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전지 셀 측정 모듈을 사용한 인시츄 광학 및 전기화학 분석 방법으로서,상기 전지 셀 측정 모듈은, 상부에 결합부가 형성된 하부 하우징; 상기 하부 하우징 상에 결합되고, 상부에 전지 셀이 수용되는 전지 셀 수용 공간이 형성되며, 상기 전지 셀 수용 공간과 연통되어 상기 결합부가 내부에 배치되는 결합 홀을 포함하는 고정부; 상기 고정부의 전지 셀 수용 공간으로부터 상기 결합 홀을 통해 상기 결합부까지 연결되는 높이 제어부; 상기 하부 하우징에 착탈 가능하게 부착되고, 상기 고정부, 상기 높이 제어부를 감싸도록 배치되며, 투명창이 구비된 상부 하우징; 상면에 개구부를 포함하는 전지 셀로서, 상기 개구부가 상기 투명창과 수직 오버랩되는 위치에 배치되도록 상기 전지 셀 수용 공간 내에 안착되는 상기 전지 셀을 포함하고,상기 전지 셀 측정 모듈에 충전 및 방전 동작을 수행하는 단계; 및상기 전지 셀 측정 모듈에 광 측정 사이클을 복수 회 수행하는 단계를 포함하며,상기 광 측정 사이클은,상기 투명창을 통해 관찰되는 상기 전지 셀의 제1 부분에 제1 광을 조사하는 단계; 상기 전지 셀로부터 산란되는 상기 제1 광을 검출하는 단계;상기 투명창을 통해 관찰되는 상기 전지 셀의 상기 제1 부분에 상기 제1 광과는 다른 파장을 갖는 제2 광을 조사하는 단계; 및상기 전지 셀로부터 산란되는 상기 제2 광을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 인시츄 광학 및 전기화학 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 높이 제어부는, 상부에 전지 셀이 배치되는 상판 몸체와,상기 상판 몸체의 하부에 형성되며, 상기 결합부에 결합되도록 형성되는 고정 기둥부를 포함하고,상기 고정 기둥부를 통해 상기 높이 제어부의 높이 조절이 가능한 것을 특징으로 하는 인시츄 광학 및 전기화학 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 전지 셀은,전지 적층체 수용 공간을 포함하는 하부 케이스,상기 전지 적층체 수용 공간 내에 배치되며, 양극 활물질이 부착된 양극 집전부,상기 전지 적층체 수용 공간 내에 배치되며, 음극 활물질이 부착된 음극 집전부, 상기 양극 활물질과 상기 음극 활물질 사이에 배치되는 분리막(separator), 및상기 전지 적층체 수용 공간을 커버하며, 상기 개구부가 구비된 상부 케이스를 포함하는 것을 특징으로 하는 인시츄 광학 및 전기화학 분석 방법
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제3항에 있어서,상기 전지 셀 측정 모듈은,상기 하부 하우징에 연결되는 하부 접속부; 및상기 상부 하우징에 연결되는 상부 접속부를 더 포함하고,상기 전지 셀의 상기 하부 케이스는 상기 높이 제어부, 상기 결합부, 및 상기 하부 하우징에 의해 상기 하부 접속부와 전기적으로 연결되고,상기 전지 셀의 상기 상부 케이스는 상기 상부 하우징을 통해 상기 상부 접속부에 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 인시츄 광학 및 전기화학 분석 방법
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제3항에 있어서,상기 양극 집전부는 상기 개구부와 오버랩되는 위치에 관통 홀을 포함하고, 상기 양극 활물질의 상면이 상기 관통 홀과 상기 개구부에 의해 노출되어 상기 투명창에 의해 상기 양극 활물질의 상기 상면이 관찰될 수 있도록 배치되는 것을 특징으로 하는 인시츄 광학 및 전기화학 분석 방법
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제3항에 있어서,상기 양극 집전부, 상기 양극 활물질, 및 상기 분리막은 상기 개구부와 오버랩되는 위치에 관통 홀을 포함하고, 상기 음극 활물질의 상면이 상기 관통 홀과 상기 개구부에 의해 노출되어 상기 투명창에 의해 상기 음극 활물질의 상기 상면이 관찰될 수 있도록 배치되는 것을 특징으로 하는 인시츄 광학 및 전기화학 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 전지 셀 측정 모듈은,상기 높이 제어부와 상기 전지 셀 사이에 배치되는 스페이서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인시츄 광학 및 전기화학 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 제1 광을 검출하는 단계는 상기 전지 셀의 상기 제1 부분의 광학 이미지를 획득하는 단계를 포함하고,상기 제2 광을 검출하는 단계는 상기 전지 셀의 상기 제1 부분의 라만 시프트 특성을 획득하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 인시츄 광학 및 전기화학 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 제2 광을 조사하는 단계는,상기 투명창을 통해 관찰되는 상기 전지 셀의 상면을 따라 제1 스캔 폭만큼 연속적으로 상기 제2 광을 조사하는 단계를 포함하는 인시츄 광학 및 전기화학 분석 방법
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