맞춤기술찾기

이전대상기술

미세입자 측정장치 및 측정방법

  • 기술번호 : KST2020002448
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 한 쌍의 광원부와 수광부를 구비한 복수의 측정모듈을 이용하여 미세입자들 간의 음영 지역을 최소화하고, 미세입자의 위치에 따른 검출 오류 감소를 통해 측정 정밀도를 향상시킨 미세입자 측정장치 및 측정방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. 이를 위해, 본 발명은 한 쌍의 광원부와 수광부를 구비하고, 미리 설정된 크기의 미세입자를 측정하는 제1 측정모듈; 상기 제1 측정모듈과 일정 각도(θ) 이격되어 배치되고, 한 쌍의 광원부와 수광부를 구비하고, 상기 제1 측정모듈에서 측정하는 미세입자와 다른 크기의 미세입자를 측정하는 제2 측정모듈; 및 상기 제1 측정모듈과 제2 측정모듈의 동작을 제어하고, 상기 제1 및 제2 측정모듈에서 측정된 미세입자를 크기별로 개수하여 출력하는 제어부를 포함한다. 따라서, 본 발명은 한 쌍의 광원부와 수광부를 구비한 복수의 측정모듈을 이용하여 미세입자들 간의 음영지역을 최소화함으로써, 미세입자의 위치에 따른 검출 오류를 감소시킬 수 있는 장점이 있다.
Int. CL G01N 15/02 (2006.01.01) G01N 15/10 (2006.01.01)
CPC G01N 15/0211(2013.01) G01N 15/0211(2013.01)
출원번호/일자 1020180079133 (2018.07.09)
출원인 한국광기술원
등록번호/일자 10-2073483-0000 (2020.01.29)
공개번호/일자 10-2020-0005770 (2020.01.17) 문서열기
공고번호/일자 (20200204) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.07.24)
심사청구항수 2

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김상묵 광주광역시 서구
2 백종협 대전광역시 서구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 우광제 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **-* (역삼동, 신도빌딩) *층(유리안국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.07.09 수리 (Accepted) 1-1-2018-0670162-94
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.07.24 수리 (Accepted) 1-1-2018-0729218-13
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.11.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.02.14 수리 (Accepted) 9-1-2019-0007911-00
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.08.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0578632-96
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.10.11 수리 (Accepted) 1-1-2019-1035470-37
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.10.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-1035471-83
8 등록결정서
Decision to grant
2020.01.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0059387-33
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.03 수리 (Accepted) 4-1-2020-5148105-81
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2020-5153634-39
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
측정용 광을 미세입자로 출력하는 제1 광원부(110)와, 상기 미세입자에 의해 산란된 광을 수광하는 제1 수광부(120)와, 상기 제1 수광부(120)로 입사되는 산란광 중에서 일정 광량 이하의 산란광 신호는 제거하는 하이패스 필터(130)를 구비한 제1 측정모듈(100);상기 미세입자의 위치에 따른 검출 오류와 미세입자들 간의 음영지역이 감소되도록 상기 제1 측정모듈(100)과 1°003c# θ 003c#90° 중 어느 하나의 각도(θ)로 이격되어 배치되고, 상기 제1 광원부(110)에서 출력되는 광원의 파장과 같은 파장의 측정용 광을 미세입자로 출력하는 제2 광원부(210)와, 상기 미세입자에 의해 산란된 광을 수광하는 제2 수광부(220)와, 상기 제2 수광부(220)로 입사되는 산란광 중에서 일정 광량 이상의 산란광 신호는 제거하는 로우패스 필터(230)를 구비한 제2 측정모듈(200); 및상기 제1 측정모듈(100)과 제2 측정모듈(200)의 동작을 제어하고, 상기 제1 및 제2 측정모듈(100, 200)에서 측정된 미세입자의 크기별로 개수하여 ㎍/m3 단위로 환산한 값을 출력하는 제어부(300)를 포함하며,상기 제1 광원부(110)의 광 출력값은 상기 제2 광원부(210)의 광 출력값 보다 일정 크기 큰 출력값으로 출력하여 제1 광원부(110)에서 출력된 광이 미세입자에 의해 산란되는 광량과 제2 광원부(210)에서 출력된 광이 미세입자에 의해 산란되는 광량이 구별되도록 이루어진 것을 특징으로 하는 미세입자 측정장치
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
삭제
6 6
삭제
7 7
삭제
8 8
a) 제어부(300)가 미세입자의 위치에 따른 검출 오류와 미세입자들 간의 음영지역이 감소되도록 1°003c# θ 003c#90° 중 어느 하나의 각도(θ)로 이격되어 배치되고, 같은 파장의 측정용 광을 출력하는 제1 광원부(110)와 제2 광원부(210)를 통해 미세입자 측정용 광이 출력되도록 제어하되, 상기 제1 광원부(110)에서 출력된 광이 미세입자에 의해 산란되는 광량과, 제2 광원부(210)에서 출력된 광이 미세입자에 의해 산란되는 광량이 구별되도록 상기 제1 광원부(110)의 광 출력 값이 제2 광원부(210)의 광 출력값보다 일정 크기 큰 출력값으로 출력되도록 제어하는 단계;b) 상기 제어부(300)가 상기 미세입자에 의해 산란된 광 중에서 일정 광량 이하의 산란광 신호는 하이패스 필터(130)를 통해 제거하여 제1 수광부(120)로 수광하고, 상기 미세입자에 의해 산란된 광 중에서 일정 광량 이상의 산란광 신호는 로우패스 필터(230)를 통해 제거하여 제2 수광부(220)로 수광하는 단계;c) 상기 제어부(300)가 상기 제1 수광부(120)와 제2 수광부(220)에서 측정된 미세입자를 크기별로 개수하여 측정하는 단계; 및d) 상기 제어부(300)가 상기 측정된 미세입자의 개수를 ㎍/m3 단위로 환산하여 출력하는 단계를 포함하는 미세입자 측정방법
9 9
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.