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검출기를 이용한 검출 방법

  • 기술번호 : KST2020003418
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 검출기를 이용한 검출 방법에 대한 것으로서, 특히, 서로 상이한 파장대의 광을 출사하는 다수개의 광원을 이용하여 라만변이를 일으키는 특수물질이 보이는 잔광으로 특수물질이 형성된 대상물의 진위여부를 판단하는 검출기를 이용한 검출 방법에 관한 것이다. 본 발명은 파장대가 서로 상이한 다수개의 발광 모듈을 이용하여 특수물질의 라만변이를 감지함으로써 잔광의 종류를 구분할 수 있으며, 이에 따라 특수물질의 종류도 구분할 수 있다. 또한, 본 발명은 다수개의 발광 모듈을 이용하므로 서로 다른 많은 특수물질을 적용한 후 이를 감지할 수 있으므로, 강력한 위조억제력을 발휘할 수 있다. 본 발명은 다수개의 발광 모듈로 스토크와 안티스토크 이동을 일으키는 특수물질의 종류를 정확하게 구분할 수 있어, 지폐에 적용될 경우 지폐의 진위여부뿐만 아니라 권종도 구분할 수 있다. 또한, 본 발명은 잔광의 강도에 따라 발광부의 발광강도를 제어하는 잔광강도 제어 모듈을 구비하여, 잔광이 너무 약하거나 너무 강해서 감지를 할 수 없는 문제를 방지할 수 있다.
Int. CL G07D 7/12 (2016.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020190105424 (2019.08.27)
출원인 (주)아이투맥스, 한국조폐공사
등록번호/일자 10-2076059-0000 (2020.02.05)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20200211) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자 10-2018-0107109 (2018.09.07)
관련 출원번호 1020180107109
심사청구여부/일자 Y (2019.08.27)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 (주)아이투맥스 대한민국 서울특별시 마포구
2 한국조폐공사 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정동희 인천광역시 연수구
2 김현준 대전광역시 서구
3 최일훈 대전광역시 유성구
4 주성현 세종특별자치시 새롬중
5 이세현 세종특별자치시 다정북로 ***,
6 오현진 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유한) 대아 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, 한양빌딩*층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국조폐공사 대전광역시 유성구
2 주식회사 아이씨리얼 인천광역시 연수구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2019.08.27 수리 (Accepted) 1-1-2019-0882596-91
2 등록결정서
Decision to grant
2019.11.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0802487-16
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2020-5013707-24
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2020-5013740-21
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
라만변이를 일으키는 특수물질을 인식하여 상기 특수물질이 적용된 대상물의 진위여부를 판단하는 검출 방법으로서,상기 특수물질에 발광부가 서로 상이한 파장대의 광을 출사하는 단계와,상기 발광부에서 출사한 광이 특수물질로부터 여기되어 발광된 광을 수광부가 수광하는 단계, 및상기 수광부에서 수광된 광에 포함되며 특수물질마다 상이한 잔광 패턴을 기반으로 상기 특수물질이 형성된 대상물의 진위 여부를 제어부가 판단하는 단계를 포함하는 검출 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 발광부에 포함된 다수개의 광원 모듈과 상기 수광부에 포함된 수광 모듈의 개수가 상이할 경우,상기 특수물질에 발광부가 서로 상이한 파장대의 광을 출사하는 단계는,상기 다수개의 광원 모듈을 순차적으로 점등시키되, 상기 다수개의 광원 모듈 각각이 점등될 때 점멸되도록 제어부가 펄스 전원을 인가하는 단계를 포함하는 검출 방법
3 3
제1항에 있어서,상기 발광부에 포함된 다수개의 광원 모듈과 상기 수광부에 포함된 수광 모듈의 개수가 동일할 경우,상기 특수물질에 발광부가 서로 상이한 파장대의 광을 출사하는 단계는,상기 다수개의 광원 모듈을 동시에 점등시키는 단계를 포함하는 검출 방법
4 4
제2항 또는 제3항에 있어서,상기 수광부에서 수광된 광에 포함되며 특수물질마다 상이한 잔광 패턴을 기반으로 상기 특수물질이 형성된 대상물의 진위 여부를 제어부가 판단하는 단계는,상기 수광부에 수광된 광에 포함된 잔광을 정규화한 후, 미리 저장된 특수물질마다 상이한 잔광 패턴과 상기 정규화된 잔광의 분산을 연산하여 분산값이 최소인 잔광 패턴에 대응되는 미리 저장된 특수물질을 상기 수광부에 수광된 광에 포함된 잔광을 방출한 특수물질인 것으로 감지 모듈이 판단하는 단계를 포함하며,상기 잔광은 상기 다수개의 광원 모듈 중 어느 하나가 점등된 후 소등된 이후에도 상기 특수물질로부터 방출되는 광인 검출 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 수광부에서 수광되는 광에서 검출되는 잔광강도를 기준치와 비교하여, 상기 제어부를 통해 상기 발광부의 발광강도를 제어하는 단계를 더 포함하는 검출 방법
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1 KR102043929 KR 대한민국 FAMILY

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