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형광수명 측정장치 및 측정방법

  • 기술번호 : KST2020002548
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예에 따른 형광수명 측정장치는 조사광을 발생시키는 조사광 발생부, 상기 조사광으로 형광 분자를 포함하는 샘플을 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광 광자 검출부, 상기 수집된 형광 광자를 제1클럭 신호, 상기 샘플을 통하지 않은 조사광을 제2클럭 신호로 변환하는 변환부, 상기 변환부로부터 수집된 형광 광자의 형광수명을 분석하는 제1모듈, 상기 제1모듈로부터 샘플의 관심영역(ROI, Range of interesting)을 지정하는 제어부, 상기 관심영역에 대응되는 형광 광자의 형광수명을 분석하는 제2모듈을 포함한다.
Int. CL G01N 21/64 (2006.01.01) G02B 21/00 (2006.01.01) G02B 26/10 (2006.01.01) G01J 1/44 (2006.01.01) G02B 21/06 (2006.01.01)
CPC G01N 21/6458(2013.01) G01N 21/6458(2013.01) G01N 21/6458(2013.01) G01N 21/6458(2013.01) G01N 21/6458(2013.01) G01N 21/6458(2013.01) G01N 21/6458(2013.01)
출원번호/일자 1020160172862 (2016.12.16)
출원인 (주) 인텍플러스, 재단법인 오송첨단의료산업진흥재단
등록번호/일자 10-1835815-0000 (2018.02.28)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20180307) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.12.16)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 (주) 인텍플러스 대한민국 대전광역시 유성구
2 재단법인 오송첨단의료산업진흥재단 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이상윤 대한민국 대전광역시 유성구
2 강민구 대한민국 대전광역시 유성구
3 원영재 대한민국 세종특별자치시 도움*로 ***
4 이승락 대한민국 세종특별자치시 도움*로 ***
5 박병준 대한민국 세종특별자치시 달빛로 **,
6 김병연 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 신지 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 ***호실(역삼동, 청원빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 (주) 인텍플러스 대전광역시 유성구
2 재단법인 오송첨단의료산업진흥재단 충청북도 청주시 흥덕구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.12.16 수리 (Accepted) 1-1-2016-1238721-49
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2017-0015082-12
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.05.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.06.26 수리 (Accepted) 4-1-2017-5099750-88
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.07.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0100269-92
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.07.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0479922-18
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.08.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0794403-32
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.08.17 수리 (Accepted) 1-1-2017-0794404-88
9 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.09.25 수리 (Accepted) 1-1-2017-0935286-05
10 등록결정서
Decision to grant
2017.12.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0899956-99
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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조사광을 발생시키는 조사광 발생부;상기 조사광으로 형광 분자를 포함하는 샘플을 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광 광자 검출부;상기 수집된 형광 광자를 제1클럭 신호, 상기 샘플을 통하지 않은 조사광을 제2클럭 신호로 변환하는 변환부;상기 변환부로부터 수집된 형광 광자의 형광수명을 분석하는 제1모듈; 제1모듈로부터 형광 수명값을 수신하고 대상이 분할된 각각의 영역에 해당하는 형광 수명값과 기준값을 대조하여 관심 영역 및 관심 영역에 포함된 형광 광자를 추출하여 샘플의 관심영역(ROI, Range of interesting)을 지정하며, 조사광 펄스 간의 시간 간격을 형광 광자의 형광 수명보다 적어도 5배 길게 조절하는 제어부; 및상기 관심영역에 대응되는 형광 광자의 형광수명을 분석하는 제2모듈을 포함하고,상기 제1모듈은 상기 제1클럭 신호의 평균 시간과 제2클럭 신호의 평균 시간의 차이를 이용하여 형광수명을 계산하는 AMD(Analog mean delay) 계측부를 포함하고,상기 제2모듈은 단일 형광 광자를 대상으로 광자 검출 속도를 통해 제1클럭 신호와 제2클럭 신호의 시간차 데이터를 산출하고, 시간차 데이터를 누적하여 형광수명을 계산하는 TCSPC(Time-correlated single photon counting) 계측부를 포함하는 형광수명 측정장치
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조사광을 발생시키는 광발생 단계;상기 조사광을 샘플에 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 제1조사 단계;상기 형광 광자 검출부로부터 수집된 형광 광자의 형광 수명을 계산하는 AMD(Analog mean delay) 계측 단계; 형광 수명값을 수신하고 대상이 분할된 각각의 영역에 해당하는 형광 수명값과 기준값을 대조하여 관심 영역 및 관심 영역에 포함된 형광 광자를 추출하여 샘플의 관심영역(ROI, Range of interesting)을 지정하며, 조사광 펄스 간의 시간 간격을 형광 광자의 형광 수명보다 적어도 5배 길게 조절하는 제어 단계; 및상기 관심영역에 대응되는 형광 광자의 형광 수명을 계산하되, 단일한 광자를 대상으로 광자 검출 속도를 통해 제1클럭 신호와 제2클럭 신호의 시간차 데이터를 산출하고, 시간차 데이터를 누적하여 형광수명을 계산하는 TCSPC(Time correlated single photon counting) 계측 단계를 포함하는 형광수명 측정방법
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제 4 항에 있어서,상기 제어 단계 다음,상기 조사광의 세기를 단일 광자 수준으로 낮추는 조절 단계; 및상기 조절된 조사광을 상기 관심영역에 재조사하여 생성되는 형광 광자를 재수집하는 제2조사 단계를 더 포함하고, 상기 TCSPC 계측 단계는, 상기 제2조사 단계로부터 검출된 형광 광자의 형광수명을 계산하는 형광수명 측정방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN110178016 CN 중국 FAMILY
2 EP03546925 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 US10753872 US 미국 FAMILY
4 US20190383740 US 미국 FAMILY
5 WO2018110843 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN110178016 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 EP3546925 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 EP3546925 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 US2019383740 US 미국 DOCDBFAMILY
5 WO2018110843 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 (주)인텍플러스 기계산업핵심기술개발사업 고해상도 형광발광/형광수명 현미경