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광선 그룹화를 이용한 고주파 산란 해석 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2020001901
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 고주파 산란 해석 방법에서, 캐드(CAD, Computer Aided Design) 이미지를 향해 사출되는 복수의 광선들을 복수개의 그룹들로 그룹화하고, 복수개의 그룹들 중 소정의 그룹 내 포함된 중심 광선에 대하여 캐드를 구성하는 복수의 패치들과의 교차 시험을 수행하고, 교차 시험을 수행한 결과를 이용하여, 소정의 그룹 내 중심 광선과 근접한 주변 광선들에 대한 교차 시험을 수행하는 방식을 결정한다.
Int. CL G01S 7/41 (2006.01.01)
CPC G01S 7/412(2013.01)
출원번호/일자 1020180095170 (2018.08.14)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-2143155-0000 (2020.08.04)
공개번호/일자 10-2020-0019536 (2020.02.24) 문서열기
공고번호/일자 (20200810) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.08.14)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이재인 대전광역시 유성구
2 윤달재 대전광역시 유성구
3 양성준 대전광역시 유성구
4 양우용 경기도 용인시 처인구
5 명로훈 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.08.14 수리 (Accepted) 1-1-2018-0805979-01
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.09.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.10.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0006532-16
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.01.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0041972-78
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.03.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0269074-26
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2020.03.13 수리 (Accepted) 1-1-2020-0269073-81
7 등록결정서
Decision to grant
2020.07.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0520665-13
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
고주파 산란 해석 방법에 있어서, 캐드(CAD, Computer Aided Design) 프로그램을 통해 모델링된 이미지를 향해 사출되는 복수의 광선들을 복수개의 그룹들로 그룹화하는 단계;상기 복수개의 그룹들 중 소정의 그룹 내 포함된 중심 광선에 대하여 상기 이미지를 구성하는 복수의 삼각형 모양의 패치들과의 교차 시험을 수행하는 단계; 및상기 교차 시험을 수행한 결과를 이용하여, 상기 소정의 그룹 내 상기 중심 광선과 근접한 주변 광선들에 대한 교차 시험을 수행하는 방식을 결정하는 단계를 포함하고,상기 중심 광선은 상기 소정의 그룹 내의 가장 중앙 위치로 사출된 광선이고, 상기 주변 광선들은 상기 소정의 그룹에 포함된 광선들 중 상기 중심 광선을 제외한 광선들인,고주파 산란 해석 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 결정하는 단계는상기 중심 광선이 상기 복수의 패치들 중 일 패치와 교차하는 경우, 상기 주변 광선들 각각에 대해 상기 일 패치와의 교차 시험을 우선으로 수행하는 단계를 포함하는 고주파 산란 해석 방법
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 우선으로 수행하는 단계는,상기 주변 광선들 중 일 주변 광선이 상기 일 패치와 교차하지 않는 경우, 상기 일 주변 광선에 대해 상기 일 패치를 제외한 상기 복수의 패치들 각각과 교차 시험을 수행하는 단계를 포함하는 고주파 산란 해석 방법
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 결정하는 단계는상기 중심 광선이 상기 복수의 패치들과 교차하지 않는 경우, 상기 소정의 그룹의 상, 하, 좌 및 우에 위치한 주변 그룹들 각각에 포함된 중심 광선들이 상기 복수의 패치들과 교차하는지 여부를 판단하는 단계를 포함하는 고주파 산란 해석 방법
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 복수의 패치들과 교차하는지 여부를 판단하는 단계는,상기 주변 그룹들 각각에 포함된 중심 광선들이 상기 복수의 패치들과 교차하지 않는 경우, 상기 주변 광선들에 대한 교차 시험을 생략하는 단계를 포함하는 고주파 산란 해석 방법
6 6
제 4 항에 있어서, 복수의 패치들과 교차하는지 여부를 판단하는 단계는,상기 주변 그룹들 각각에 포함된 중심 광선들 중 적어도 하나가 상기 복수의 패치들 중 적어도 하나와 교차하는 경우, 상기 주변 광선들 각각에 대하여 상기 복수의 패치들과 교차 시험을 수행하는 단계를 포함하는 고주파 산란 해석 방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 복수의 패치들 각각은 패치를 구성하는 모서리들의 크기 중 적어도 하나가 상기 복수의 광선들 간의 사출 간격보다 큰 것을 특징으로 하는 고주파 산란 해석 방법
8 8
고주파 산란 해석 방법을 구현하기 위한 프로그램이 기록된, 컴퓨터로 판독 가능한 기록 매체에 있어서,상기 방법은, 캐드(CAD, Computer Aided Design) 프로그램을 통해 모델링된 이미지를 향해 사출되는 복수의 광선들을 복수개의 그룹들로 그룹화하는 단계;상기 복수개의 그룹들 중 소정의 그룹 내 포함된 중심 광선에 대하여 상기 이미지를 구성하는 복수의 삼각형 모양의 패치들과의 교차 시험을 수행하는 단계; 및상기 교차 시험을 수행한 결과를 이용하여, 상기 소정의 그룹 내 상기 중심 광선과 근접한 주변 광선들에 대한 교차 시험을 수행하는 방식을 결정하는 단계를 포함하고,상기 중심 광선은 상기 소정의 그룹 내의 가장 중앙 위치로 사출된 광선이고, 상기 주변 광선들은 상기 소정의 그룹에 포함된 광선들 중 상기 중심 광선을 제외한 광선들인, 기록 매체
9 9
하드웨어와 결합되어, 고주파 산란 해석 방법을 실행시키기 위하여 매체에 저장된 컴퓨터 프로그램에 있어서,상기 방법은, 캐드(CAD, Computer Aided Design) 프로그램을 통해 모델링된 이미지를 향해 사출되는 복수의 광선들을 복수개의 그룹들로 그룹화하는 단계;상기 복수개의 그룹들 중 소정의 그룹 내 포함된 중심 광선에 대하여 상기 이미지를 구성하는 복수의 삼각형 모양의 패치들과의 교차 시험을 수행하는 단계; 및상기 교차 시험을 수행한 결과를 이용하여, 상기 소정의 그룹 내 상기 중심 광선과 근접한 주변 광선들에 대한 교차 시험을 수행하는 방식을 결정하는 단계를 포함하고,상기 중심 광선은 상기 소정의 그룹 내의 가장 중앙 위치로 사출된 광선이고, 상기 주변 광선들은 상기 소정의 그룹에 포함된 광선들 중 상기 중심 광선을 제외한 광선들인, 컴퓨터 프로그램
10 10
하나 이상의 명령어(instruction)를 저장하는 메모리; 및상기 하나 이상의 명령어를 실행함으로써, 캐드(CAD, Computer Aided Design) 프로그램을 통해 모델링된 이미지를 향해 사출되는 복수의 광선들을 복수개의 그룹들로 그룹화하고, 상기 복수개의 그룹들 중 소정의 그룹 내 포함된 중심 광선에 대하여 상기 이미지를 구성하는 복수의 삼각형 모양의 패치들과의 교차 시험을 수행하고, 상기 교차 시험을 수행한 결과를 이용하여, 상기 소정의 그룹 내 상기 중심 광선과 근접한 주변 광선들에 대한 교차 시험을 수행하는 방식을 결정하는 프로세서를 포함하고,상기 중심 광선은 상기 소정의 그룹 내의 가장 중앙 위치로 사출된 광선이고, 상기 주변 광선들은 상기 소정의 그룹에 포함된 광선들 중 상기 중심 광선을 제외한 광선들인, 고주파 산란 해석 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.