1 |
1
샘플 패드 및 멤브레인들을 포함하는 진단 스트립;상기 진단 스트립을 덮는 상부 케이스; 및상기 진단 스트립을 지지하는 하부 케이스를 포함하되,상기 샘플 패드는 공유 샘플 패드 및 상기 공유 샘플 패드의 일 측면에 연결된 복수개의 분기 샘플 패드들을 포함하고,상기 상부 케이스는 상기 공유 샘플 패드를 노출시키는 제 1 개구를 갖는 제 1 시료 주입부를 포함하는 분기 구조의 진단 키트
|
2 |
2
제 1 항에 있어서,상기 제 1 시료 주입부의 하면의 일 부분은 상기 공유 샘플 패드와 접촉하고,상기 제 1 시료 주입부의 하면의 다른 일 부분은 상기 공유 샘플 패드와 이격되는 분기 구조의 진단 키트
|
3 |
3
제 1 항에 있어서,상기 공유 샘플 패드의 상면 중 적어도 일부는 상기 멤브레인들의 상면에 대하여 기울기를 가지는 분기 구조의 진단 키트
|
4 |
4
제 1 항에 있어서,상기 제 1 시료 주입부의 하면과 상기 멤브레인들의 상면 사이의 각도는 제 1 각도이고,상기 공유 샘플 패드의 상면과 상기 멤브레인들의 상면 사이의 각도는 제 2 각도이고,상기 제 1 각도는 상기 제 2 각도보다 큰 분기 구조의 진단 키트
|
5 |
5
제 1 항에 있어서,상기 공유 샘플 패드는 적어도 하나 이상의 공극을 포함하되,상기 공극은 원 또는 다각형의 모양을 가지는 분기 구조의 진단 키트
|
6 |
6
제 5 항에 있어서,상기 공극은 상기 분기 샘플 패드들 중 어느 하나에 인접하게 위치하는 분기 구조의 진단 키트
|
7 |
7
제 1 항에 있어서,상기 진단 스트립과 상기 하부 케이스 사이에 접착층을 더 포함하는 분기 구조의 진단 키트
|
8 |
8
제 1 항에 있어서,상기 진단 스트립은 상기 샘플 패드와 상기 멤브레인들 사이에 연결된 결합 패드들을 더 포함하는 분기 구조의 진단 키트
|
9 |
9
제 1 항에 있어서,상기 진단 스트립은 상기 멤브레인들의 적어도 일부에 중첩되게 연결된 흡수 패드들을 더 포함하는 분기 구조의 진단 키트
|
10 |
10
제 1 항에 있어서,상기 상부 케이스는 상기 분기 샘플 패드들 중 어느 하나를 노출시키는 제 2 개구를 갖는 제 2 시료 주입부를 더 포함하는 분기 구조의 진단 키트
|
11 |
11
제 1 항에 있어서,상기 상부 케이스는 상기 멤브레인들을 노출시키는 제 3 개구를 갖는 표시부를 더 포함하는 분기 구조의 진단 키트
|
12 |
12
제 1 항에 있어서,상기 상부 케이스는 상기 진단 스트립을 고정시키는 고정바들을 더 포함하는 분기 구조의 진단 키트
|
13 |
13
제 1 항에 있어서,상기 하부 케이스는 상기 샘플 패드의 하면을 지지하는 제 1 지지판; 및상기 멤브레인들의 하면을 지지하는 제 2 지지판들 및 지지바들을 포함하되,상기 제 1 지지판, 상기 제 2 지지판들 및 상기 지지바들은 서로 이격되는 분기 구조의 진단 키트
|
14 |
14
제 13 항에 있어서,상기 제 1 지지판은 제 1 부분들 및 제 2 부분을 포함하되,상기 제 1 부분들의 상면은 상기 멤브레인들의 상면과 평행하고,상기 제 2 부분의 상면은 상기 멤브레인들의 상면에 대하여 기울기를 가지는 분기 구조의 진단 키트
|
15 |
15
제 13 항에 있어서,상기 하부 케이스는 상기 제 1 지지판을 지지하는 제 1 지지벽;상기 제 2 지지판들을 지지하는 제 2 지지벽들; 및상기 진단 스트립의 측면을 지지하는 제 3 지지벽들을 더 포함하는 분기 구조의 진단 키트
|