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폴리곤 미러 어셈블리 및 스캔 장치

  • 기술번호 : KST2020005589
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 폴리곤 미러 어셈블리 및 스캔 장치가 제공된다. 폴리곤 미러 어셈블리는, 회전축으로부터 소정의 거리로 이격되어 배치된 복수의 반사 면을 포함하는 폴리곤 미러; 폴리곤 미러를 회전축을 중심으로 회전시키는 제1 모터; 제1 모터가 폴리곤 미러를 회전시키는 동안, 회전축이 틸팅(tilting)되도록 폴리곤 미러를 제1 축 방향으로 이동시키는 제2 모터; 및 제1 모터의 회전 속도에 대한 변화를 검출하기 위한 클럭 신호를 추출하는 클럭 신호 추출면을 포함한다.
Int. CL G01N 21/3581 (2014.01.01) G02B 26/12 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020190113723 (2019.09.16)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0056284 (2020.05.22) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020180139740   |   2018.11.14
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.01.13)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이의수 세종특별자치시 보듬*로 *, *
2 박경현 대전광역시 유성구
3 이일민 대전광역시 유성구
4 문기원 대전광역시 유성구
5 박동우 세종특별자치시 누리로 **,
6 김현수 대전광역시 서구
7 이호진 대전광역시 유성구
8 박정우 대전광역시 유성구
9 신준환 대전광역시 유성구
10 최경선 세종특별자치시 대평로 **, **
11 최다혜 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 팬코리아특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 역삼***빌딩 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.09.16 수리 (Accepted) 1-1-2019-0944628-07
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2020.01.13 수리 (Accepted) 1-1-2020-0036922-31
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2020.04.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2020.06.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0178134-81
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.11.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0808695-59
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번호 청구항
1 1
회전축으로부터 소정의 거리로 이격되어 배치된 복수의 반사 면을 포함하는 폴리곤 미러;상기 폴리곤 미러를 상기 회전축을 중심으로 회전시키는 제1 모터;상기 제1 모터가 상기 폴리곤 미러를 회전시키는 동안, 상기 회전축이 틸팅(tilting)되도록 상기 폴리곤 미러를 제1 축 방향으로 이동시키는 제2 모터; 및상기 제1 모터의 회전 속도에 대한 변화를 검출하기 위한 클럭 신호를 추출하는 클럭 신호 추출면을 포함하는폴리곤 미러 어셈블리
2 2
제1항에 있어서,상기 제2 모터는, 상기 회전축이 소정의 각도 범위 내에서만 틸팅되도록 상기 폴리곤 미러를 반복적으로 이동시키는, 폴리곤 미러 어셈블리
3 3
제1항에 있어서,상기 제1 모터의 샤프트는, 상기 폴리곤 미러의 회전축 상에 배치되는, 폴리곤 미러 어셈블리
4 4
