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시편 검사 장치 및 시편 검사 방법

  • 기술번호 : KST2020005475
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 시편 검사 장치에 대한 일 실시 예에 따르면, 상기 시편 검사 장치는 방출부, 반사부, 초점 조정부, 수신부, 및 제어부로 구성될 수 있다. 상기 시편 검사 장치는 테라헤르츠 파를 조사하는 방출부; 상기 방출부에서 조사된 테라헤르츠 파의 경로를 변환시키는 반사부; 상기 테라헤르츠 파의 경로에 따라 시편에 제1 영역을 형성하게 하는 초점 조정부 -상기 반사부와 상기 초점 조정부 사이의 거리는 제1 거리로 이격되어 있고, 상기 제1 영역은 제2 영역 및 제3 영역을 포함하고, 상기 제2 영역 및 상기 제3 영역은 제2 거리로 이격되어 있음-; 상기 제1 영역에 조사된 상기 테라헤르츠 파가 상기 시편에서 각각 반사된 테라헤르츠 파를 수신하는 수신부; 및 상기 제1 거리 및 상기 제2 거리 중 적어도 하나를 제어하고, 상기 테라헤르츠 파의 반사도 차이에 따른 상기 시편의 불량 여부를 검출하는 제어부로 구성될 수 있고, 상기 제1 거리가 57mm 내지 61mm 인 경우 상기 제2 영역은 64mm 내지 67mm의 직경을 가지고, 상기 제3 영역은 적정 직경 -상기 적정 직경은 상기 시편의 불량 여부를 검출할 수 있는 직경을 의미함- 을 각각 가질 수 있다.
Int. CL G01N 21/3581 (2014.01.01) C03C 17/23 (2006.01.01)
CPC G01N 21/3581(2013.01) G01N 21/3581(2013.01)
출원번호/일자 1020180117858 (2018.10.02)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0038394 (2020.04.13) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.10.02)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김학성 서울시 성동구
2 오경환 서울시 성동구
3 박동운 서울시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 아이피에스 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로**길 **, *층 (서초동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.10.02 수리 (Accepted) 1-1-2018-0975928-70
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.02.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.05.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2019-0139559-09
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.12.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0906678-35
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2020.02.17 수리 (Accepted) 1-1-2020-0166071-52
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.02.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0166072-08
9 등록결정서
Decision to grant
2020.04.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0249637-10
10 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2020.11.05 수리 (Accepted) 1-1-2020-1180689-10
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번호 청구항
1 1
