| 1 |
1
사이클로트론 캐비티로 제1 하전입자를 방출하는 제1 이온원;상기 제1 이온원과 180도 떨어진 지점에 설치되며, 상기 사이클로트론 캐비티로 상기 제1 하전입자와 질량이 상이한 제2 하전입자를 방출하는 제2 이온원;제1 RF 앰프와 연결되어, 상기 제1 RF 앰프로부터 제1 공진주파수를 가진 제1 교류전압을 입력받는 제1 디(dee) 세트;제2 RF 앰프와 연결되어, 상기 제2 RF 앰프로부터 제2 공진주파수를 가진 제2 교류전압을 입력받는 제2 디(dee) 세트; 및상기 제1 디세트와 상기 제2 디세트에 인가된 제1 교류전압과 제2 교류전압에 의해 발생된 제1 이온빔과 제2 이온빔을 사이클로트론 외부로 방출하는 빔 인출부를 포함하는 사이클로트론 기반의 가속기 질량 분석 시스템
|
| 2 |
2
제1항에 있어서,상기 사이클로트론 기반의 가속기 질량 분석 시스템은 상기 빔 인출부와 연결되고, 상기 빔 인출부로부터 방출된 상기 제1 이온빔과 제2 이온 빔을 입력받아, 상기 제1 이온빔과 상기 제2 이온빔에 포함된 하전입자의 수를 카운팅하는 하전입자 카운팅부;상기 제1 RF 앰프 및 상기 제2 RF 앰프와 연결되고, 상기 제1 RF 앰프와 상기 제2 RF 앰프가 교번하여 구동하도록 제1 구동 제어신호와 제2 구동 제어신호를 교번하여 생성하여, 각각 상기 제1 RF 앰프와 상기 제2 RF 앰프로 전달하는 제어부를 더 포함하되,상기 제1 RF 앰프는 상기 제1 구동제어신호를 입력받은 경우에, 상기 제1 교류전압을 출력하여 상기 제1 디 세트로 전달하고, 상기 제2 RF 앰프는 상기 제1 구동제어신호를 입력받은 경우에, 제2 교류전압을 출력하여 상기 제2 디세트로 전달하는 것을 특징으로 하는 사이클로트론 기반의 가속기 질량 분석 시스템
|
| 3 |
3
제2항에 있어서,상기 제어부는상기 하전입자 카운팅부와 더 연결되고,상기 제1 RF 앰프로 제1 구동제어신호를 전달한 후 상기 제1 RF 앰프에서 출력되는 교류전압의 주기의 10~20% 이내에 상기 제1 하전입자의 수를 카운팅하도록하는 제1 하전입자 카운팅 신호를 생성하여 상기 하전입자 카운팅부로 전달하고, 상기 제2 RF 앰프로 제2 구동제어신호를 전달한 후 상기 제2 RF 앰프에서 출력되는 교류전압의 주기의 10~20% 이내에 상기 제2 하전입자의 수를 카운팅하도록하는 제2 하전입자 카운팅 신호를 생성하여 하전입자 카운팅부로 전달하는 것을 특징으로 하는 사이클로트론 기반의 가속기 질량 분석 시스템
|
| 4 |
4
제2항에 있어서,상기 제어부는상기 하전입자 카운팅부와 더 연결되고,상기 제1 RF 앰프로 제1 구동제어신호를 전달함과 동시에 상기 제1 하전입자의 수를 카운팅하도록하는 제1 하전입자 카운팅 신호를 생성하여 상기 하전입자 카운팅부로 전달하고, 상기 제2 RF 앰프로 제2 구동제어신호를 전달함과 동시에 제2 RF 앰프에서 출력되는 상기 제2 하전입자의 수를 카운팅하도록하는 제2 하전입자 카운팅 신호를 생성하여 하전입자 카운팅부로 전달하는 것을 특징으로 하는 사이클로트론 기반의 가속기 질량 분석 시스템
|
