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액막 두께 측정 기판, 액막 두께 측정 장치 및 액막 두께 측정 방법

  • 기술번호 : KST2020013126
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 액막 두께 측정 기판, 액막 두께 측정 장치 및 액막 두께 측정 방법에 관한 것이다. 본 발명의 액막 두께 측정 기판은, 기재; 기재 상에 형성되는 인가용 전극인 제1 전극; 제1 전극에 이격 배치되는 측정용 전극인 제2 전극; 제1 전극에 제2 전극보다 큰 거리로 이격 배치되는 측정용 전극인 제3 전극; 및 제1 전극과, 제2 전극 및 제3 전극의 사이에 배치되는 접지 전극을 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01B 7/06 (2006.01.01) G01R 19/00 (2006.01.01)
CPC G01B 7/06(2013.01) G01B 7/06(2013.01) G01B 7/06(2013.01) G01B 7/06(2013.01)
출원번호/일자 1020190046830 (2019.04.22)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-2158350-0000 (2020.09.15)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20200921) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 발송처리완료
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.04.22)
심사청구항수 19

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조형규 서울특별시 동작구
2 최치진 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김남식 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)
2 김한 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)
3 이인행 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.04.22 수리 (Accepted) 1-1-2019-0413000-35
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.09.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.10.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0019564-60
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.03.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0199719-48
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.05.18 수리 (Accepted) 1-1-2020-0497464-66
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.05.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0497465-12
10 등록결정서
Decision to grant
2020.09.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0629236-17
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
액막의 두께를 측정하기 위한 액막 두께 측정 기판으로서,기재;기재 상에 형성되는 인가용 전극인 제1 전극;제1 전극에 이격 배치되는 측정용 전극인 제2 전극;제1 전극에 제2 전극보다 큰 거리로 이격 배치되는 측정용 전극인 제3 전극; 및제1 전극과, 제2 전극 및 제3 전극의 사이에 이격 배치되는 접지 전극을 포함하며,제1전극은 x축 방향 및 x축 방향에 수직하는 y축 방향을 따라 접지 전극과 번갈아 반복적으로 배치되고,x축 방향을 따라 제2 전극, 제3 전극, 제2 전극를 포함하는 단위 그룹이 접지 전극과 번갈아 반복적으로 배치되며,제1 전극에서 흘러나와 액막의 유체를 경유하여 최인접하는 복수의 제2 전극 및 복수의 제3 전극의 전류값을 측정할 수 있는,액막 두께 측정 기판
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제1항에 있어서, 기설정된 기준 두께보다 얇은 액막에서, 제2 전극의 액막 두께 신호에 기초하여 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 기판
5 5
제1항에 있어서, 기설정된 기준 두께보다 두꺼운 액막에서, 제2 전극에서 측정하는 액막 두께 신호의 포화가 발생하고,제2 전극에서 측정하는 액막 두께 신호의 포화가 발생하면, 제3 전극의 액막 두께 신호에 기초하여 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 기판
6 6
제1항에 있어서, 제1 전극, 제2 전극 및 제3 전극은 Cu, Ag, Au, Pt, Mo, Ni 중 적어도 어느 하나를 포함하는 재질이고, 상기 기재는 폴리이미드(Polyimide) 재질인, 액막 두께 측정 기판
7 7
제1항에 있어서,기재는 연성 인쇄 회로 기판(FPCB)인,액막 두께 측정 기판
