용자 피드백 정보로서 수집하는 것을 특징으로 하는 검사 파라미터 개선장치
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제 1항에 있어서,상기 부품 결함 데이터는,상기 검사결과를 토대로 부품 정보별 부품의 위치 및 크기에 따른 결함 정보가 기 정의된 샘플 보드 정보인 것을 특징으로 하는 검사 파라미터 개선장치
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제 1항에 있어서,상기 검사성능 평가부는,상기 사용자 피드백 정보에 기반한 검사결과와 상기 부품 결함 데이터에 기반한 검사결과의 조화 평균을 토대로 상기 검사 파라미터 정보의 검사 성능을 평가하는 것을 특징으로 하는 검사 파라미터 개선장치
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제 1항에 있어서,상기 검사 파라미터 생성부는,상기 적정 검사 파라미터 정보의 데이터 필드값 중 일부 또는 전부를 기 정의된 방식 혹은 랜덤 방식에 따라 변경하여 상기 개선 검사 파라미터 정보를 산출하는 것을 특징으로 하는 검사 파라미터 개선장치
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제 6항에 있어서,상기 검사 파라미터 생성부는,유전 알고리즘을 기반으로 상기 적정 검사 파라미터 정보로부터 상기 개선 검사 파라미터 정보를 산출하는 것을 특징으로 하는 검사 파라미터 개선장치
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제 1항에 있어서,상기 검사 파라미터 생성부는,상기 개선 검사 파라미터 정보의 검사 성능 평가결과를 기반으로, 상기 개선 검사 파라미터 정보를 상기 적정 검사 파라미터의 대체 파라미터로서 제공하며, 상기 개선 검사 파라미터 정보를 기반으로 한 검사 파라미터 정보에 대한 개선 과정을 지속적으로 반복 수행하는 것을 특징으로 하는 검사 파라미터 개선장치
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복수의 부품검사 장치로부터 적어도 하나의 검사방법에 대한 검사 파라미터 정보 및 검사결과에 따른 사용자 피드백 정보를 수집하여 저장하는 과정;상기 사용자 피드백 정보 및 기 수집된 부품 결함 데이터 중 일부 또는 전부를 기반으로 상기 검사 파라미터 정보 각각에 대한 검사 성능을 평가하는 과정;상기 검사 파라미터 정보의 검사 성능 평가결과를 기반으로 상기 검사방법별 검사 성능 최적화를 위한 적정 검사 파라미터 정보를 선별하는 과정; 및상기 적정 검사 파라미터 정보를 토대로 상기 검사방법별 검사 성능 향상을 위한 개선 검사 파라미터 정보를 산출하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 파라미터 개선방법
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