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기회 기술 발굴 장치에 의해 수행되는 기술 기회 발굴 방법에 있어서,(a) 등록 특허 보유 수에 기초하여 참고 기업 및 기술 기회 발굴 대상 기업을 선별하는 단계;(b) 상기 참고 기업이 보유한 등록 특허의 특허별 특허 분류 코드 그룹을 연도별로 구분하여 상기 참고 기업별로 적어도 하나의 특허 분류 코드 시퀀스를 포함하는 특허 분류 코드 시퀀스 셋트를 생성하는 단계;(c) 상기 특허 분류 코드 시퀀스 셋트로부터 빈발하는 특허 분류 코드 시퀀스를 선별하여 상기 참고 기업별로 빈발 시퀀스 셋트를 생성하는 단계;(d) 기술 기회 발굴 대상 기업이 보유한 등록 특허의 특허별 특허 분류 코드 그룹을 연도별로 구분하여 발굴 대상 시퀀스를 생성하는 단계;(e) 상기 발굴 대상 시퀀스와 유사한 패턴을 갖는 빈발 시퀀스 셋트를 선별하는 단계; (f) 상기 발굴 대상 시퀀스를 고려하여, 선별된 상기 빈발 시퀀스 셋트로부터 기술 기회 발굴 대상인 후보 특허 분류 코드를 결정하는 단계; 및(g) 상기 후보 특허 분류 코드 중 기술 기회 발굴 대상 특허 분류 코드를 추천하는 단계,를 포함하고,상기 (b)단계는,상기 참고 기업이 보유한 등록 특허 중 각 연도별로 미리 설정된 집중도(CR) 이상의 특허 분류 코드 그룹에 기초하여 상기 특허 분류 코드 시퀀스 셋트를 생성는 것이고,상기 (f) 단계는,상기 후보 특허 분류 코드 별로 추천 지수를 산출하되,상기 추천 지수는,시차 지수(PI), 초점 기술 유사성 지수(FTSI), 집중도 지수(CR), 기술 역량 지수(TCI) 및 최신성 지수(RI)를 포함하고,상기 (g) 단계는,상기 추천 지수에 대한 선호도 순서 분석 기법에 기초하여 상기 기술 기회 발굴 대상 특허 분류 코드를 추천하는 것인, 기술 기회 발굴 방법
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제1항에 있어서,상기 (c) 단계는,순차 패턴 알고리즘에 기초하여, 미리 설정된 길이 이상으로 반복되는 특허 분류 코드 그룹의 패턴을 통해 상기 빈발 시퀀스 셋트를 생성하는 것인, 기술 기회 발굴 방법
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기술 기회 발굴 장치에 있어서,등록 특허 보유 수에 기초하여 참고 기업 및 기술 기회 발굴 대상 기업을 선별하는 기업 선별부;상기 참고 기업이 보유한 등록 특허의 특허별 특허 분류 코드 그룹을 연도별로 구분하여 상기 참고 기업별로 적어도 하나의 특허 분류 코드 시퀀스를 포함하는 특허 분류 코드 시퀀스 셋트를 생성하고, 상기 특허 분류 코드 시퀀스 셋트로부터 빈발하는 특허 분류 코드 시퀀스를 선별하여 상기 참고 기업별로 빈발 시퀀스 셋트를 생성하는 시퀀스 셋트 생성부;기술 기회 발굴 대상 기업이 보유한 등록 특허의 특허별 특허 분류 코드 그룹을 연도별로 구분하여 발굴 대상 시퀀스를 생성하는 발굴 대상 시퀀스 생성부;상기 발굴 대상 시퀀스와 유사한 패턴을 갖는 빈발 시퀀스 셋트를 선별하는 시퀀스 선별부;상기 발굴 대상 시퀀스를 고려하여, 선별된 상기 빈발 시퀀스 셋트로부터 기술 기회 발굴 대상인 후보 특허 분류 코드를 결정하는 결정부; 및상기 후보 특허 분류 코드 중 기술 기회 발굴 대상 특허 분류 코드를 추천하는 추천부,를 포함하고,상기 시퀀스 셋트 생성부는,상기 참고 기업이 보유한 등록 특허 중 각 연도별로 미리 설정된 집중도(CR) 이상의 특허 분류 코드 그룹에 기초하여 상기 특허 분류 코드 시퀀스 셋트를 생성하고,상기 결정부는,상기 후보 특허 분류 코드 별로 추천 지수를 산출하되,상기 추천 지수는,시차 지수(PI), 초점 기술 유사성 지수(FTSI), 집중도 지수(CR), 기술 역량 지수(TCI) 및 최신성 지수(RI)를 포함하고,상기 추천부는,상기 추천 지수에 대한 선호도 순서 분석 기법에 기초하여 상기 기술 기회 발굴 대상 특허 분류 코드를 추천하는 것인, 기술 기회 발굴 장치
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제6항에 있어서,상기 시퀀스 셋트 생성부는,순차 패턴 알고리즘에 기초하여, 미리 설정된 길이 이상으로 반복되는 특허 분류 코드 그룹의 패턴을 통해 상기 빈발 시퀀스 셋트를 생성하는 것인, 기술 기회 발굴 장치
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제1항 및 제3항 어느 한 항의 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터에서 판독 가능한 기록매체
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