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플라즈마 처리 장치 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2020008656
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버와, 상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하며, 상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽은 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어지고, 상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖는 플라즈마 처리 장치 및 그 제조방법에 관한 것이다. 본 발명의 플라즈마 처리 장치에 사용되는 부품 또는 챔버 내벽은 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어지고, 상기 실리콘카바이드계 복합체는 소재의 위치에 따른 전기저항 차이가 크지 않고, 낮은 전기저항을 나타내며, 열전도 및 기계적 특성이 우수하다.
Int. CL H01J 37/32 (2006.01.01)
CPC H01J 37/32467(2013.01) H01J 37/32467(2013.01) H01J 37/32467(2013.01)
출원번호/일자 1020190178824 (2019.12.31)
출원인 (주)삼양컴텍, 한국세라믹기술원
등록번호/일자 10-2124766-0000 (2020.06.15)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20200619) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.12.31)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 (주)삼양컴텍 대한민국 서울특별시 서초구
2 한국세라믹기술원 대한민국 경상남도 진주시 소호로 ***

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최우혁 경기도 광주시
2 강석원 서울특별시 송파구
3 손재용 경기도 광주시
4 정성모 경기도 용인시 수지구
5 박주석 경상남도 진주시 소호로 **,
6 김경훈 경상남도 진주시 소호로 **,
7 소성민 경상남도 진주

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 고길수 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로**길 **, *층 (서초동)(정석국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 (주)삼양컴텍 서울특별시 서초구
2 한국세라믹기술원 경상남도 진주시 소호로 ***
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2019-1359157-61
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2020.01.14 수리 (Accepted) 1-1-2020-0038499-65
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2020.01.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2020.01.20 수리 (Accepted) 9-1-2020-0002792-15
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.02.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0103895-93
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.04.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0372321-04
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.04.10 수리 (Accepted) 1-1-2020-0372338-79
8 보정요구서
Request for Amendment
2020.04.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2020-0059478-36
9 [출원서 등 보정]보정서(납부자번호)
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment(Payer number)
2020.04.22 수리 (Accepted) 1-1-2020-0411667-34
10 등록결정서
Decision to grant
2020.06.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0386130-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버; 및상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하며,상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽은 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어지고,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC와 B4C가 50:50 내지 90:10의 중량비를 이루고 있으며,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 부품은 서셉터, 샤워헤드 또는 에지링인 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 실리콘카바이드계 복합체는 Al2O3 결정상을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치
4 4
제1항에 있어서, 상기 실리콘카바이드계 복합체는 Y2O3 결정상을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치
5 5
제1항에 있어서, 상기 실리콘카바이드계 복합체는 YAG(Yttrium aluminium garnet, Y3Al5O12) 결정상을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치
6 6
제1항에 있어서, 상기 실리콘카바이드계 복합체는 50W/mK 보다 높은 열전도도를 나타내는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치
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삭제