테라헤르츠 파를 조사하는 방출부;상기 방출부에서 조사된 테라헤르츠 파의 경로를 변환시키는 반사부; 상기 테라헤르츠 파의 경로에 따라 시편에 제1 영역을 형성하게 하는 초점 조정부 -상기 반사부와 상기 초점 조정부 사이의 거리는 제1 거리로 이격되어 있고, 상기 제1 영역은 제2 영역 및 제3 영역을 포함하고, 상기 제2 영역 및 상기 제3 영역은 제2 거리로 이격되어 있음-; 상기 제1 영역에 조사된 상기 테라헤르츠 파가 상기 시편에서 각각 반사된 테라헤르츠 파를 수신하는 수신부; 및상기 제1 거리 및 상기 제2 거리 중 적어도 하나를 제어하고, 상기 테라헤르츠 파의 반사도 차이에 따른 상기 시편의 불량 여부를 검출하는 제어부로 구성되고,상기 초점 조정부는 복수의 렌즈를 포함하고, 상기 방출부로부터 상기 복수의 렌즈를 통과한 상기 테라헤르츠 파가 상기 시편 상에서 수직으로 입사하되 상기 제2 영역 및 상기 제3 영역에서 각각 동일한 초점을 형성하고, 상기 제1 거리가 57mm 내지 61mm 인 경우, 상기 제2 영역은 64mm 내지 67mm의 직경을 가지고,상기 제3 영역은 적정 직경 -상기 적정 직경은 상기 시편의 불량 여부를 검출할 수 있는 직경을 의미함- 을 각각 가지고,상기 적정 직경은 최소값을 기준으로 0
2 2
삭제
3 3
제1 항에 있어서,상기 제3 영역의 상기 적정 직경은 67
4 4
제1 항에 있어서,상기 제1 거리가 58mm 내지 60mm인 경우,상기 제3 영역의 상기 적정 직경은 67
5 5
제1 항에 있어서,상기 제1 거리는 59mm 내지 60mm인 경우,상기 제3 영역의 상기 적정 직경은 67
6 6
제1 항에 있어서,상기 제1 거리는 60mm인 경우,상기 제3 영역의 상기 적정 직경은 68mm 내지 103mm인 시편 검사 장치
7 7
제1 항에 있어서,상기 제1 거리는 60mm 내지 61mm인 경우,상기 제3 영역의 상기 적정 직경은 102
8 8
제1 항에 있어서,상기 테라헤르츠 파의 광원은 연속형 또는 펄스형인 시편 검사 장치
9 9
제1 항에 있어서,상기 테라헤르츠 파의 파장은 3mm 내지 30um인 시편 검사 장치
10 10
제1 항에 있어서,상기 제2 거리는 상기 반사부가 상기 제어부에 의해 회전되는 각도에 기초하여 결정되는 시편 검사 장치
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제1 항에 있어서,상기 시편은 전자 소자 또는 투명 전극이고,상기 전자 소자 또는 투명 전극은 투명 폴리머 기판, 유리, 및 석영 중 어느 하나에 금속 물질로 코팅된 시편 검사 장치
12 12
제11 항에 있어서,상기 금속 물질은 인듐 주석 산화물, 인듐 아연 산화물, 불소 도핑 주석 산화물, 및 금속 나노 와이어 중 적어도 어느 하나인 시편 검사 장치
13 13
방출부에서 테라헤르츠 파를 조사하는 단계;상기 방출부에서 조사된 테라헤르츠 파의 경로를 반사부를 통해 변환시키는 단계; 상기 테라헤르츠 파가 초점 조정부를 통해 시편에 제1 영역을 형성하는 단계 -상기 반사부와 상기 초점 조정부 사이의 거리는 제1 거리로 이격되어 있고, 상기 제1 영역은 제2 영역 및 제3 영역을 포함하고, 상기 제2 영역 및 상기 제3 영역은 제2 거리로 이격되어 있음-; 상기 제1 영역에 조사된 상기 테라헤르츠 파가 상기 시편에서 각각 반사된 테라헤르츠 파를 수신부를 통해 수신하는 단계; 및제어부가 상기 제1 거리 및 상기 제2 거리 중 적어도 하나를 제어하고, 상기 테라헤르츠 파의 반사도 차이에 따른 상기 시편의 불량 여부를 검출하는 단계로 구성되고,상기 초점 조정부는 복수의 렌즈를 포함하고, 상기 방출부로부터 상기 복수의 렌즈를 통과한 복수의 상기 테라헤르츠 파가 상기 시편 상에서 수직으로 입사하되 각각 동일한 초점을 형성하고, 상기 제1 거리가 57mm 내지 61mm 인 경우, 상기 제2 영역은 64mm 내지 67mm의 직경을 가지고,상기 제3 영역은 적정 직경 -상기 적정 직경은 상기 시편의 불량 여부를 검출할 수 있는 직경을 의미함- 을 각각 가지고,상기 적정 직경은 최소값을 기준으로 0
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DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2020071716 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 (주)마인즈아이 산업기술혁신사업 / 산업핵심기술개발사업 / 산업융합기술산업핵심기술개발사업(RCMS) THz 이미징을 이용한 인라인 반도체 칩/패키지 검사 장비개발
2 미래창조과학부 (재)한국연구재단 원자력연구개발사업 / 방사선기술개발사업 / 첨단 비파괴검사기술개발 구조용 복합재료 및 반도체 패키징 재료의 잠닉손상 정밀진단을 위한 Photo-Mixing 기반의 고속 고분해능 THz 영상/분광 기술 개발