| 1 |
1
광원으로부터 영상 센서까지의 거리 변화에 따른 대즐링 효과를 측정하기 위한 대즐링 효과 측정 장치에 있어서,대즐링 효과를 측정하기 위하여 광선을 조사하는 광원;상기 광원으로부터 조사된 광선을 수광하는 영상 센서;상기 광원 및 상기 영상 센서 사이에 위치하며, 상기 광원으로부터 입사된 광선의 발산 각도를 조절함으로써, 상기 광원으로부터 상기 영상 센서까지의 거리가 변화된 효과를 모사하기 위한 광 조절 광학계;상기 광원 및 상기 광 조절 광학계 사이에 위치하고, 광선의 적어도 일부분을 반사시키는 제 1 빔 샘플러;상기 제 1 빔 샘플러에서 반사되는 광선을 수광하는 제 1 빔 프로파일러;상기 광 조절 광학계 및 상기 영상 센서 사이에 위치하고, 광선의 적어도 일부분을 반사시키는 제 2 빔 샘플러;상기 제 2 빔 샘플러에서 반사되는 광선을 수광하는 제 2 빔 프로파일러; 및상기 광원 및 광 조절 광학계를 제어하여 광선의 출력 및 광선의 발산 각도를 조절할 수 있고, 상기 제 1 빔 프로파일러 및 제 2 빔 프로파일러에서 수광되는 광선의 면적에 기초하여 광선의 발산 각도를 측정하는 제어부를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치
|
| 2 |
2
삭제
|
| 3 |
3
제 1 항에 있어서,상기 광 조절 광학계 및 상기 영상 센서 사이에 위치하고, 광선의 적어도 일부분을 반사시키는 제 3 빔 샘플러;상기 제 3 빔 샘플러에서 반사되는 광선의 출력 크기를 측정하는 출력 측정부를 더 포함하는 대즐링 효과 측정 장치
|
| 4 |
4
제 1 항에 있어서,상기 광원을 포함하는 복수 개의 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 광원 중 어느 하나의 광원이 선택적으로 상기 영상 센서를 지향 가능하도록 회전 가능하게 설치되는 회전판을 더 포함하는 대즐링 효과 측정 장치
|
| 5 |
5
제 4 항에 있어서,상기 회전판은 상기 영상 센서를 중심으로 원둘레 방향으로 회전 가능한 것을 특징으로 하는 대즐링 효과 측정 장치
|
| 6 |
6
제 5 항에 있어서,상기 제어부는, 상기 영상 센서를 중심으로 상기 회전판에 방사상으로 설치된 복수 개의 광원을 선택적으로 구동하여 주변 조도 환경을 모사하는 것을 특징으로 하는 대즐링 효과 측정 장치
|
| 7 |
7
제 1 항에 있어서,상기 영상 센서를 회전 가능하게 지지하는 회전 스테이지를 더 포함하고,상기 제어부는 상기 회전 스테이지를 회전시켜 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 각도를 조절하는 대즐링 효과 측정 장치
|
| 8 |
8
제 7 항에 있어서,상기 회전 스테이지는 상기 영상 센서에 광선이 조사되는 광축에 수직한 2 개의 회전 축을 기준으로 상기 영상 센서를 회전시키는 대즐링 효과 측정 장치
|
| 9 |
9
제 8 항에 있어서,상기 광원 및 상기 광 조절 광학계 사이에 위치하고, 상기 광원으로부터 출력되는 광선의 편광 상태 또는 투과 정도를 변형시키는 파장판; 및상기 파장판을 회전시켜 상기 파장판을 통과하는 광선의 편광 상태 또는 투과 정도를 조절하는 파장판 회전 장치를 더 포함하는 대즐링 효과 측정 장치
|
| 10 |
10
광원과, 상기 광원으로부터 조사된 광선을 수광하는 영상 센서와, 상기 광원의 특성에 대한 정보를 감지하기 위한 빔 프로파일러와, 상기 광원으로부터 조사된 광선의 일부는 상기 영상 센서로 안내하고 상기 조사된 광선의 나머지는 상기 빔 프로파일러로 안내하는 빔 샘플러를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법에 있어서,상기 광원의 종류, 상기 광원의 특성 또는 광원의 조사 조건을 포함하는 측정 조건 중 적어도 하나 이상의 측정 인자를 변경하는 단계;상기 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 상기 빔 프로파일러에서 감지된 광원 특성 정보를 저장하는 단계;상기 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 상기 영상 센서에서 나타난 대즐링 효과도를 저장하는 단계; 및상기 광원 특성 정보 및 상기 대즐링 효과도를 통해 상기 적어도 하나 이상의 측정 인자에 대한 대즐링 특성을 저장하는 단계를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법
|
| 11 |
11
제 10 항에 있어서,상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 광원을 포함하는 복수 개의 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 광원 중 어느 하나의 광원이 선택적으로 상기 영상 센서를 지향 가능하도록 회전 가능하게 설치되는 회전판을 더 포함하고,상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 회전판을 회전시켜 상기 영상 센서에 시준되는 광원의 종류를 변경하는 단계를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법
|
| 12 |
12
제 11 항에 있어서,상기 측정 인자를 변경하는 단계는,상기 영상 센서를 중심으로 상기 회전판에 방사상으로 설치된 복수 개의 광원을 선택적으로 구동하여 주변 조도 조건을 변경하는 단계를 더 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법
|
| 13 |
13
제 10 항에 있어서,상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 영상 센서에 광선이 조사되는 광축에 수직한 2 개의 회전 축을 기준으로 상기 영상 센서를 회전 가능하게 지지하는 회전 스테이지를 더 포함하고상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 회전 스테이지를 회전하여 광선의 조사 각도를 변경하는 단계를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법
|
| 14 |
14
제 13 항에 있어서,상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 광원으로부터 출력되는 광선의 경로 상에 설치되어 상기 광선의 편광 상태를 변형시키는 파장판을 더 포함하고,상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 파장판을 회전시켜 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 편광 상태를 변경하는 단계를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법
|
| 15 |
15
제 10 항에 있어서,상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 광원 및 상기 영상 센서 사이에 위치하며, 상기 광원으로부터 입사된 광선의 발산 각도를 조절하는 광 조절 광학계를 더 포함하고,상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 광원의 출력 및 광선의 발산 각도를 포함하는 광원의 특성을 변경하는 단계를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법
|