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플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버와, 상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법에 있어서,출발원료로 SiC 분말 및 B4C 분말을 준비하고 혼합하여 슬러리 상태로 만드는 단계;슬러리 상태의 출발원료를 분무건조(spray drying) 하여 과립분말을 수득하는 단계;플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버 내에 실장되어 플라즈마와 접촉하는 부품의 형상으로 성형하거나 상기 챔버 내벽의 형상으로 성형하기 위한 몰드를 준비하는 단계;상기 과립분말을 상기 몰드에 담아 퍼니스에 장입하는 단계;상기 퍼니스의 온도를 승온하고 상기 과립분말에 압력을 가하면서 소결시키는 단계; 및상기 퍼니스를 냉각하여 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어진 상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽을 수득하는 단계를 포함하며,상기 SiC 분말과 상기 B4C 분말은 50:50 내지 90:10의 중량비로 혼합하고,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법
9 9
플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버와, 상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법에 있어서,출발원료로 SiC 분말 및 B4C 분말을 준비하고 혼합하여 슬러리 상태로 만드는 단계;슬러리 상태의 출발원료를 분무건조(spray drying) 하여 과립분말을 수득하는 단계;플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버 내에 실장되어 플라즈마와 접촉하는 부품의 형상으로 성형하거나 상기 챔버 내벽의 형상으로 성형하기 위한 몰드를 준비하는 단계;상기 과립분말을 상기 몰드에 담아 퍼니스에 장입하는 단계;상기 퍼니스의 온도를 승온하고 상기 과립분말에 압력을 가하면서 소결시키는 단계; 및상기 퍼니스를 냉각하여 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어진 상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽을 수득하는 단계를 포함하며,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖고,상기 출발원료는 알루미늄 나이트레이트 수화물을 더 포함하고, 상기 알루미늄 나이트레이트 수화물은 상기 SiC 분말과 상기 B4C 분말의 전체 함량 100중량부에 대하여 0
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플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버와, 상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법에 있어서,출발원료로 SiC 분말 및 B4C 분말을 준비하고 혼합하여 슬러리 상태로 만드는 단계;슬러리 상태의 출발원료를 분무건조(spray drying) 하여 과립분말을 수득하는 단계;플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버 내에 실장되어 플라즈마와 접촉하는 부품의 형상으로 성형하거나 상기 챔버 내벽의 형상으로 성형하기 위한 몰드를 준비하는 단계;상기 과립분말을 상기 몰드에 담아 퍼니스에 장입하는 단계;상기 퍼니스의 온도를 승온하고 상기 과립분말에 압력을 가하면서 소결시키는 단계; 및상기 퍼니스를 냉각하여 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어진 상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽을 수득하는 단계를 포함하며,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖고,상기 출발원료는 이트륨 나이트레이트 수화물을 더 포함하고, 상기 이트륨 나이트레이트 수화물은 상기 SiC 분말과 상기 B4C 분말의 전체 함량 100중량부에 대하여 0
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플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버와, 상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법에 있어서,출발원료로 SiC 분말 및 B4C 분말을 준비하고 혼합하여 슬러리 상태로 만드는 단계;슬러리 상태의 출발원료를 분무건조(spray drying) 하여 과립분말을 수득하는 단계;플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버 내에 실장되어 플라즈마와 접촉하는 부품의 형상으로 성형하거나 상기 챔버 내벽의 형상으로 성형하기 위한 몰드를 준비하는 단계;상기 과립분말을 상기 몰드에 담아 퍼니스에 장입하는 단계;상기 퍼니스의 온도를 승온하고 상기 과립분말에 압력을 가하면서 소결시키는 단계; 및상기 퍼니스를 냉각하여 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어진 상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽을 수득하는 단계를 포함하며,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖고,상기 출발원료는 알루미늄 나이트레이트 수화물과 이트륨 나이트레이트 수화물을 더 포함하고, 상기 알루미늄 나이트레이트 수화물과 상기 이트륨 나이트레이트 수화물은 상기 SiC 분말과 상기 B4C 분말의 전체 함량 100중량부에 대하여 0
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플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버와, 상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법에 있어서,출발원료로 SiC 분말 및 B4C 분말을 준비하고 혼합하여 슬러리 상태로 만드는 단계;슬러리 상태의 출발원료를 분무건조(spray drying) 하여 과립분말을 수득하는 단계;플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버 내에 실장되어 플라즈마와 접촉하는 부품의 형상으로 성형하거나 상기 챔버 내벽의 형상으로 성형하기 위한 몰드를 준비하는 단계;상기 과립분말을 상기 몰드에 담아 퍼니스에 장입하는 단계;상기 퍼니스의 온도를 승온하고 상기 과립분말에 압력을 가하면서 소결시키는 단계; 및상기 퍼니스를 냉각하여 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어진 상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽을 수득하는 단계를 포함하며,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖고,상기 출발원료는 Al(OH)3 분말을 더 포함하고, 상기 Al(OH)3 분말은 상기 SiC 분말과 상기 B4C 분말의 전체 함량 100중량부에 대하여 0
