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보조 입자 필터링을 이용한 IGBT의 잔여 유효 수명 추정 방법

  • 기술번호 : KST2020008508
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 개시의 일 특징에 따르면, 컴퓨터 장치에서 수행되는 보조 입자 필터링을 이용한 IGBT의 잔여 유효 수명 추정 방법이 제공된다. 본 개시의 방법은 과거 데이터를 분석하여 파라미터 초기값을 설정하는 단계; 중요 밀도 함수(importance density funtion)를 적용하는 단계; (a) 과거 측정값을 이용하여 VCE,ON을 추정하는 단계; (b) 상기 중요 밀도 함수와 가중치를 업데이트하는 단계; 및 상기 IGBT의 잔여 유효 수명 추정하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL G06F 30/00 (2020.01.01) G01N 17/00 (2020.01.01) G01N 25/16 (2006.01.01) H01L 29/739 (2006.01.01)
CPC G06F 30/20(2013.01) G06F 30/20(2013.01) G06F 30/20(2013.01) G06F 30/20(2013.01)
출원번호/일자 1020180169287 (2018.12.26)
출원인 한국기술교육대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-2176205-0000 (2020.11.03)
공개번호/일자 10-2020-0079765 (2020.07.06) 문서열기
공고번호/일자 (20201109) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.12.26)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기술교육대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 천안시 동남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 백제훈 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 신우 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, *층(역삼동, 대아빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기술교육대학교 산학협력단 충청남도 천안시 동남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2018.12.26 수리 (Accepted) 1-1-2018-1303417-57
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2019.07.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2019.08.08 수리 (Accepted) 9-1-2019-0037160-65
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2020.04.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0265529-52
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
 2020.06.11 수리 (Accepted) 1-1-2020-0603172-49
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2020.06.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0603162-93
7 등록결정서
Decision to grant		 2020.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0753750-05
8 [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)
 2020.11.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-5028319-15
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번호 청구항
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컴퓨터 장치에서 수행되는 보조 입자 필터링을 이용한 IGBT의 잔여 유효 수명 추정 방법으로서, 과거 데이터를 분석하여 파라미터 초기값을 설정하는 단계; 중요 밀도 함수(importance density funtion)를 적용하는 단계; (a) 과거 측정값을 이용하여 VCE,ON을 추정하는 단계; (b) 상기 중요 밀도 함수와 가중치를 업데이트하는 단계; 및상기 IGBT의 잔여 유효 수명 추정하는 단계를 포함하고, 상기 중요 밀도 함수와 가중치를 업데이트하는 단계는 리샘플링하여 과거 측정값을 이용하여 VCE,ON을 추정하는 단계를 더 포함하며, 상기 중요 밀도 함수와 가중치를 업데이트하는 단계는 VCE,ON의 궤적의 수(N)가 유효 입자의 수(Neff)보다 작은 경우, 리샘플링하는 단계; 및 상기 중요 밀도 함수와 가중치를 업데이트하는 단계를 수행하도록 구성되고, 실제 시스템에서 센서를 통해 IGBT의 결함여부를 센싱하여 상기 중요 밀도 함수와 가중치를 업데이트하는 단계를 더 포함하는 IGBT의 잔여 유효 수명 추정 방법
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 전기전자통신공학부 한국기술교육대학교 산학협력단 사회맞춤형 산학협력 선도사업(LINC+)육성사업 산업용 전동기 구동용 지능형 인버터 개발