[KST2017015934][한국전자통신연구원] |
반도체 소자의 테스트 소켓(TEST SOCKET FOR SEMICONDUCTOR DEVICE) |
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[KST2021001096][한국전자통신연구원] |
생체 인식 장치 및 방법 |
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[KST2019008325][한국전자통신연구원] |
액상 패치형 열전 소자를 위한 소재, 소자 및 공정 방법 개발 |
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[KST2015074097][한국전자통신연구원] |
티이앰셀을이용한전자파장해측정용피시험체받침대 |
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[KST2021005124][한국전자통신연구원] |
유연 열전소자 및 그 제조방법 |
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[KST2018004455][한국전자통신연구원] |
열전 성능 측정 장치(Device for measuring thermoelectric performance) |
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[KST2017001120][한국전자통신연구원] |
무선 주파수 프로브 장치(RADIO FREQUENCY PROBE APPARATUS) |
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[KST2016016867][한국전자통신연구원] |
도파관 형태의 마이크로파 모듈 시험 장치(APPARATUS WITH WAVEGUIDE FOR TESTING MICROWAVE MODULE) |
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[KST2018001820][한국전자통신연구원] |
열전소자의 제조방법(MANUFACTURING METHOD OF THERMOELECTRIC DEVICE) |
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[KST2020006251][한국전자통신연구원] |
최대 전력점 추적 제어 방법 및 장치 |
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[KST2017006233][한국전자통신연구원] |
열전 재료, 그 제조 방법, 및 그 열전 재료를 이용하는 열전 소자(THERMOELECTRIC MATERIAL, METHOD FOR FABRICATING THE SAME, AND THEMOELECTRIC ELEMENT USING THE SAME) |
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[KST2015100790][한국전자통신연구원] |
평면일체형 전자계프로브 |
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[KST2015095342][한국전자통신연구원] |
가변용백플레인 |
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[KST2015094214][한국전자통신연구원] |
열전 소자 및 그의 제조방법 |
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[KST2015093684][한국전자통신연구원] |
평면형 전계프로브 |
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[KST2019000135][한국전자통신연구원] |
전기 비저항 측정 장치 |
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[KST2022014518][한국전자통신연구원] |
전자기파 측정 방법 및 이를 위한 시스템 |
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[KST2016017017][한국전자통신연구원] |
반도체 소자 테스트 장치(TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE) |
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[KST2017007795][한국전자통신연구원] |
열전 소자 및 열전 모듈(THERMOELECTRIC ELEMENT AND THERMOELECTRIC MODULE) |
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[KST2018005714][한국전자통신연구원] |
에너지 수확 장치(ENERGY HARVESTING DEVICE) |
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[KST2015096780][한국전자통신연구원] |
반도체 소자 테스트 소켓 |
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