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플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버와, 상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법에 있어서,출발원료로 SiC 분말 및 B4C 분말을 준비하고 혼합하여 슬러리 상태로 만드는 단계;슬러리 상태의 출발원료를 분무건조(spray drying) 하여 과립분말을 수득하는 단계;플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버 내에 실장되어 플라즈마와 접촉하는 부품의 형상으로 성형하거나 상기 챔버 내벽의 형상으로 성형하기 위한 몰드를 준비하는 단계;상기 과립분말을 상기 몰드에 담아 퍼니스에 장입하는 단계;상기 퍼니스의 온도를 승온하고 상기 과립분말에 압력을 가하면서 소결시키는 단계; 및상기 퍼니스를 냉각하여 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어진 상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽을 수득하는 단계를 포함하며,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖고,상기 출발원료는 Y2O3 분말을 더 포함하고, 상기 Y2O3 분말은 상기 SiC 분말과 상기 B4C 분말의 전체 함량 100중량부에 대하여 0
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플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버와, 상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법에 있어서,출발원료로 SiC 분말 및 B4C 분말을 준비하고 혼합하여 슬러리 상태로 만드는 단계;슬러리 상태의 출발원료를 분무건조(spray drying) 하여 과립분말을 수득하는 단계;플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버 내에 실장되어 플라즈마와 접촉하는 부품의 형상으로 성형하거나 상기 챔버 내벽의 형상으로 성형하기 위한 몰드를 준비하는 단계;상기 과립분말을 상기 몰드에 담아 퍼니스에 장입하는 단계;상기 퍼니스의 온도를 승온하고 상기 과립분말에 압력을 가하면서 소결시키는 단계; 및상기 퍼니스를 냉각하여 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어진 상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽을 수득하는 단계를 포함하며,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖고,상기 출발원료는 액상 규산소다(sodium silicate)를 더 포함하고, 상기 액상 규산소다는 상기 SiC 분말과 상기 B4C 분말의 전체 함량 100중량부에 대하여 0
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삭제
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플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버와, 상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법에 있어서,출발원료로 SiC 분말 및 B4C 분말을 준비하고 혼합하여 슬러리 상태로 만드는 단계;슬러리 상태의 출발원료를 분무건조(spray drying) 하여 과립분말을 수득하는 단계;플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버 내에 실장되어 플라즈마와 접촉하는 부품의 형상으로 성형하거나 상기 챔버 내벽의 형상으로 성형하기 위한 몰드를 준비하는 단계;상기 과립분말을 상기 몰드에 담아 퍼니스에 장입하는 단계;상기 퍼니스의 온도를 승온하고 상기 과립분말에 압력을 가하면서 소결시키는 단계; 및상기 퍼니스를 냉각하여 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어진 상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽을 수득하는 단계를 포함하며,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖고,상기 소결온도는 1750∼2100℃ 범위인 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법
17 17
플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버와, 상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법에 있어서,출발원료로 SiC 분말 및 B4C 분말을 준비하고 혼합하여 슬러리 상태로 만드는 단계;슬러리 상태의 출발원료를 분무건조(spray drying) 하여 과립분말을 수득하는 단계;플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버 내에 실장되어 플라즈마와 접촉하는 부품의 형상으로 성형하거나 상기 챔버 내벽의 형상으로 성형하기 위한 몰드를 준비하는 단계;상기 과립분말을 상기 몰드에 담아 퍼니스에 장입하는 단계;상기 퍼니스의 온도를 승온하고 상기 과립분말에 압력을 가하면서 소결시키는 단계; 및상기 퍼니스를 냉각하여 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어진 상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽을 수득하는 단계를 포함하며,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖고,상기 과립분말에 가해지는 압력은 10∼60MPa 범위인 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법
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플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버와, 상기 챔버 내에 실장되고 플라즈마와 접촉하는 부품을 포함하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법에 있어서,출발원료로 SiC 분말 및 B4C 분말을 준비하고 혼합하여 슬러리 상태로 만드는 단계;슬러리 상태의 출발원료를 분무건조(spray drying) 하여 과립분말을 수득하는 단계;플라즈마 처리를 위한 반응공간을 제공하는 챔버 내에 실장되어 플라즈마와 접촉하는 부품의 형상으로 성형하거나 상기 챔버 내벽의 형상으로 성형하기 위한 몰드를 준비하는 단계;상기 과립분말을 상기 몰드에 담아 퍼니스에 장입하는 단계;상기 퍼니스의 온도를 승온하고 상기 과립분말에 압력을 가하면서 소결시키는 단계; 및상기 퍼니스를 냉각하여 내플라즈마 재질의 실리콘카바이드계 복합체로 이루어진 상기 부품 또는 상기 챔버의 내벽을 수득하는 단계를 포함하며,상기 실리콘카바이드계 복합체는 SiC 결정상과 B4C 결정상을 포함하면서 92% 보다 높은 상대밀도를 나타내고 30Ω·㎝ 보다 낮은 비저항을 갖고,상기 분무건조는 유입구(Inlet) 온도 85∼270℃, 배출구(Outlet)의 온도 60∼120℃, 회전속도 6000∼15000 rpm의 조건에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법
19 19
제8항에 있어서, 상기 실리콘카바이드계 복합체는 50W/mK 보다 높은 열전도도를 나타내는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법
20 20
제8항에 있어서, 상기 부품은 서셉터, 샤워헤드 또는 에지링인 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리 장치의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.