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복수의 검출 빔들 각각이 지나는 복수의 검출 지점들에서, 상기 복수의 검출 빔들 각각에 대한 자기장 값들을 결정하는 단계;상기 복수의 검출 빔들 각각에 대한 자기장 값들을 이용하여 원자 스핀 자이로스코프의 자기장 기울기를 결정하는 단계; 및기울기 보상 코일에 공급되는 전류를 제어하여 상기 자기장 기울기를 보정하는 단계를 포함하는자기장 기울기를 보정하는 방법
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제1 항에 있어서, 상기 자기장 기울기를 보정하는 단계는 상기 자기장 기울기가 0이 되도록 보정하는자기장 기울기를 보정하는 방법
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제1 항에 있어서, 상기 복수의 검출 빔들 각각에 대한 자기장 값들을 결정하는 단계는,상기 복수의 검출 빔들 중에서 제1 검출 빔의 제1 라머 주파수(larmor frequency)를 결정하는 단계;상기 복수의 검출 빔들 중에서 제2 검출 빔의 제2 라머 주파수를 결정하는 단계; 및상기 제1 라머 주파수 및 상기 제2 라머 주파수를 이용하여, 상기 제1 검출 빔에 대한 제1 자기장 값 및 상기 제2 검출 빔에 대한 제2 자기장 값을 결정하는 단계를 포함하는자기장 기울기를 보정하는 방법
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제1 항에 있어서, 포토다이오드 배열을 이용하여 상기 검출 빔들 각각의 세기를 측정하는 단계를 더 포함하는자기장 기울기를 보정하는 방법
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제4 항에 있어서, 상기 포토다이오드 배열은 1차원 또는 2차원인자기장 기울기를 보정하는 방법
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적어도 하나 이상의 프로그램에 대한 정보를 저장하는 메모리; 및상기 메모리를 제어하여 상기 적어도 하나 이상의 프로그램을 실행하는 프로세서를 포함하고,상기 프로세서는,복수의 검출 빔들 각각이 지나는 복수의 검출 지점들에서, 상기 복수의 검출 빔들 각각에 대한 자기장 값들을 결정하고;상기 복수의 검출 빔들 각각에 대한 자기장 값들을 이용하여 자기장 기울기를 결정하고;기울기 보상 코일에 공급되는 전류를 제어하여 상기 자기장 기울기를 보정하는원자 스핀 자이로스코프
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제6 항에 있어서,상기 프로세서는 상기 자기장 기울기가 0이 되도록 보정하는원자 스핀 자이로스코프
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제6 항에 있어서,상기 프로세서는,상기 복수의 검출 빔들 중에서 제1 검출 빔의 제1 라머 주파수(larmor frequency)를 결정하고;상기 복수의 검출 빔들 중에서 제2 검출 빔의 제2 라머 주파수를 결정하고; 및상기 제1 라머 주파수 및 상기 상기 제2 라머 주파수를 이용하여, 상기 제1 검출 빔에 대한 제1 자기장 값 및 상기 제2 검출 빔에 대한 제2 자기장 값을 결정하는원자 스핀 자이로스코프
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제6 항에 있어서,상기 프로세서는 포토다이오드 배열을 이용하여 상기 검출 빔들 각각의 세기를 측정하는원자 스핀 자이로스코프
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제9 항에 있어서,상기 포토다이오드 배열은 1차원 또는 2차원인원자 스핀 자이로스코프
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복수의 검출 빔들 각각이 지나는 복수의 검출 지점들에서, 상기 복수의 검출 빔들 각각에 대한 자기장 값들을 결정하는 단계;상기 복수의 검출 빔들 각각에 대한 자기장 값들을 이용하여 원자 스핀 자이로스코프의 자기장 기울기를 결정하는 단계; 및기울기 보상 코일에 공급되는 전류를 제어하여 상기 자기장 기울기를 보정하는 단계를 포함하는자기장 기울기를 보정하는 방법을 실행하기 위한 프로그램이 기록된컴퓨터 판독가능한 기록매체
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