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3차원 모델의 텍스처를 전이하는 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2020003761
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 대상체를 3차원 스캐닝함으로써 생성된 제1 모델의 텍스처(texture)를 제2 모델에 전이하는 방법 및 전자 장치를 개시한다. 상기 방법은, 상기 제1 모델의 제1 기준점과 상기 제2 모델의 제2 기준점을 설정하는 단계, 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점을 맵핑(Mapping)하는 단계 및 상기 맵핑된 결과에 기초하여, 상기 제1 기준점의 인근에 위치된 텍스처를 상기 제2 기준점의 인근에 위치된 텍스처에 전이(Transfer)하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL G06T 15/04 (2011.01.01) G06T 15/06 (2011.01.01) G06T 11/40 (2006.01.01) G06T 3/00 (2019.01.01)
CPC G06T 15/04(2013.01) G06T 15/04(2013.01) G06T 15/04(2013.01) G06T 15/04(2013.01)
출원번호/일자 1020180117874 (2018.10.02)
출원인 한국과학기술연구원, 재단법인 실감교류인체감응솔루션연구단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0038148 (2020.04.10) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.10.02)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
2 재단법인 실감교류인체감응솔루션연구단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임화섭 서울특별시 성북구
2 장우석 서울특별시 성북구
3 안상철 서울특별시 성북구
4 유범재 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 서울특별시 성북구
2 (재)실감교류인체감응솔루션연구단 서울특별시 성북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.10.02 수리 (Accepted) 1-1-2018-0975995-18
2 보정요구서
Request for Amendment
2018.10.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2018-0159246-15
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.10.29 수리 (Accepted) 1-1-2018-1065556-78
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.08.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.10.10 수리 (Accepted) 9-1-2019-0045215-10
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.01.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0070724-31
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.02.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0122050-84
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2020.02.05 수리 (Accepted) 1-1-2020-0122049-37
9 등록결정서
Decision to grant
2020.04.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0258118-36
10 [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)
2020.05.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-5013086-21
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
대상체를 3차원 스캐닝함으로써 생성된 제1 모델의 텍스처(texture)를 제2 모델에 전이하는 방법에 있어서,상기 제1 모델의 제1 기준점과 상기 제2 모델의 제2 기준점을 설정하는 단계;상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점을 맵핑(Mapping)하는 단계;상기 맵핑된 결과에 기초하여, 상기 제1 기준점의 인근에 위치된 텍스처를 상기 제2 기준점의 인근에 위치된 텍스처에 전이(Transfer)하는 단계;를 포함하고,상기 맵핑하는 단계는,복수의 제1 기준점들과 복수의 제2 기준점들 각각을 연결하는 레이(ray)들이 소정의 간격으로 이격되도록, 상기 레이들의 간격을 정규화(Regulation) 하는 단계를 포함하는, 방법
2 2
제1 항에 있어서, 상기 맵핑하는 단계는,상기 제2 기준점으로부터 상기 제1 기준점으로 레이(ray)를 조사함으로써, 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점을 맵핑하는 레이-트레이싱(ray-tracing)을 수행하는 단계를 포함하는, 방법
3 3
제1 항에 있어서,상기 맵핑하는 단계는,상기 제1 기준점으로부터 상기 제2 기준점으로 레이(ray)를 조사함으로써, 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점을 맵핑하는 퐁-프로젝션(Phong-projection)을 수행하는 단계를 포함하는, 방법
4 4
삭제
5 5
제1 항에 있어서,상기 방법은, 상기 제2 모델의 텍스처를 후처리하는 단계를 더 포함하는, 방법
6 6
제5 항에 있어서,상기 후처리하는 단계는,상기 제2 모델로부터 상기 제1 모델의 텍스처가 전이되지 않은 제1 텍스처 영역을 검출하는 단계; 및상기 제1 텍스처 영역의 인근에 위치된 제2 텍스처 영역으로부터 상기 제2 텍스처 영역에 전이된 상기 제1 모델의 텍스처 데이터에 기초하여, 상기 제1 텍스처 영역을 채색(inpainting)하는 단계;를 포함하는, 방법
7 7
제1 항에 있어서,상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점을 맵핑하는 단계는,상기 맵핑된 결과에 기초하여 상기 제2 모델의 외형을 상기 제1 모델의 외형에 대응되도록 와핑(warping)하는 단계를 포함하는, 방법
8 8
대상체를 3차원 스캐닝함으로써 생성된 제1 모델의 텍스처(texture)를 제2 모델에 전이하는 전자 장치에 있어서,상기 제1 모델 및 상기 제2 모델을 저장하는 메모리;상기 제1 모델의 제1 기준점과 상기 제2 모델의 제2 기준점을 설정하고, 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점을 맵핑(Mapping)하며, 상기 맵핑된 결과에 기초하여, 상기 제1 기준점의 인근에 위치된 텍스처를 상기 제2 기준점의 인근에 위치된 텍스처에 전이(Transfer)하는 프로세서; 및상기 제2 모델을 디스플레이하는 디스플레이부를 포함하고,상기 프로세서는,복수의 제1 기준점들과 복수의 제2 기준점들 각각을 연결하는 레이(ray)들이 소정의 간격으로 이격되도록, 상기 레이들의 간격을 정규화하는, 전자 장치
9 9
제8 항에 있어서, 상기 프로세서는,상기 제2 기준점으로부터 상기 제1 기준점으로 레이(ray)를 조사함으로써, 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점을 맵핑하는 레이-트레이싱(ray-tracing)을 수행하는, 전자 장치
10 10
제8 항에 있어서,상기 프로세서는,상기 제1 기준점으로부터 상기 제2 기준점으로 레이(ray)를 조사함으로써, 상기 제1 기준점과 상기 제2 기준점을 맵핑하는 퐁-프로젝션(Phong-projection)을 수행하는, 전자 장치
11 11
삭제
12 12
제8 항에 있어서,상기 프로세서는,상기 제2 모델의 텍스처를 후처리하는, 전자 장치
13 13
제12 항에 있어서,상기 프로세서는,상기 제2 모델로부터 상기 제1 모델의 텍스처가 전이되지 않은 제1 텍스처 영역을 검출하고, 상기 제1 텍스처 영역의 인근에 위치된 제2 텍스처 영역으로부터 상기 제2 텍스처 영역에 전이된 상기 제1 모델의 텍스처 데이터에 기초하여, 상기 제1 텍스처 영역을 보간하는, 전자 장치
14 14
제8 항에 있어서,상기 프로세서는,상기 맵핑된 결과에 기초하여 상기 제2 모델의 외형을 상기 제1 모델의 외형에 대응되도록 와핑(warping)하는, 전자 장치
15 15
제1 항 내지 제3항, 제5항 내지 제7 항 중 어느 한 항의 방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 명령어를 기록한, 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 한국과학기술연구원 글로벌프론티어지원 실시간 인터랙션 가능한 4D+ 객체 모델 및 휴먼 아바타의 생성 기술