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공진기의 특성을 입력받는 제1단계; 2개 이상의 측정 포인트를 설정하는 제2단계; 상기 2개 이상의 측정 포인트의 각각의 파장을 갖는 2개 이상의 광원부를 사용하여 상기 2개 이상의 측정 포인트의 상기 공진기 출력을 측정하는 제3단계; 상기 공진기 출력을 피팅하여 파형을 출력하는 제4단계; 상기 피팅한 파형의 피크 파장을 분석하는 제5단계; 및 상기 피크 파장의 변화가 있으면 상기 피팅 전과 후의 상기 피크 파장의 변위를 분석하는 제6단계를 포함하는 것 을 특징으로 하는 이산 파장 세기를 이용한 공진 특성 예측 방법
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제1항에 있어서, 상기 공진기 특성은 광원부의 파장, 상기 공진기 길이, 구조, 물질, 자유스펙트럼 영역(Free spectral range, FSR) 및 반치전폭(full-width half maximum, FWHM) 중 적어도 어느 하나인 것 을 특징으로 하는 이산 파장 세기를 이용한 공진 특성 예측 방법
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제1항에 있어서, 상기 공진기 출력은 상기 측정 포인트의 파장 세기 인 것 을 특징으로 하는 이산 파장 세기를 이용한 공진 특성 예측 방법
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제1항에 있어서, 상기 피팅은 다음의 계산식을 활용한 것 을 특징으로 하는 이산 파장 세기를 이용한 공진 특성 예측 방법
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제1항 및 제3항 내지 제5항 중 어느 하나의 이산 파장 세기를 이용한 공진 특성 예측 방법을 실행하기 위하여 컴퓨터가 판독 가능한 기록매체에 저장된 컴퓨터 프로그램
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공진기의 특성 및 2개 이상의 측정 포인트를 입력받는 입력부; 상기 2개 이상의 측정 포인트 각각의 파장을 갖는 2개 이상의 광원부; 상기 광원부를 사용하여 상기 2개 이상의 측정 포인트의 공진기 출력을 측정하는 포토디텍터; 상기 공진기 출력을 피팅하는 피팅부; 및 상기 피팅한 신호의 피크 파장과 상기 피크 파장 변위를 분석하는 분석부;를 포함하는 것 을 특징으로 하는 이산 파장 세기를 이용한 공진 특성 예측 장치
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제7항에 있어서, 상기 공진기 특성은 광원부의 파장, 상기 공진기 길이, 구조, 물질, 자유스펙트럼 영역(Free spectral range, FSR) 및 반치전폭(full-width half maximum, FWHM) 중 적어도 어느 하나인 것 을 특징으로 하는 이산 파장 세기를 이용한 공진 특성 예측 장치
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제7항에 있어서, 상기 공진기 출력은 상기 측정 포인트의 파장 세기 인 것 을 특징으로 하는 이산 파장 세기를 이용한 공진 특성 예측 장치
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제7항에 있어서, 상기 피팅은 다음의 계산식을 활용한 것 을 특징으로 하는 이산 파장 세기를 이용한 공진 특성 예측 장치
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