8 8
액막의 두께를 측정하기 위한 액막 두께 측정 장치로서,액막 두께 측정 장치는,기재;기재 상에 형성되는 인가용 전극인 제1 전극;제1 전극에 이격 배치되는 측정용 전극인 제2 전극;제1 전극에 제2 전극보다 큰 거리로 이격 배치되는 측정용 전극인 제3 전극;제1 전극과, 제2 전극 및 제3 전극의 사이에 배치되는 접지 전극; 및제1 전극에 전원을 인가하는 전원 인가부를 포함하며,제1전극은 x축 방향 및 x축 방향에 수직하는 y축 방향을 따라 접지 전극과 번갈아 반복적으로 배치되고,x축 방향을 따라 제2 전극, 제3 전극, 제2 전극를 포함하는 단위 그룹이 접지 전극과 번갈아 반복적으로 배치되며,제1 전극에서 흘러나와 액막의 유체를 경유하여 최인접하는 복수의 제2 전극 및 복수의 제3 전극의 전류값을 측정할 수 있는,액막 두께 측정 장치
9 9
제8항에 있어서,제1 전극에서 흘러나와 액막의 유체를 경유하여 제2 전극 및 제3 전극에 각각 전달되는 제1 전류값 및 제2 전류값을 기초하여 선택적으로 액막의 두께를 산출하는 산출부를 더 포함하는,액막 두께 측정 장치
10 10
제9항에 있어서,제1 전류값을 증폭시키는 제1 증폭기; 및제2 전류값을 증폭시키는 제2 증폭기를 더 포함하는,액막 두께 측정 장치
11 11
제9항에 있어서,기설정된 기준 두께보다 얇은 액막에서, 제2 전극의 액막 두께 신호에 기초하여 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 장치
12 12
제9항에 있어서, 기설정된 기준 두께보다 두꺼운 액막에서, 제2 전극에서 측정하는 액막 두께 신호의 포화가 발생하고,제2 전극에서 측정하는 액막 두께 신호의 포화가 발생하면, 제3 전극의 액막 두께 신호에 기초하여 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 장치
13 13
제9항에 있어서, 제2 전극 및 제3 전극에서 측정하는 액막 두께 신호가 모두 기설정된 기준 두께 미만의 값인 경우, 산출부는 제2 전극의 액막 두께 신호로 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 장치
14 14
제9항에 있어서, 제2 전극 및 제3 전극에서 측정하는 액막 두께 신호가 모두 기설정된 기준 두께 이상의 값인 경우, 산출부는 제3 전극의 액막 두께 신호로 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 장치
15 15
제9항에 있어서, 제2 전극 및 제3 전극에서 측정하는 액막 두께 신호가 모두 기설정된 기준 두께와 상이한 경우, 제2 전극 및 제3 전극에서 산출된 액막 두께의 평균 값으로 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 장치
16 16
액막의 두께를 측정하기 위한 액막 두께 측정 방법으로서,(a) 액막 내에 액막 두께 측정 기판을 배치하는 단계:(b) 전원 인가부를 통해 제1 전극에 전원을 인가하는 단계: 및(c) 산출부에서 제1 전극에서 흘러나와 액막의 유체를 경유하여 제2 전극 및 제3 전극에 각각 전달되는 제1 전류값 및 제2 전류값을 기초하여 선택적으로 액막의 두께를 산출하는 단계를 포함하며,액막 두께 측정 기판은,기재;기재 상에 형성되는 인가용 전극인 제1 전극;제1 전극에 이격 배치되는 측정용 전극인 제2 전극;제1 전극에 제2 전극보다 큰 거리로 이격 배치되는 측정용 전극인 제3 전극; 및 제1 전극과, 제2 전극 및 제3 전극의 사이에 배치되는 접지 전극을 포함하며,제1전극은 x축 방향 및 x축 방향에 수직하는 y축 방향을 따라 접지 전극과 번갈아 반복적으로 배치되고,x축 방향을 따라 제2 전극, 제3 전극, 제2 전극를 포함하는 단위 그룹이 접지 전극과 번갈아 반복적으로 배치되며,제1 전극에서 흘러나와 액막의 유체를 경유하여 최인접하는 복수의 제2 전극 및 복수의 제3 전극의 전류값을 측정할 수 있는,액막 두께 측정 방법
17 17
제16항에 있어서,기설정된 기준 두께보다 얇은 액막에서, 제2 전극의 액막 두께 신호에 기초하여 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 방법
18 18
제16항에 있어서, 기설정된 기준 두께보다 두꺼운 액막에서, 제3 전극에서 측정하는 액막 두께 신호의 포화가 발생하고,제3 전극에서 측정하는 액막 두께 신호의 포화가 발생하면, 제3 전극의 액막 두께 신호에 기초하여 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 방법
19 19
제16항에 있어서, 제2 전극 및 제3 전극에서 측정하는 액막 두께 신호가 모두 기설정된 기준 두께 미만의 값인 경우, 산출부는 제2 전극의 액막 두께 신호로 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 방법
20 20
제16항에 있어서, 제2 전극 및 제3 전극에서 측정하는 액막 두께 신호가 모두 기설정된 기준 두께 이상의 값인 경우, 산출부는 제3 전극의 액막 두께 신호로 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 방법
21 21
제16항에 있어서, 제2 전극 및 제3 전극에서 측정하는 액막 두께 신호가 모두 기설정된 기준 두께와 상이한 경우, 산출부는 제2 전극 및 제3 전극에서 산출된 액막 두께의 평균 값으로 액막 두께를 산출하는,액막 두께 측정 방법
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