요약 | 본 발명은 엑스선을 이용하여 적층형 이차전지의 적층 정렬도를 검사하는 장치에 관한 것으로, 간편하고 효율적으로 적층형 이차전지의 정렬도를 검사할 수 있다. |
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Int. CL | G01N 23/04 (2018.01.01) H01M 10/42 (2014.01.01) |
CPC | |
출원번호/일자 | 1020200002942 (2020.01.09) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | |
공개번호/일자 | 10-2020-0088222 (2020.07.22) 문서열기 |
공고번호/일자 | |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 |
대한민국 | 1020190004077 | 2019.01.11
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법적상태 | 공개 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | N |
심사청구항수 | 1 |