맞춤기술찾기

이전대상기술

광학 분광 분석 장치 및 이를 구비한 플라즈마 처리 장치

  • 기술번호 : KST2020012142
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 광학 분광 분석 장치 및 플라즈마 처리 장치가 개시된다. 본 발명의 실시 예에 따른 광학 분광 분석 장치는 플라즈마 공정 챔버 내의 광을 수집하기 위한 오목렌즈; 및 오목렌즈에 의해 수집된 광을 플라즈마 상태를 분석하기 위한 분석부로 전달하기 위한 광전달부를 포함한다. 오목렌즈는 광전달부로 제공될 플라즈마 공정 챔버 내의 광의 입사각 범위를 수평 방향으로 확장시키고 플라즈마 공정 챔버 내에 배치된 기판의 상부 영역의 광을 수집하도록 수평 방향으로의 곡률이 기판의 크기에 대응하는 광 입사각 범위를 갖는다.
Int. CL H05H 1/00 (2006.01.01) H01J 37/32 (2006.01.01) G01J 3/02 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020200081155 (2020.07.01)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0084841 (2020.07.13) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자 10-2016-0018600 (2016.02.17)
관련 출원번호 1020160018600
심사청구여부/일자 Y (2020.07.01)
심사청구항수 2

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 윤일구 서울특별시 강남구
2 이상명 서울특별시 서대문구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
2 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2020.07.01 수리 (Accepted) 1-1-2020-0685318-18
2 등록결정서
Decision to grant
2020.09.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0659721-08
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
플라즈마 공정 챔버 내의 광을 수집하기 위한 오목렌즈; 및상기 오목렌즈에 의해 수집된 광을 플라즈마 상태를 분석하기 위한 분석부로 전달하기 위한 광전달부를 포함하고,상기 플라즈마 공정 챔버의 벽체에는 투광부가 구비되고,상기 오목렌즈는, 상기 투광부의 외측에 설치되어 상기 플라즈마 공정 챔버의 내부로부터 상기 투광부를 통과한 광이 입사되고, 상기 플라즈마 공정 챔버 내의 광 중에서 상기 플라즈마 공정 챔버 내에 배치된 기판의 상부면 상의 광을 수집하도록, 수평 방향으로의 곡률이 상하 방향으로의 곡률보다 큰 구조를 가지며,상기 오목렌즈는, 수평 방향으로의 횡단면이 오목한 형상을 갖도록 가공되고, 상하 방향으로의 종단면이 직사각 형상을 갖도록 가공되며, 상하 방향으로 일정한 횡단면 형상을 갖도록 가공되며,상기 오목렌즈는, 상기 광전달부로 제공될 상기 플라즈마 공정 챔버 내의 광의 입사각 범위를 수평 방향으로 확장시키고 상기 플라즈마 공정 챔버 내에 배치된 기판의 상부 영역의 광을 수집하도록, 수평 방향으로의 곡률이 상기 기판의 크기에 대응하는 광 입사각 범위를 갖도록 가공되고,상기 오목렌즈는 상기 플라즈마 공정 챔버의 서로 다른 위치에 각각 구비되고,복수 개의 상기 오목렌즈는 서로 다른 기판 크기에 대응하는 광 입사각 범위를 갖는 광학 분광 분석 장치
2 2
플라즈마를 발생하여 기판을 처리하는 플라즈마 공정 챔버;상기 플라즈마 공정 챔버에 마련된 투광부를 통해 상기 플라즈마 공정 챔버 내의 광을 수집하는 오목렌즈;상기 오목렌즈에 의해 수집된 광을 전달하는 광전달부; 및상기 광전달부를 통해 제공된 광을 분석하여 플라즈마 상태를 분석하는 분석부를 포함하고,상기 오목렌즈는, 상기 투광부의 외측에 설치되어 상기 플라즈마 공정 챔버의 내부로부터 상기 투광부를 통과한 광이 입사되고, 상기 플라즈마 공정 챔버 내의 광 중에서 상기 플라즈마 공정 챔버 내에 배치된 기판의 상부면 상의 광을 수집하도록, 수평 방향으로의 곡률이 상하 방향으로의 곡률보다 큰 구조를 가지며,상기 오목렌즈는, 수평 방향으로의 횡단면이 오목한 형상을 갖도록 가공되고, 상하 방향으로의 종단면이 직사각 형상을 갖도록 가공되며, 상하 방향으로 일정한 횡단면 형상을 갖도록 가공되며,상기 오목렌즈는, 상기 광전달부로 제공될 상기 플라즈마 공정 챔버 내의 광의 입사각 범위를 수평 방향으로 확장시키고 상기 플라즈마 공정 챔버 내에 배치된 기판의 상부 영역의 광을 수집하도록, 수평 방향으로의 곡률이 상기 기판의 크기에 대응하는 광 입사각 범위를 갖도록 가공되고,상기 오목렌즈는 상기 플라즈마 공정 챔버의 서로 다른 위치에 각각 구비되고,복수 개의 상기 오목렌즈는 서로 다른 기판 크기에 대응하는 광 입사각 범위를 갖는 플라즈마 처리 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.