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광학 검출 시스템

  • 기술번호 : KST2020002524
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예는 시료를 수용하는 시료부, 상기 시료부로 파동을 조사하는 파동원, 상기 시료부로부터 출사되는 출사파동의 경로 상에 배치되며, 상기 출사파동 중 일부를 제1 파동으로 변조하는 제1 공간 광 변조부와 상기 출사파동 중 일부를 제2 파동으로 변조하는 제2 공간 광 변조부를 구비하는 광학부, 상기 광학부로부터 출사되는 상기 제1 파동과 상기 제2 파동을 집속시키는 렌즈부 및 상기 렌즈부로부터 집속된 집속파동을 검출하는 검출부를 구비하고, 상기 제1 공간 광 변조부 및 상기 제2 공간 광 변조부는 이미 알고 있는 조건의 상기 시료에 대하여 상기 제1 파동과 상기 제2 파동이 상쇄 간섭이 일어나도록 상기 출사파동을 변조하는, 광학 검출 시스템을 제공한다.
Int. CL G01N 21/47 (2006.01.01)
CPC G01N 21/47(2013.01) G01N 21/47(2013.01)
출원번호/일자 1020180107292 (2018.09.07)
출원인 주식회사 더웨이브톡, 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0028748 (2020.03.17) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.09.07)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 더웨이브톡 대한민국 대전광역시 유성구
2 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박희준 대전광역시 유성구
2 이겨레 충청남도 서천군
3 신승우 부산광역시 남구
4 박용근 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 더웨이브톡 대전광역시 유성구
2 한국과학기술원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.09.07 수리 (Accepted) 1-1-2018-0892866-68
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.11.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.02.21 수리 (Accepted) 9-1-2019-0009853-96
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.12.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0891714-40
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2020.02.07 수리 (Accepted) 1-1-2020-0131223-97
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.03.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0254689-44
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2020.03.10 수리 (Accepted) 1-1-2020-0254688-09
9 등록결정서
Decision to grant
2020.05.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0319573-51
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
12 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2020.07.07 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2020-0703188-92
13 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2020.07.07 수리 (Accepted) 1-1-2020-0701865-47
14 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2020.07.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2020-0106079-14
15 서류반려통지서
Notice for Return of Document
2020.08.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2020-0124223-15
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
시료를 수용하는 시료부;상기 시료부로 파동을 조사하는 파동원;상기 시료부로부터 출사되는 출사파동의 경로 상에 배치되며, 상기 출사파동 중 일부를 제1 파동으로 변조하는 제1 공간 광 변조부와 상기 출사파동 중 일부를 제2 파동으로 변조하는 제2 공간 광 변조부를 구비하는 광학부;상기 광학부로부터 출사되는 상기 제1 파동과 상기 제2 파동을 집속시키는 렌즈부; 및상기 렌즈부로부터 집속된 집속파동을 검출하는 검출부;를 구비하고,상기 제1 공간 광 변조부 및 상기 제2 공간 광 변조부는 이미 알고 있는 조건의 상기 시료에 대하여 상기 제1 파동과 상기 제2 파동이 상쇄 간섭이 일어나도록 상기 출사파동을 변조하고,상기 검출부는 상기 집속파동의 변화를 이용하여 이미 알고 있는 조건의 상기 시료에 불순물의 존재 유무를 검출하는, 광학 검출 시스템
2 2
제1 항에 있어서,상기 출사파동은 상기 시료로부터 다중산란(multiple scattering)되어 발생되는 스펙클 패턴을 포함하는, 광학 검출 시스템
3 3
제1 항에 있어서, 상기 시료부는 상기 시료로 조사된 파동의 다중 산란되는 횟수를 증폭시키기 위한 다중산란증폭부를 더 포함하는, 광학 검출 시스템
4 4
제1 항에 있어서,상기 검출부는 상기 집속파동의 감지 유무에 따라 상기 시료 내 불순물 존재 유무를 검출하는, 광학 검출 시스템
5 5
시료를 수용하는 시료부;상기 시료부로 파동을 조사하는 파동원;상기 시료부로부터 출사되는 출사파동의 경로 상에 배치되며, 상기 출사파동 중 일부를 제1 파동으로 변조하는 제1 공간 광 변조부를 구비하는 광학부;상기 광학부로부터 출사되는 상기 제1 파동과 상기 출사파동 중 일부인 제2 파동을 집속시키는 렌즈부; 및상기 렌즈부로부터 집속된 집속파동을 검출하는 검출부;를 구비하고,상기 제1 공간 광 변조부는 이미 알고 있는 조건의 상기 시료에 대하여 상기 제1 파동과 상기 제2 파동이 상쇄 간섭이 일어나도록 상기 출사파동을 변조하고,상기 검출부는 상기 집속파동의 변화를 이용하여 이미 알고 있는 조건의 상기 시료에 불순물의 존재 유무를 검출하는, 광학 검출 시스템
6 6
제5 항에 있어서,상기 출사파동은 상기 시료로부터 다중산란(multiple scattering)되어 발생되는 스펙클 패턴을 포함하는, 광학 검출 시스템
7 7
제5 항에 있어서, 상기 시료부는 상기 시료로 조사된 파동의 다중 산란되는 횟수를 증폭시키기 위한 다중산란증폭부를 더 포함하는, 광학 검출 시스템
8 8
제5 항에 있어서,상기 검출부는 상기 집속파동의 감지 유무에 따라 상기 시료 내 불순물 존재 유무를 검출하는, 광학 검출 시스템
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1 US10585039 US 미국 FAMILY
2 US20200080936 US 미국 FAMILY

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US10585039 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US2020080936 US 미국 DOCDBFAMILY
3 US2020173919 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.