제1항에 있어서,상기 제2 모터는, 중간 연결부를 통해 상기 폴리곤 미러와 결합하고,상기 중간 연결부의 일 단은 상기 제1 모터와 결합하고, 상기 중간 연결부의 타 단은 상기 제2 모터의 샤프트와 결합하는, 폴리곤 미러 어셈블리
5 5
제1항에 있어서,상기 제1 모터의 회전 속도는 상기 제2 모터의 회전 속도보다 빠른, 폴리곤 미러 어셈블리
6 6
제1항에 있어서,상기 클럭 신호 추출면은, 상기 폴리곤 미러가 피검물을 스캔하지 않는 각도에서, 광원으로부터 입사하는 전자기파를 반사시키는, 폴리곤 미러 어셈블리
7 7
제1항에 있어서,상기 클럭 신호 추출면은, 상기 폴리곤 미러 내부에 배치되어, 광원으로부터 발생되어 상기 폴리곤 미러에 입사하는 전자기파를 반사시키는, 폴리곤 미러 어셈블리
8 8
제1항에 있어서,상기 클럭 신호 추출면은, 상기 폴리곤 미러 외부에 배치되어, 상기 폴리곤 미러에 반사되어 입사하는 전자기파를 반사시키는, 폴리곤 미러 어셈블리
9 9
제1항에 있어서,상기 폴리곤 미러는 ABS(acrylonitrile butadiene styrene copolymer) 수지를 포함하고,상기 복수의 반사면은 크롬 도금된, 폴리곤 미러 어셈블리
10 10
회전축으로부터 소정의 거리로 이격되어 배치된 복수의 반사면을 포함하는 폴리곤 미러;상기 폴리곤 미러를 상기 회전축을 중심으로 회전시키는 제1 모터;상기 회전축이 틸팅되도록 상기 폴리곤 미러를 제1 축 방향으로 이동시키는 제2 모터; 및일 단이 상기 제1 모터와 결합하고, 타 단이 상기 제2 모터의 샤프트와 결합하는 중간 연결부를 포함하는폴리곤 미러 어셈블리
11 11
제10항에 있어서,상기 제1 모터의 샤프트는 상기 폴리곤 미러의 회전축 상에 배치되는, 폴리곤 미러 어셈블리
12 12
제10항에 있어서,상기 제2 모터는, 상기 회전축이 소정의 각도 범위 내에서만 틸팅되도록 상기 폴리곤 미러를 반복적으로 이동시키는, 폴리곤 미러 어셈블리
13 13
제10항에 있어서,상기 폴리곤 미러는, 상기 폴리곤 미러가 피검물을 스캔하지 않는 각도에서, 상기 폴리곤 미러에 입사하는 전자기파를 반사시키는 클럭 신호 추출면을 포함하는, 폴리곤 미러 어셈블리
14 14
제10항에 있어서,상기 제1 모터는 BLDC(Brushless DC) 모터이고,상기 제2 모터는 스테핑 모터인, 폴리곤 미러 어셈블리
15 15
밀리미터파 또는 테라파를 포함하는 전자기파를 발생시키는 광원;상기 광원에서 발생된 전자기파를 평행하게 형성하는 콜리메이팅 렌즈;폴리곤 미러를 포함하고, 제1 모터를 이용하여 회전축을 중심으로 상기 폴리곤 미러를 회전시키는 동안, 제2 모터를 이용하여 상기 회전축이 틸팅되도록 상기 폴리곤 미러를 제1 축 방향으로 이동시키는 폴리곤 미러 어셈블리;상기 폴리곤 미러로부터 반사되는 전자기파를 검출하여, 피검물에 대한 2차원 이미지를 획득하는 검출부; 및상기 제1 모터의 회전 속도에 대한 변화를 검출하기 위한 클럭 신호를 추출하는 클럭 신호 추출면을 포함하는 스캔 장치
16 16
제15항에 있어서,상기 제2 모터는, 상기 회전축이 소정의 각도 범위 내에서만 틸팅되도록 상기 폴리곤 미러를 반복적으로 이동시키는, 스캔 장치
17 17
제15항에 있어서,상기 클럭 신호 추출면은, 상기 폴리곤 미러가 상기 피검물을 스캔하지 않는 각도에서, 광원으로부터 입사하는 전자기파를 반사시키는, 스캔 장치
18 18
제15항에 있어서,상기 클럭 신호 추출면은, 상기 폴리곤 미러 내부에 배치되어, 광원으로부터 발생되어 상기 폴리곤 미러에 입사하는 전자기파를 반사시키는, 스캔 장치
19 19
제15항에 있어서,상기 클럭 신호 추출면은, 상기 폴리곤 미러 외부에 배치되어, 상기 폴리곤 미러에 반사되어 입사되는 전자기파를 반사시키는, 스캔 장치
20 20
제15항에 있어서,상기 피검물에 대한 상기 2차원 이미지는 복수의 행을 포함하고, 상기 복수의 행 각각은 상기 피검물에 대한 이미지 신호 및 상기 클럭 신호를 포함하고,상기 검출부는, 상기 클럭 신호를 기준으로 상기 복수의 행을 정렬하여 상기 제1 모터의 회전 속도에 대한 변화에 따른 상기 2차원 이미지의 왜곡을 보정하는, 스캔 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 한국전자통신연구원 정부출연금사업(기관고유사업) 지능형 전파센서 및 무선 에너지 전송 원천기술 개발